工序質(zhì)量控制與制程能力分析-展示頁
2025-02-12 22:33本頁面
【正文】 | u | uα則拒絕原假設(shè) Ho g. 現(xiàn) | u | = ,故應(yīng)拒絕原假設(shè) Ho e. 結(jié)論 : f. 當日產(chǎn)品厚度已發(fā)生顯著變化 ,必須從工藝上爭取糾正措施 ,使生產(chǎn)產(chǎn)品的分布中心恢復(fù)到原有水平 . ? 如果已知兩個母體分別服從正態(tài)分布 N (μ1 。 給定的技術(shù)要求 T ( 公差 ) 比值 — 衡量過程能力 , 滿足工藝技術(shù)要求程度指標 — Cp Cp = = TU TL 6 σ T 6 σ TL TU 分布中心與公差中心重合 ?想一想 : 如果 T 的中心 ( 公差中心 ), 與 6 σ之中心不重合時 , CP會是一種怎樣的值 , 不重合時 CP該如何考慮呢 ? TL TU Σ T/2 M μ 分布中心與公差中心不重合 —— 偏移量 ε : ε =｜ Mμ｜ 公差中心 M 與分佈中心 μ 之差值 ? 偏移是過程中存在甚麼因素的影響 ? CP 與不良率有 甚麼關(guān)係 ? 三、過程能力指數(shù)與不合格品率 1. 假定 X≧ TL為合格品 , 那麼 XTL時為不合格品 , 如圖示 ∞ AreaT= 陰影部份的面積即為不合格品 , 查表可求出 ∞ TL μ Area1 = Φ ( ) TL – μ σ 即 PL = P( X TL ) = Φ ( ) TL – μ σ μ – TL之不同值 (可以用 σ為單位來度量 )不合格品率 PL 也不同 , 因此可定義過程能力指數(shù) CPL = μ – TL 3 σ + ∞ Area1 2. 假設(shè) X ≦ TU 為合格品 ,那麼 X TU 時為不合格品 ∞ Area1= Area2 Area1 + ∞ ∞ μ TU 陰影部份的面積查表可求 : Area1 = AreaT Area2 = 1 Φ ( ) TU – μ σ 不合格品率 PU = P( X TU ) = 1 Φ ( ) TU – μ σ 由上可知 : TU – μ 的不同值 ,會有不同的不合格品率 PU, 因此 ,定義過程能力指數(shù) CPU = TU – μ 3 σ + ∞ 3. 假設(shè)特性 X 規(guī)格為 ( TL , TU ), 當特性值 X 在 (TL , TU ) 為合格 , 那麼 X TL 或 X TU 即為不合格品 4. 如圖示 : Area3 ∞ ∞ Area2 Area1 TL μ TU 陰影部份即為不合格品之率 : P = PL + PU = P( X TL ) + P( X TU ) a). 當公布中心 μ 與公差中心 M 重合時 M = μ PL = PU b). 當 M μ 則 : P( X TL ) + P( X TU ) 不合格品主要出現(xiàn)在 質(zhì)量上限 T ∞ TL M μ TU Area + ∞ c). 當 M μ 則 : P( X TL ) + P( X TU ) 不合格品主要出現(xiàn)在 達不到規(guī)格之下限部份 所以可定義過程能力指數(shù) CPK = min (CPU , CPL) = min ( , ) TU – μ 3 σ μ – TL 3 σ = min ( , ) μ – M +T/2 3 σ M +T/2 μ 3 σ = + min ( , ) = μ – M 3 σ M μ 3 σ T 6 σ T 6 σ ｜ Mμ｜ 3 σ T 6 σ = =( 1K ) Cp ( K = ) K
語文相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1