統(tǒng)計過程控制培訓(xùn)教材(ppt81頁)-展示頁
2025-02-12 06:34本頁面
【正文】 控制圖 重要產(chǎn)品中使用 計數(shù)值數(shù)據(jù) Pn 不合格品數(shù)控制圖 . 計件數(shù)據(jù) p 不合格品率控制圖 計件數(shù)據(jù) C 缺陷數(shù)控制圖 計點數(shù)據(jù) U 缺陷率控制圖 單位面積、長度的缺陷數(shù) x~xxCASE STUDY 質(zhì)量特性 樣本數(shù) 選用什么圖 長度 5 重量 10 乙醇比重 1 電燈亮／不亮 100 每一百平方米的臟點 100平方米 計量型數(shù)據(jù)控制圖的繪制 一、準(zhǔn)備工作 建立適合于實施控制圖的條件 定義過程，確定需控制過程 確定需控制特性 確定測量系統(tǒng) 減少不必要的變差 二、收集數(shù)據(jù)（以 XR 圖為例） 步驟 1：選擇子組容量、頻率、子組數(shù)，收集數(shù)據(jù) 子組容量 n=4~5，子組數(shù) K=20~25； nk≥100 步驟 2：建立圖的原始記錄 步驟 3：計算每組數(shù)據(jù) ， Ri （ i=1,2…… ， K） （ j=1,2…… ， n） Ri= Ximax Ximin 步驟 4：選擇圖的縱坐標(biāo)刻度。求該零件的長度為 165mm以下的概率是多少？ 解： 零件長度服從正分布，于是有： 例 2 已知某種燈泡的壽命服從平均數(shù)為 1500小時、標(biāo)準(zhǔn)偏差為 100小時的正態(tài)分布。簡稱“標(biāo)準(zhǔn)化”公式。 正態(tài)分布表及其用法 我們把 μ=0， σ=1的正態(tài)分布稱為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布，記為 X ~ N（ 0， 12）。 拐點 拐點 0－ 2σ － 4σ － 1σ － 3σ ＋ 1σ ＋ 2σ ＋ 3σ ＋ 4σ σ % % % % 正態(tài)分布的參數(shù) （ 1）平均值（ μ） 此參數(shù)是正態(tài)分布曲線的位置參數(shù)，即它只決定曲線出現(xiàn)頻率最大數(shù)值位置而不改變正態(tài)曲線的形狀。 統(tǒng)計數(shù)據(jù)的分布 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 但它們形成一個模型 ,若穩(wěn)定 ,可以描述為一個分布 分布可以通過以下因素來加以區(qū)分 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 或這些因素的組合 位置 分布寬度 形狀 特殊原因 ?過程中偶然發(fā)生的某個環(huán)節(jié)的特殊變異： 如： 操作人員的更換 刀具崩刃 新的原材料 操作程序變更 氣溫驟降 …… 的其中一種 或幾種 在特殊原因的影響下，過程的分布會改變 位置（均值）改變 分布寬度（最小值與最大值之間的距離）改變 形狀改變（偏斜） Data of measurement of screws（螺絲直徑的測量） Histogram of the data（數(shù)據(jù)的直方圖） 2 3 4 5 6 7 8 30 26 17 13 10 0 0 20 30 頻率 次數(shù) 1 Normal Distribution（正態(tài)分布） 222)(21)( ???????xexf when n→∞ it turns to σ —— standard deviation 181。 ? 測量：視覺誤差、心理障礙 ? 維護(hù)：潤滑程度，替換部件 ? 環(huán)境：溫度、濕度、光線、電源電壓波動 這些波動源對加工的影響最后都集中反映在直徑 測量值 普通原因 ?隨著時間的推移具有穩(wěn)定性的可重復(fù)的分布過程中許多變差的原因。 ? 材料：硬度不同，成份不同，產(chǎn)地不同。 ? 機(jī)器：零件的磨損和老化。 ? 產(chǎn)品間的差異是通過適當(dāng)?shù)馁|(zhì)量特性（過程特性和產(chǎn)品特性）表現(xiàn)出來的，因此 ?選好質(zhì)量特性 ?準(zhǔn)確地測量出來 是兩項重要的基礎(chǔ)工作。 ? 產(chǎn)品間的差異就是波動，它時隱時現(xiàn)、時大時小，時正時負(fù)。 過程控制實質(zhì)上就是對 5MIE的控制。Statistical Process Control 統(tǒng)計過程控制 根據(jù) Daimler Chrysler, Ford, GM公司技術(shù)手冊編寫 統(tǒng)計學(xué)的基本概念 數(shù)據(jù)： （ 1）計量值數(shù)據(jù) （ 2）計數(shù)值數(shù)據(jù) （ 3）數(shù)據(jù)的特征值 平均值 X 中位數(shù) X 極 差 R 標(biāo)準(zhǔn)差 S 計件 計點
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