千分尺檢定規(guī)程-嘉興梅林精密機械有限公司企業(yè)標準-展示頁
2025-07-24 22:10本頁面
【正文】 脫鉻和毛刺及影響外觀質量的其它缺陷。8. 檢定結果處理和檢定周期 經檢定符合本規(guī)程要求的千分尺，填發(fā)檢定結果通知書。 檢定方法量桿的尺寸及工作面的平行度在光學計或測長機上采用4等量塊用比較法檢定，對于平工作面的量桿采用球面測帽在JJG2195的5點上進行檢定，各點尺寸偏差均不超過JJG2195的規(guī)定，5點中的最大值與最小值之差即為量桿兩工作面的平行度。3μm。測量上限大于150mm的外徑千分尺可以只檢定測微頭的示值誤差，用5等或相應等的專用量塊借助相應準確度的專用檢具按0~25mm的千分尺受檢點檢定，按JJG2195圖所示。使用量塊檢定時，依次按尺寸約為上下限的中間尺寸，間隔為微分筒1/4轉的四組量塊進行，每組量塊以其同一部位與放入工作面間的4個位置上按微分筒分別讀數(shù)，并求出其差值，以四組差值中最大值作為被檢千分尺兩工作面的平行度。兩工作面的平行度也可用其他相應準確度的儀器檢定。5. 工作面的平行度 要求當外徑千分尺鎖緊裝置緊固與松開時，千分尺兩工作面的平行度應不大于JJG2195規(guī)定。4. 工作面的平面度 要求，一級外徑千分尺工作面的平面度不大于1μm，板厚千分尺工作面的平面度應不大于1μm。3. 工作面的表面粗糙度 要求 外徑千分尺和校對量桿的工作面的表面粗糙度Ra ，壁厚、。 微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對位置 要求當測量下限調整正確后，微分筒上的零刻線與固定套管縱刻線對準時，微分筒的端面與固定套管毫米刻線右邊緣應相切，若不相切。 要求。 檢定方法指針末端與刻度盤短刻線的相對位置可用目力估計，指針末端上表面至刻度盤表面的距離應用塞尺進行檢定，上述檢定應在刻度盤上均勻分布的三個位置上進行，指針末端與刻度盤的刻線的寬度差在工具顯微鏡上檢定。 檢定方法在工具顯微鏡上檢定，微分筒或刻線盤上的刻線寬度至少任意抽檢三條刻線。 檢定方法，檢定時，使工作面與測力計的球工作面接觸后進行。按上述方法測出測砧與測微螺桿在另一方位上的偏移量y，測砧與測微螺桿工作面的相對偏移量Δ按下式要求的Δ=√x2+y2此項檢定也可用其它專用檢具檢定。 測砧與測微螺桿工作面相對偏移 要求千分尺測砧與測微螺桿工作面的相對偏移量應不大于JJG2195標準中的規(guī)定。 檢定方法 測微螺桿的軸向串動，用杠桿千分表檢定，檢定時，使杠桿千分表與測微螺桿測微量面接觸，沿測微螺桿軸向方向分別往返加力3N~5N。 檢定方法試驗和目力觀察 測微螺桿的軸向串動和徑向擺動。 可調或可換測砧的調整或裝卸應順暢，作用要可靠，鎖緊裝置的作用應切實有效。 檢定方法：目力觀察。 千分尺上應標有分度值、測量范圍、制造廠名（或廠標）及出廠編號。嘉興梅林精密機械有限公司企業(yè)標準千分尺檢定規(guī)程QJ/ML110120001. 目的本規(guī)程規(guī)定了千分尺檢定規(guī)程本規(guī)程適用于本公司千分尺計量檢定2. 技術要求和檢定方法 外觀 要求 千分尺及其校對用的量桿不應有碰傷、銹蝕、帶磁或其他缺陷，刻線應清晰、均勻。 千分尺應附有調整零位的工具測量上限大于25mm的千分尺應附有校對用的量桿。 使用中的和修理后的千分尺及其校對用的量桿不應有影響使用準確度的外觀缺陷。 各部分相互作用 要求 微分筒轉動和測微螺桿的移動應平穩(wěn)無卡住現(xiàn)象。 帶有表盤的千分尺，表針移動應靈活，無卡滯現(xiàn)象。 要求：。 測微螺桿的徑向擺動示用杠桿千分表檢定，檢定時，將測微螺桿伸出尺架10mm后，使杠桿千分表接觸測微螺桿端部，再往杠桿千分表測量方向加力2N~3N，然后以相反方向加力2N~3N，這一檢定應在相互垂直的兩個徑向方向檢定。 檢定方法在平板上用杠桿百分表檢定，對于測量范圍大于300mm的千分尺用百分表檢定，檢定時借助千斤頂將千分尺放置在平板上，根據JJG2195要求，調整千斤頂使千分尺的測微螺桿與平板工作面平行，然后用百分表測出測砧與測微螺桿在這方位上的偏移量x，然后將尺架側轉90176。 測力 要求千分尺的測力（指工作面與球面接觸時所作用的力）應在6N~10N范圍內。 刻線寬度及寬度差 要求~，~。 指針與刻線盤相對位置 要求板厚千分尺刻度盤上的指針末端應蓋住刻線盤短刻線長度的30~80%，指針末端與刻度盤刻線的寬度應一致。 微分簡錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離。 檢定方法在工具顯微鏡上檢定，檢定時在微分筒轉動一周內不少于三個位置進行。 檢定方法當測量下限調整正確后，使微分筒錐面的端面與固定套管任意毫米刻線的右邊緣相切時，讀取微分筒的零刻線與固定套管縱刻線的偏移量。 檢定方法用表面粗糙度比較樣塊用比較法檢定。 檢定方法用二級平晶用技術光波干涉法檢定，對于使用中的可用1級刀口尺用光隙法檢定，對于8mm的。 檢定方法測量上限至100mm的
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