20xx屆中考數(shù)學(xué)總復(fù)習(xí)第9課時(shí)平面直角坐標(biāo)系及函數(shù)的概念與圖象課件-展示頁(yè)
2025-06-24 14:48本頁(yè)面
【正文】 x,y)在 y軸上 ?x=0,y為任意實(shí)數(shù) 。 點(diǎn) P(x,y)在第三象限 ?x0,y0。第 9課時(shí) 平面直角坐標(biāo)系及函數(shù)的概念與圖象 基礎(chǔ)自主導(dǎo)學(xué) 考點(diǎn)梳理 自主測(cè)試 考點(diǎn)一 平面直角坐標(biāo)系與點(diǎn)的坐標(biāo)特征 一般地 ,在平面內(nèi)確定物體的位置需要 兩 個(gè)數(shù)據(jù) ,常見(jiàn)的有 :坐標(biāo)系 、方位角與距離等 . 由平面內(nèi)具有公共 原點(diǎn) 且相互 垂直 的兩條數(shù)軸所構(gòu)成的圖形叫做平面直角坐標(biāo)系 .其中 ,水平的數(shù)軸叫做 x軸 或橫軸 (習(xí)慣上取向 右為正方向 ),豎直的數(shù)軸叫做 y軸或 縱軸 (習(xí)慣上取向 上 為正方向 ),兩軸的交點(diǎn) O(0,0)稱為 坐標(biāo)原點(diǎn) . 基礎(chǔ)自主導(dǎo)學(xué) 考點(diǎn)梳理 自主測(cè)試 在平面直角坐標(biāo)系中 ,x軸和 y軸把坐標(biāo)平面分成 四 個(gè)象限 (每個(gè)象限都不包括坐標(biāo)軸上的點(diǎn) ),四個(gè)象限的位置如下圖 : 基礎(chǔ)自主導(dǎo)學(xué) 考點(diǎn)梳理 自主測(cè)試 在平面直角坐標(biāo)系中 ,由坐標(biāo)平面內(nèi)一點(diǎn)向 x軸 (或 y軸 )作垂線 ,垂足在 x軸 (或 y軸 )上的坐標(biāo)叫做這個(gè)點(diǎn)的 橫 坐標(biāo) (或縱坐標(biāo) ).這個(gè)點(diǎn)的橫坐標(biāo)、縱坐標(biāo)合在一起叫做這個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo) (橫坐標(biāo)在 前 ,縱坐標(biāo)在 后 ,中間用 “,”隔開(kāi) ).如下圖中點(diǎn) P的坐標(biāo)為 (3,2). 基礎(chǔ)自主導(dǎo)學(xué) 考點(diǎn)梳理 自主測(cè)試 點(diǎn) P(x,y)在第一象限 ?x0,y0。 點(diǎn) P(x,y)在第二象限 ?x0,y0。 點(diǎn) P(x,y)在第四象限 ?x0,y0. 點(diǎn) P(x,y)在 x軸上 ?y=0,x為任意實(shí)數(shù) 。 點(diǎn) P(x,y)在坐標(biāo)原點(diǎn) ?x=0,y=0. 基礎(chǔ)自主導(dǎo)學(xué) 考點(diǎn)梳理 自主測(cè)試 考點(diǎn)二 特殊點(diǎn)的坐標(biāo)特征 點(diǎn) P(x,y)關(guān)于 x軸的對(duì)稱點(diǎn) P1的坐標(biāo)為 (x,y)。關(guān)于原點(diǎn)的對(duì)稱點(diǎn) P3的坐標(biāo)為 (x,y). 平行于 x軸 :橫坐標(biāo) 不同 ,縱坐標(biāo) 相同 ?？梢匀〔煌瑪?shù)值的量叫做 變量 . 一般地 ,在某一變化過(guò)程中有兩個(gè)變量 x和 y,如果對(duì)于
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