材料表面分析技術(shù)ppt課件-展示頁
2025-05-10 00:02本頁面
【正文】 法是將測得的俄歇電子譜與純元素的標(biāo)準(zhǔn)譜圖比較 ， 通過對比峰的位置和形狀來識別元素的種類 。 俄歇譜儀示意圖 直接譜與微分譜 ? 直接譜 ：俄歇電子強(qiáng)度[密度 (電子數(shù) )]N(E)對其能量 E的分布 [N(E)~E]。由此可見， 俄歇電子能譜對輕元素的檢測特別敏感和有效。 俄歇分析的選擇 ? 對于 Z≤14 的元素，采用 KLL俄歇電子分析； ? 14Z42的元素，采用 LMM俄歇電子較合適； ? Z42時，以采用 MNN和 MNO俄歇電子為佳。 ? 將被測試樣的衍射花樣與一組 標(biāo)準(zhǔn)單相物質(zhì) 的衍射花樣逐一對比，從而判斷其相組成。 ? 在給定波長的 X射線照射下，每種晶體物質(zhì)都形成自己特定的 衍射花樣 。材料表面分析技術(shù) ?外觀檢測 ?成分及組織結(jié)構(gòu)分析 ?物理及力學(xué)性能檢測 ?耐蝕性檢測 ?耐磨性檢測 一、外觀檢測（ visual examination ） 含義：肉眼、樣板或放大鏡 涂層外觀檢測要求： ? 涂層表面保持干凈； ? 檢測要全面、細(xì)致； ? 依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)（ QJ ）或技術(shù)要求。 不平整、 針孔 、氧化、脫皮、 飛濺 、表面裂紋、 剝落、 麻點(diǎn) 、 鼓泡 、 縮孔 、 疏松 、斑點(diǎn)、 毛刺 、 擦傷 等 表面缺陷的種類及特點(diǎn)： 涂層表面缺陷（ surface defects ）檢測 二、表面結(jié)構(gòu)的表征 ?表面成分分析 X射線光電子能譜、俄歇電子能譜、 低能離子衍射普儀 ?表面結(jié)構(gòu)測定 X射線衍射、 電子衍射、中子衍射等 ?表面形貌觀察 光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡等 X射線衍射（ XRD） ? 各相物質(zhì)均具有其獨(dú)具的 晶體結(jié)構(gòu) 。 ? 對于復(fù)相物質(zhì)，其衍射花樣是各相物質(zhì)衍射花樣的 機(jī)械疊加 。 X射線衍射分析的應(yīng)用 ?物相定性分析 ?物相定量分析 ?點(diǎn)陣常數(shù)測定 ?應(yīng)力測定 ?晶體取向測定 XRD物相定性分析的過程 ?獲得衍射花樣 ?計(jì)算面間距 d 值和測定相對強(qiáng)度 Ⅰ/Ⅰ 1 ?檢索 PDF卡片和核對 PDF卡片 ?分析判定 XRD定量分析 常用的物相定量分析分析方法有三種： 1 外標(biāo)法（單線條法） 它是用分析相的純樣品的某一衍射線為標(biāo)準(zhǔn) 2 內(nèi)標(biāo)法 用摻入試樣內(nèi)的某已知物相的衍射線為標(biāo)準(zhǔn) 3 直接對比法 用試樣中另一相的衍射線為標(biāo)準(zhǔn) TiC涂層的 XRD的譜線 俄歇電子能譜分析（ AES） ? 俄歇電子能譜
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