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正文內(nèi)容

絕緣的非破壞性試驗二(1)-展示頁

2025-05-08 07:03本頁面
  

【正文】 sUqW ???放電能量的大小對電介質(zhì)的老化速度有很大影響 16 ? 局部放電的其它表示方法 為了表征局部放電在一定期間內(nèi)的平均綜合效應(yīng) , 還提出了各種累積參數(shù) , 如 平均放電電流 , 放電功率 等 。 外施電壓是作用在 Ca上的 , 當 Cg上的電壓變動 (UgUr)時 , 會造成外施電壓的變化量 ?U應(yīng)為 ? ? ? ?? ?babagrgr CCCCCUUq ????? /? ? ? ?bargb CCUUCU ???? /aC12 由此兩式得總電容上的電壓變化量 ?U: 相應(yīng)的電荷變化量 ?q: 把 ?U 式代入上式 ?q , 可得 ? ? ? ?bargb CCUUCU ???? /? ?babgagrb CCCCCCqCU ?????? /? ?? ?? ?gbgba CCCCCUq ????? /? ?bgbr CCCqq ????? /? ? ? ?? ?babagrgr CCCCCUUq ????? /aCqU ??13 真實放電量: ?qr, 是無法測量的 ( 1) 視在放電量: ?q, 其表達式中的量都是可以測得的 。 外加電壓仍在上升 , Cg上的電壓也順勢而上升 , 當它再次升到Ug時 , Cg再次放電 , 電壓再次降到 Ur, 放電再次熄滅 ? ?bgbsg CCCuu ?? /9 Cg上的電壓從 Ug突變?yōu)?Ur( 均絕對值 ) 的一瞬間 , 就是局部放電脈沖的形成的時刻 , 此時通過 Cg有一脈沖電流 局部放電時氣隙中的電壓和電流的變化 10 當 Cg放電時 , 放電總電容 Cg?: Cg?上的電壓變化為 (Ug?Ur), 故 一次脈沖放出的電荷?qr: 當 Ca Cb, Cg Cb, Ur = 0時 , ?qr ≈UgCg ? ?? ?babagg CCCCCC ???? /? ? ? ?? ?babagrgr CCCCCUUq ????? /aC11 在實際試驗時 , 式中所表達的各個量 , 都是無法實測得到的 。 于是 Cg上的電壓一下子從 Ug 下降到Ur, 然后放電熄滅 。 局部放電產(chǎn)生的一些不良效應(yīng) , 如不良化合物的產(chǎn)生 , 就可以慢慢地損壞絕緣 , 最后可導(dǎo)致整個絕緣被擊穿 , 發(fā)生突發(fā)性故障 局部放電測量 4 局部放電的特點 : 當介質(zhì)內(nèi)部發(fā)生局部放電時 , 伴隨著發(fā)生許多現(xiàn)象 。高電壓技術(shù) 高電壓工程系 何正浩 2 第 10講 絕緣的非破壞性試驗(二) 與破壞性試驗(一) 3 局部放電的概念: 簡稱為 PDPartial Discharge, 指由于電氣設(shè)備內(nèi)部絕
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