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正文內(nèi)容

aoi自動光學(xué)檢測設(shè)備導(dǎo)入可行性分析報告-展示頁

2024-12-04 19:48本頁面
  

【正文】 好 可靠性 差 較好 準(zhǔn)確性 因人而異 誤點率高 通過使用 AOI檢測設(shè)備作為減少 PCBA缺陷的工具 ,在 SMT裝配工藝過程的早期查找 和消除錯誤 ,以實現(xiàn)良好的過程控制 .早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝 配階段 ,AOI將減少修理成本將避免報廢不可修理的電路板 . 0201chip與 IC常見缺陷問題 : 漏件:使用本體框,可測出 ? 短路:使用短路框,可測出 ? 側(cè)立:使用本體框,可測出 ? 立碑:使用本體框,可測出 反白:使用反白框,可測出 二、 AOI檢測設(shè)備可檢測的項目 ? 6、移位:使用本體框,可測出 ? 7、錯件:零件有絲印,可測出 ? 8、假焊:使用焊點檢測框,處于臨界點之內(nèi)不能判定為不良,處于臨界點之外可判定出不良 ? 9、少錫:使用焊點檢測框,處于臨界點之內(nèi)不能判定為不良,處于臨界點之外可判定出不良 ? IC翹腳:使用影像框,可測出 ? 1極性反 :零件上有標(biāo)記,使用極性框, 可測出 ? 1零件表面上錫:使用本體框,可測 ? 1零件破損:上表面破損在檢測框內(nèi)可測, 側(cè)面或內(nèi)部不可測 ? 1漏錫:焊盤未氧化,可測; 焊盤氧化 ,不可測; 注意:對于以上可被AOI檢測到的缺陷。 例如:缺
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