礦物材料現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)3x熒光分析-展示頁(yè)
2024-10-25 02:42本頁(yè)面
【正文】 ，會(huì)在一定時(shí)間內(nèi)發(fā)射出波長(zhǎng)比入射光長(zhǎng)的光，如果這個(gè)時(shí)間比較短，這種光就稱(chēng)為熒光。熒光由一種能發(fā)熒光的礦物 ?? 螢石 (fluosrite)而得名。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 3 1 方法特點(diǎn) 2 分析原理 3 儀器構(gòu)成 4 WDSXRF 5 EDSXRF 6 定量分析 第二部分 . X熒光成分分析 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 4 1 方法特點(diǎn)（ 1） 第二部分 . X熒光成分分析 XRF是一種最有效的無(wú)損成分分析手段之一。 ? Cons: Does not assist in obtaining chemical information Not applicable to identifying the first 11 elements. Interfering xray lines by matrix effects can possibly plicate analysis. 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 7 1 方法特點(diǎn)（ 4） 第二部分 . X熒光成分分析 樣品要求及處理方法 ： 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 8 1 方法特點(diǎn)（ 4） 第二部分 . X熒光成分分析 儀器外觀 ： 依據(jù)光源系統(tǒng)的不同、探測(cè)方式的不同，儀器的大小、形狀有一定差異。即具有各種波長(zhǎng)的 X射線， 可分析前面所列范圍的所有元素。因此只能分析部分元素。 同步輻射光源 ： 光源的能量更大，對(duì)后續(xù)的二次 射線檢測(cè)很有利，所以分析精度更高，但儀 器造價(jià)很昂貴。holes39。 能量色散型 XRF: ENERGYDISPERSIVE XRF （ EDS－ XRF） 通過(guò)分析樣品在入射 X射線作用下產(chǎn)生的二次 X射線 (熒光射線 )的 能量 ，來(lái)定性或定量分析樣品的元素組成及含量。 d is a constant characteristic of every crystalline substance (. the xray crystal)。 Ru, when detected by different crystal. 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 22 4 WDSXRF(7) 第二部分 . X熒光成分分析 Analyzing Procedure: In order to make the determination more accurate, we should also measure their acpanying peaks. 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 23 4 WDSXRF(8) 第二部分 . X熒光成分分析 Analyzing Procedure: 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 24 4 WDSXRF(9) 第二部分 . X熒光成分分析 ? WDS was introduced in the early 1950s. ? WDS spectrometer systems employ diffraction by a single crystal to separate characteristic wavelengths emitted by the sample. ? IN WDS, polychromatic radiations emanating from the Xray tube impinge on the specimen and reject K, L, … level electrons from atoms of the elements present in the specimen. This results in the emission of fluorescence radiation (K, L, …. series lines) which are dispersed by an appropriate crystal according to the wellknown Bragg equation. 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 25 4 WDSXRF(10) 第二部分 . X熒光成分分析 ? In order to measure xrays of different energies (wavelengths), the position of the diffracting crystal and detector must be mechanically changed relative to the fixed specimen to alter the angles. ? To cover the range of Xray wavelength to be measured, several different diffraction crystals must be utilized. ? The detectors used will often be a flowproportional detector a gasfilled scintillator and photo multiplier tube 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 26
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