來料檢驗(yàn)規(guī)范-展示頁
2025-05-05 09:56本頁面
【正文】 合格品的存放： 在抽檢過后，此批物料需退回供應(yīng)商，應(yīng)將抽到不合格的樣品，另外包裝并作明確標(biāo)識，放回原包裝內(nèi)，以便日后供應(yīng)商復(fù)核。 深圳市安吉龍科技有 限公司 文件編號： QADWI007 擬制：唐 鋒 缺陷類別 代碼 AQL 主要缺陷 A 次要缺陷 B 標(biāo)題： QA 檢驗(yàn)規(guī)范 來料檢驗(yàn) 版 號： 生效日期： 2021/09/01 頁 碼： 類別 項(xiàng)次 檢驗(yàn)項(xiàng)目 不良敘述 缺陷分類 檢驗(yàn)方式 電 阻 1 有污 引腳有污，但易擦掉 元件腳有污，很難擦掉 B A 目檢 目檢 2 氧化 ，易上錫 B 目檢 /試驗(yàn) ，已不易上錫 A 目檢 /試驗(yàn) 3 破損 看到 B 目檢 ，色環(huán)及保護(hù)層脫落且在正面 A 目檢 4 絲印 ，但可辯認(rèn) B 目檢 ，無法辯認(rèn) A 目檢 5 型號 來料、型號不對或同一包裝中有兩種以上的型號 A 對 BOM 單 6 精度 ，金色誤差超出177。 10% A 萬用表 BOM 單不同 A 萬用表 /對 BOM 7 阻值 測試阻值與所標(biāo)色環(huán)值不同 A 萬用表 電 容 1 有污 ，有污但可擦掉，且可上錫 B 目檢 /試驗(yàn) ，很難擦掉 A 目檢 2 氧化 ，可上錫 B 目檢 /試驗(yàn) ，已難上錫 A 目檢 /試驗(yàn) 3 破損 ，影響外觀，有輕微破損 B 目檢 A 目檢 4 絲印 、模糊，可辯認(rèn) B 目檢 、標(biāo)錯(cuò) A 目檢 /對 BOM 印模糊不清，難以辯認(rèn) A 目檢 5 體積 電容體積型號與 BOM 要求不同 A 對 BOM 9 容量 實(shí)測容量與本身所標(biāo)容量不同 A 電容表 7 精度 誤差超出了 J177。 10%、 z % 、 M177。錫球發(fā)暗、發(fā)黑。錫球變形、脫落 A 目檢 3 絲印 IC 上邊絲印用手用力擦過 5 次，絲印模糊 A 手擦 +80 20 深圳市安吉龍科技有限公司 標(biāo)題： QA 檢驗(yàn)規(guī)范 來料檢驗(yàn) 文件編號： QADWI007 擬制：唐 鋒 版 號： 生效日期： 2021/09/01 頁 碼： 類別 項(xiàng)次 檢驗(yàn)項(xiàng)目 不良敘述 缺陷分類 檢驗(yàn)方式 4 5 型號 破損 同一包裝內(nèi)有兩種以上的型號 殼體裂痕、破損、 A A 目檢 /對 BOM 目檢 /對 BOM 晶 振 1 氧化 引腳、外殼有氧化 A 目檢 /對 BOM 2 絲印 絲印模糊不清，用手可擦掉 A 目檢 3 型號 同一包裝內(nèi)有兩種以上的型號 A 手擦 變 壓 器 1 氧化 引腳氧化，不能上錫 A 目檢 /試驗(yàn) 2 破損 變壓器引出線或線圈本身出現(xiàn)了破損 A 目檢 3 體積 試裝 PCB 板，配合不好或型號不對 A 試裝 /對 BOM 4 焊接 引出腳與繞線引出頭焊接不良 A 萬用表 5 測試 測試初次級之間電阻值為零 A 萬用表 可 調(diào) 電 阻 電 位 器 1 氧化 引腳有氧化，難上錫 A 目檢 /試驗(yàn) 2 體積 試裝 PCB 板，配合不好或型號不對 A 試裝 /對 BOM
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