外文翻譯--自適應(yīng)測試處理過程可變性中文-展示頁
2025-05-27 05:59本頁面
【正文】 量組用于獲得一個(gè)估計(jì)的最低工作電壓 (minVDD)、這是美聯(lián)儲(chǔ)期待完整的向量組中使用的通過 /失敗標(biāo)準(zhǔn)。例如 ,過度的后果在封裝測試可能會(huì)引發(fā)更多嚴(yán)格 的晶片測試。共享數(shù)據(jù)庫和離線分析系統(tǒng)的核心部分的自適應(yīng)檢測。粒度的變化是廣泛的可能會(huì)被應(yīng)用在 subdie 水平 ,在這種情況下 ,不同塊的芯片上可以有測試響應(yīng)的改變在其他塊在另一個(gè)極端 ,檢測后統(tǒng)計(jì)分析可以用來優(yōu)化測試未來的產(chǎn)品。這種方法當(dāng)變化很小時(shí)比較滿意 ,但當(dāng)變化比較大時(shí) ,要么由于過多數(shù)量導(dǎo)致失敗要么過于嚴(yán)格的限制 ,或者有大量的測試沒有 進(jìn)行 ,因?yàn)椴捎昧藢捤傻南拗苼頊p少產(chǎn)量損失。根據(jù)沉降物 ,限制是可以調(diào)整的 ,移除無效的測試、改變測試順序等等。 傳統(tǒng)測試與自適應(yīng)測試比較 傳統(tǒng)上 ,測試范圍 ,內(nèi)容和流靜態(tài)設(shè)置 ,只有偶爾基于離線分析更新。傳統(tǒng)方法背景下它是非常難去做變化巨大的測試。一個(gè)類似的爭論在住宿的可變性是不足以允許傳統(tǒng)的警衛(wèi)帶提供有用的部分。解決這些問題已經(jīng)有很多基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的設(shè)計(jì)研究 ,無論大門水平和高度水平。 雖然果效差異的原因可以理解 ,對硅預(yù)測的結(jié)果是另一個(gè)重大的挑戰(zhàn)。這將轉(zhuǎn)化改變閾值電壓 (VTH)、閾下的泄 漏電流 (IsubTH)和有功電流 (IDS)。鑒于一個(gè)二氧化硅分子約 nm,氧化物厚度只包含四個(gè)或五個(gè)分子。為了小減幾何形圖 ,它變得越來越難控制這些屬性。設(shè)備參數(shù)是由物理方法設(shè)備在生產(chǎn)過程中形成的。最后 ,對于它未來的發(fā)展做出了討論。 Test of Computers 本文描述了自適應(yīng)測試在日益增長的需要和成本效益的 IC 動(dòng)態(tài)測試和有差別地管理 生產(chǎn)工藝變化中的應(yīng)用發(fā)展。中文 4440 字 自適應(yīng)測試 :處理過程可變性 文獻(xiàn)名稱 Adaptive Testing:Dealing with Process Variability 出處： IEEE Design amp。 Test of Computers, 2020, 28(6): 004149 作者： Peter Maxwel 起止頁碼： 4149 出版日期（期刊號(hào)）： 2020年 11 月 出版單位： IEEE Design amp。不同程度的提出了采用自適應(yīng)處理的優(yōu)勢及例子。 對設(shè)計(jì)和測試而言一個(gè)最大的挑戰(zhàn)因素就是過程的可變性。他們的行為是由大量的物理屬性 ,包括尺寸 ,形狀 ,取向 ,摻雜劑的水平。例如 ,一個(gè)代表65 納米晶體管有柵氧化層的厚度 海里。一個(gè)分子的差異代表著 20%的變化。隨機(jī)摻雜劑的波動(dòng)可能導(dǎo)致相當(dāng)
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