【正文】 為子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差，因此，首先應(yīng)分析 R圖。X注 1： R 分析控制圖的目的在于識別過程不穩(wěn)定的證據(jù)?？刂朴霉苤茍D 過程控制分析如果上述條件變化，則必須重新制定控制圖 .2. 一定時(shí)間后檢驗(yàn)控制圖還是否適用；3. 過程能力值有大的變化時(shí)。n 使用時(shí)只需把采集到的樣本數(shù)據(jù)或統(tǒng)計(jì)量在圖上描點(diǎn)即可 。過程能力能夠滿足生產(chǎn)要求101搜集數(shù)據(jù)繪制解析用管制圖穩(wěn)定狀態(tài)？繪制直方圖 → 分布 → 層別研究滿足規(guī)格？制程能力研究管制用管制圖Yes 消除非機(jī)遇原因No滿足 減少機(jī)遇原因4M、 1E 分析不滿足提升制程能力管制圖之繪制流程102控制階段n 控制圖的控制界限由分析階段確定 。100從分析階段轉(zhuǎn)入控制階段n 在什么條件下分析階段確定的控制限可以轉(zhuǎn)入控制階段使用：168。受已知的特殊原因影響的點(diǎn)。而是排除 XR圖中去掉的子組，也應(yīng)從 X圖中去掉處于受控狀態(tài)。每一張控制圖上的控制界限都是由該圖上的數(shù)據(jù)計(jì)算出來 。 在初始研究階段，應(yīng)注明試驗(yàn)控制限。均值和極差控制界限繪制 平均極差和過程均值用畫成實(shí)線。 95A D D4為系數(shù)，決定于子組樣本容量n 2 3 4 5 6 7 8 9 10D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值。計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時(shí)子組的均值和極差的變化和范圍。計(jì)算控制限9422=（ X1+X2+…+Xk ） /R=（ R1+R2+…+Rk ） /計(jì)算平均極差（ R）及過程均值（ X）計(jì)算控制限932和 R點(diǎn)在縱向是對應(yīng)的。R則在極差圖上 1個(gè)刻度代表 92a） X例如： 平均值圖上 1個(gè)刻度代表 ，XR 刻度選擇 42的測量值。和 兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 41的樣本容量1選擇控制圖的刻度 n?? 式中： R=XmaxXminn建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 891 2 3 4 5 6 7 ……時(shí)間 1/78:009:001/79:0010:001/710:0011:001/711:0012:001/713:0014:001/714:0015:001/715:0016:00……X1 ……X2 ……X3 ……X4 ……X5 ……X ……R ……12組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。一般為 25組 抽樣分布n = 1n = 5n = 30n = 288b）子組抽樣頻率 ：在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù)，這樣子組才能反映潛在的變化，這些變化原因可能是換班 /操作人員更換 /材料批次不同等原因引起。的 子組大小 ： 一般為 5件連續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具 /沖頭 /過程流等。收集數(shù)據(jù)a） 簡稱 (β).UCLCLLCL1s1s2s3s2s3s82計(jì)量型管制圖平均值與全距管制圖 (XbarR(TYPE簡稱 (α).UCLCLLCL1s1s2s3s2s3s81第二種錯(cuò)誤 (β)(TYPEalarm)α β二 .第二種錯(cuò)誤 :漏發(fā)警報(bào) (alarm上控制限 中心限 下控制限管制圖應(yīng)用規(guī)格限： 利用經(jīng)濟(jì)平衡點(diǎn)方法 ,可知兩種錯(cuò)誤的交叉點(diǎn) 3δ處 ,因此管制線設(shè)置在 177。 76直方圖旋轉(zhuǎn) 900C+3δ3δu3δ +3δu旋轉(zhuǎn) 900C77管制線設(shè)置UCLCLLCL3?3?缺點(diǎn)■一組數(shù)據(jù)可能不存在眾數(shù)。75眾數(shù)的優(yōu)缺點(diǎn)優(yōu)點(diǎn)■眾數(shù)不受超常值影響。74中位數(shù)的優(yōu)、缺點(diǎn)優(yōu)點(diǎn)中位數(shù)不受超常值的影響。缺點(diǎn)■平均數(shù)受超常值的影響。=73平均數(shù)的優(yōu)、缺點(diǎn)優(yōu)點(diǎn) 　 　 　■概念容易被理解和接受。6668889眾數(shù) = 12334444在樣本中出現(xiàn)次數(shù)最多的值平均數(shù) =中位數(shù) 順序 (由小至大或由大至小 )數(shù)列中心項(xiàng)的數(shù)值眾數(shù) 72趨中 的量度平均 UXMR C不良數(shù)管制圖Xδ均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 nPchart71管制圖類型計(jì)量型數(shù)據(jù)XR2）及時(shí)性不足、易延誤時(shí)機(jī)。1）無法尋得不良真因。數(shù)據(jù)須測定，且再計(jì)算，須有訓(xùn)練之人方可勝任。(2)缺點(diǎn) 1）所需數(shù)據(jù)可用簡單方法獲得。1）數(shù)據(jù)靈敏，容易調(diào)查真因。值 數(shù) 計(jì) 減少普通原因變差70計(jì)量型與計(jì)數(shù)型管制圖的比較改進(jìn)過程從而更好地理解研究 措施 實(shí)施計(jì)劃 措施 確定能力達(dá)到統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)？本過程正在做什么？ 查找變差的特殊原因并本過程應(yīng)做什么？ 大約可糾正 85%的過程問題68四類過程及對策 是否受控是否滿 足要求？受控 不受控可接受 1類 3類不可接受 2類 4類69分析過程 維護(hù)過程通常用來消除變差的普通原因通常由與過程直接相關(guān)的人員實(shí)施局部措施范圍 時(shí)間預(yù)測目標(biāo)值線隨著時(shí)間的推移，過程的輸出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測。 (可以容許的偏差 ) 異常 原因 （系統(tǒng)性 ,易 識別 ,可以消除 ） 如 :設(shè)備 的不 正確調(diào) 整 ,刀具的 嚴(yán)重 磨損 ,操作者 偏離 操作 指導(dǎo) 等 . 其 對品質(zhì)變異影響 程度大 ,生 產(chǎn) 失控 ,為異常 原因 (不可以容許的偏差 → 要排除 )兩種 變異65偶然因素之變異 異常因素之變異１．大量之微小原因所引起 ,不可避免２．不管發(fā)生何種之偶然原因，其個(gè)別　　　之變異極為微?。常畮讉€(gè)較代表性之偶然原因如下：　?。ǎ保┰现⑿∽儺悺　。ǎ玻C(jī)械之微小掁動(dòng)　?。ǎ常﹥x器測定時(shí)不十分精確之作　　　　　法４．要除去制程上之偶然原因，　　非常不經(jīng)濟(jì)或難度較大之處置１．一個(gè)或少數(shù)幾個(gè)較大原因所引起 , 可以避免２．任何一個(gè)異常原因，都可能發(fā)生　　大之變異３．幾個(gè)較代表性之異常原因如下：　?。ǎ保┰先后w之不良　?。ǎ玻┎煌耆畽C(jī)械調(diào)整　?。ǎ常┬率种鳂I(yè)員４．異常原因之變不但可以找出其原　　因，并且除去這些原因之處置，在　　經(jīng)濟(jì)觀點(diǎn)上講常是正確者66如果僅存在變差的普通原因， 輸出輸入 人60制程 ── 品質(zhì)的源頭、 SPC的焦點(diǎn) 制程的起伏變化是造成質(zhì)量變異的主要根源，制程條件波動(dòng)制程條件波動(dòng) 品品 質(zhì)變異質(zhì)變異產(chǎn)產(chǎn) 品優(yōu)劣品優(yōu)劣因因 果果因因 果果結(jié)論：制程是 SPC的焦點(diǎn)61預(yù)防與探測 ?制程原料人 機(jī) 法 環(huán) 測量測量結(jié) 果好不好不要等產(chǎn)品做出來后再去看它好不好而是在制造的時(shí)候就要把它制造好62“SPC就像房屋中的煙霧探測器：只要這種裝置備被正確安置以及旁邊有人監(jiān)聽，那么它就可以提前發(fā)出警報(bào)使你有足夠時(shí)間阻止房屋起火 ”63制程控制系統(tǒng) 人 , 機(jī) , 料 , 法 , 環(huán)，測SPC的作用貫徹 預(yù)防原則 的統(tǒng)計(jì)過程控制重要工具。變異 的來源 產(chǎn)品 或 制程 內(nèi)的 變異 是能被測量的 .大制程能力分析判斷圖表59管制圖基本 理念1.K Z正態(tài)分布表54實(shí)施中常見問題n 樣本標(biāo)準(zhǔn)差的計(jì)算方法 ?n 已知 CPK,如何計(jì)算不良率 ?n 雙邊對稱公差與雙邊不對稱公差問題 ?n 單邊公差如何計(jì)算 CPK?n CPK與 PPK的區(qū)別 ?n CMK是什么 ,如何計(jì)算 ?5556變異大偏移大變異小偏移大57變異大未偏移變異小偏移小58大S小管理水平足夠技術(shù)水平不足管理水平不足技術(shù)水平不足管理水平足夠技術(shù)水平足夠管理水平不足技術(shù)水平足夠小 Z正態(tài)分布表53Z