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spc統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制應(yīng)用技術(shù)-文庫(kù)吧資料

2025-02-24 04:52本頁(yè)面
  

【正文】 比較狀況 , 和在這段時(shí)間內(nèi)品質(zhì)變化幅度的大小 , 以利于做品質(zhì)工作的總結(jié) 。 CPK值 : 雙邊規(guī)格: CPK =( 1Ca) * Cp 值越大表示制程能力越強(qiáng) 單邊規(guī)格: CPK = Cp Happy: SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 補(bǔ)充: ① Ca :準(zhǔn)確度 ,表示制程特性中心位置的偏移程度,值等于零表示不偏移,值越大表示偏移越大。 也可根據(jù)實(shí)際情況 , 比如現(xiàn)品質(zhì)比較差在 。 CPK推移圖需要設(shè)定一 CPK目標(biāo)值 。 SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 第四步 :在橫軸上,按多到少的順序進(jìn)行每一單位進(jìn)行填寫,再根據(jù)每一類別的數(shù)量在畫出相應(yīng)高度的方格,最后從左邊第一方格右上角描第一點(diǎn),第二方格右邊上面的第一點(diǎn)高度加本方格高度處描第二點(diǎn),第三方格右邊上面的第二高點(diǎn)高度加本方格高度處描第三點(diǎn),以此類推,描到最后一點(diǎn)的 100%處。 Happy: SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES : 1) 作為降低不良之依據(jù); 2) 決定改善品質(zhì)的工作目標(biāo) 3) 確認(rèn)改善效果 ( 改善前后之比較 ) 4) 應(yīng)用發(fā)掘現(xiàn)場(chǎng)的重要問(wèn)題點(diǎn) 5) 確認(rèn)或調(diào)整特性要因圖 6) 用于整理報(bào)告或記錄 Happy: SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES Happy: : ①將數(shù)據(jù)進(jìn)行分類; ②把分類好的數(shù)據(jù)進(jìn)行匯總,由多到少進(jìn)行排序,并計(jì)算出類別所占百分比; ③計(jì)算出各類之總和; ④以總數(shù)和為左縱軸,以總數(shù)的十分之一為一單位格,各個(gè)類別為橫軸,以每一類別為一單位格,以 100%的比例來(lái)做右邊的縱軸,之間幅度為 10%為一單位格,在 80%處畫一條橫虛線; ⑤在橫軸上,按多到少的順序進(jìn)行每一單位格填寫,再根據(jù)每一類別的數(shù)量在畫出相應(yīng)高度的方格,最后從左邊第一方格右上角描第一點(diǎn),第二方格右邊上面的第一點(diǎn)高度加本方格高度處描第二點(diǎn),第三方格右邊上面的第二點(diǎn)高度加本方格高度處描第三點(diǎn),以此類推,描到最后一點(diǎn)的 100%處。 〈 例 9〉 Happy: SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES ( 九 ) 柏拉圖: : 是 SPC中非常重要的一種圖形 , 主要用來(lái)分析各種不良原因或缺點(diǎn)項(xiàng)目的重點(diǎn)部份 , 以便抓住在品質(zhì)方面要注意和改善的重點(diǎn) 。 : ① 將收集的缺點(diǎn)數(shù)換算成單位缺點(diǎn)數(shù): Ui = Ci/Ni 其中 : Ui 表示第 i組數(shù)據(jù)單位缺點(diǎn)數(shù) Ci表示第 I組數(shù)據(jù)缺點(diǎn)數(shù) Ni表示第 I組數(shù)據(jù)檢驗(yàn)數(shù) ② 計(jì)算管制中心線和上下限 : Ubar=CL= UCL= LCL= : 同 Pchart 〈 例 8〉 Happy: 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES ( 八 ) 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (Cchart) : 用來(lái)管制相對(duì)缺點(diǎn)數(shù)的變化狀況 ,是對(duì) Uchart的一種補(bǔ)充 ,它們的關(guān)系如同 Pchart和 NPchart 注意 :Cchart同不良數(shù)管制圖一樣 ,也要求檢驗(yàn)數(shù)相同才有意義 。 〈 例 7〉 Happy: 各組不良數(shù)之和 組數(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES ( 七 ) Uchart單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 : 是對(duì) Pchart的一種補(bǔ)充 , 是制造部門考核的一個(gè)較好工具 。 一般應(yīng)用在以下幾種狀況下: ① 在自動(dòng)化程度較高 , 人為因素相對(duì)較少 , 對(duì)不良分析是以計(jì) 數(shù)為主; ② 當(dāng)不良率相對(duì)較低時(shí) , 用 PPM不良率分析又較難時(shí); ③ 各批檢驗(yàn)數(shù)相同 , 也可用不良數(shù)管制圖 。 是對(duì)不良率管制圖的一個(gè)補(bǔ)充 。 8)連續(xù)幾點(diǎn)在中心線兩側(cè),但未在一倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi) 此狀況也是用來(lái)表明一狀態(tài),表明制程不算很好, 有一定的差異。 Happy: 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 6)連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在 2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外 此狀況一般是用來(lái)表明一個(gè)狀態(tài),一般表明制程不是很好,如有此狀況,則表明制程本身不是很好,要注意監(jiān)控,一般為系統(tǒng)原因。 ②連續(xù) 3點(diǎn)在管制界限下方 。幅度變大,則表明制程越來(lái)越不穩(wěn)定;幅度變小,則表明制程越來(lái)越穩(wěn)定;不變則表明制程已經(jīng)是穩(wěn)定的,但要注意是否較大、是否全體都在可接受范圍內(nèi),如否,則請(qǐng)采用系統(tǒng)問(wèn)題的處理方式盡快處理。向上則表明不良率升高,向下則表明不良率下降。 2)連續(xù)幾點(diǎn)在中心線上方或下方 這表明制程有偏移發(fā)生,如往上偏移,則表明不良率升高,如往下偏移則表明不良率下降。 〈例 6〉 Happy: SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 作出以每天為一點(diǎn)的不良率管制圖。 注:各點(diǎn)管制界限不一定相同。 SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 一般應(yīng)用在如下場(chǎng)合: 單個(gè)產(chǎn)品在某一工序的不良率 單個(gè)產(chǎn)品在某幾工序的不良率 多個(gè)產(chǎn)品在某同一工序的不良率 多個(gè)產(chǎn)品在某同幾工序的不良率 單個(gè)客戶某一產(chǎn)品的不良率 單個(gè)客戶部分產(chǎn)品的不良率 單個(gè)客戶全部產(chǎn)品的不良率 多個(gè)客戶同一產(chǎn)品的不良率 關(guān)鍵原料各供貨商所供產(chǎn)品的不良率 關(guān)鍵原料部分供貨商所供產(chǎn)品的不良率 SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 同一產(chǎn)品在不同部門或生產(chǎn)線的不良率 同一部門或生產(chǎn)線生產(chǎn)不同產(chǎn)品的不良率 不同班次所生產(chǎn)產(chǎn)品不良率 某些班次所生產(chǎn)產(chǎn)品不良率 不同檢驗(yàn)人員所檢驗(yàn)的不良率 某些檢驗(yàn)人員所檢驗(yàn)的不良率 不同時(shí)期限的不良率 不同機(jī)臺(tái)的生產(chǎn)的不良率 等等 SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES : ①計(jì)算管制中心線 CL=Pbar=不良數(shù)之和 /檢驗(yàn)數(shù)之和 ②計(jì)算管制上、下線 a. 各組檢驗(yàn)數(shù)相同,有兩種算法: 第一種(原理法): UCL=Pbar+3σ LCL=Pbar3σ 第二種(經(jīng)驗(yàn)法): 注:當(dāng) LCL計(jì)算出來(lái)曾負(fù)數(shù)時(shí),應(yīng)改為 0。因同一批差異很小,所以每一批次取一個(gè)樣量測(cè)記錄如下:序號(hào) 檢驗(yàn)時(shí)間 量測(cè)值 移動(dòng)全距1 200 1/ 11 /1 PM 03 : 23 : 27 5 52 200 1/ 11 /2 PM 03 : 23 : 56 4 93 200 1/ 11 /3 PM 03 : 24 : 03 1 34 200 1/ 11 /4 PM 03 : 24 : 09 7 45 200 1/ 11 /5 PM 03 : 24 : 16 7 06 200 1/ 11 /6 PM 03 : 24 : 21 5 27 200 1/ 11 /7 PM 03 : 24 : 26 9 48 200 1/ 11 /8 PM 03 : 24 : 33 8 19 200 1/ 11 /9 PM 03 : 24 : 40 1 710 200 1/ 11 /1 0 P M 03 : 24 : 56 6 511 200 1/ 11 /1 1 P M 03 : 25 : 00 2 412 200 1/ 11 /1 2 P M 03 : 25 : 09 8 613 200 1/ 11 /1 3 P M 03 : 25 : 12 6 214 200 1/ 11 /1 4 P M 03 : 25 : 20 7 115 200 1/ 11 /1 5 P M 03 : 25 : 26 2 5 SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 計(jì)數(shù)值型控制圖 (五) Pchart 不良率管制圖 : 利用管制圖的原理對(duì)產(chǎn)品不良率進(jìn)行管制,是 SPC計(jì)數(shù)值型最常用最主要的分析圖之一。 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 某電子廠對(duì)每批芯片研磨制程進(jìn)行管制 , 其厚度規(guī)格化為 3 + 0 。 如果是前后點(diǎn)有相關(guān)性, 則 m=1; 如果是前后兩點(diǎn)間有相關(guān)性,則 m=2。 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES : ①移動(dòng)全距的計(jì)算: Ri=|XiX( Im) | ; 當(dāng) Im〈 1時(shí) , Ri=|SLXi| 移動(dòng)位置值 m:指組距 Ri要用當(dāng)前一個(gè)數(shù)據(jù)減去前面第 n個(gè)位置的數(shù)據(jù)。 使用場(chǎng)合 : ①一次只能收集到一個(gè)樣本數(shù)據(jù),如損耗率; ②制程的品質(zhì)極為均勻,不需要多取樣本,如液體濃度、 PH值等; ③取得測(cè)定值既費(fèi)時(shí)成本又高,如復(fù)雜的化學(xué)分析及破壞性試驗(yàn)等。 ② 計(jì)算管制中心線及管制上 、 下限 中心線:直按取各組中位數(shù)的平均值 Xm=Xmcl= 中位數(shù)管制圖標(biāo)準(zhǔn)差: Xmσ = XmUCL=XmCL+3Xmσ XmLCL=XmCL3Xmσ 3圖形分析 :同 XbarR 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 分別計(jì)算出它們的中位數(shù) (如遇偶數(shù)個(gè)數(shù)據(jù),建議統(tǒng)一取前面或后面一個(gè)數(shù)據(jù))序號(hào) 檢驗(yàn)時(shí)間 NO1 NO2 NO3 NO4 NO5 XB a r Xm1 200 1/ 10 /1 PM 0 5: 08 :5 8 10 7 10. 05 8 10. 03 10. 01 102 200 1/ 10 /2 PM 0 5: 09 :2 0 10. 02 10. 01 10 10. 03 8 10. 01 10. 013 200 1/ 10 /3 PM 0 5: 09 :3 3 8 6 10. 02 5 10. 02 9 84 200 1/ 10 /4 PM 0 5: 09 :5 1 10 10. 05 10 6 5 9 105 200 1/ 10 /5 PM 0 5: 10 :0 3 6 10. 02 8 10 10. 07 10. 01 106 200 1/ 10 /6 PM 0 5: 10 :1 6 10. 09 10. 06 10. 1 10. 12 10. 02 10. 08 10. 067 200 1/ 10 /7
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