測量系統(tǒng)分析教材-文庫吧資料
2025-02-23 07:50本頁面
【正文】 散點(diǎn)圖 基準(zhǔn)值 x/kg 偏倚y/g 此直線的方程為 y=a+bx 測量系統(tǒng)的波動 測量系統(tǒng)的波動主要是由于量具與操作者引起的 .為了考察量具與操作者的波動大小 ,常常要選用一些零件或產(chǎn)品讓操作者使用量具去測量 ,由于零件間差異對測量結(jié)果的影響不得不考慮 ,故在考察量具和操作者的波動時(shí) ,還要考察零件間的波動 . 下面讓我們一起來逐個(gè)考察它們 ,然后加以綜合 . 重復(fù)性 (repeatability) 由一個(gè)或多個(gè)操作者采用一種量具 ,多次重復(fù)測量同一零件的同一特性時(shí)所獲得的測量值的變差稱為量具的重復(fù)性 ,記作 EV. 一個(gè)好的量具應(yīng)具很好的重復(fù)性 ,也就是它的重復(fù)測量值的變差是很小的 .重復(fù)性的研究分兩步進(jìn)行 . (1)考察測量過程是否穩(wěn)定 ,即測量過程的波動是否僅由偶然原因引起 ?這可使有 R圖 .為此選擇幾個(gè)零件 ,每個(gè)零件都重復(fù)測量相同的次數(shù) ,建立 R圖 .觀察其是否受控 .若 R圖上出現(xiàn)失控現(xiàn)象 ,要分析失控原因 ,并加以糾正 .在確認(rèn)測量系統(tǒng)已達(dá)到穩(wěn)定時(shí)可進(jìn)入下步 . (2)計(jì)算量具的重復(fù)性 :EV= 其中 σe是測量過程中由于重復(fù)測量而引起的標(biāo)準(zhǔn)差 ,它的估計(jì)公式為 : σe=R/d2* 其中 R是重復(fù)測量一個(gè)零件的平均極差 , d2*不同于 SPC中使用的 d2. d2*的值依賴于重復(fù)測量次數(shù) m(極差個(gè)數(shù) )和 g(操作者人數(shù)零件個(gè)數(shù) ),可通過數(shù)值表查得 , 連接數(shù)值表 譬如 ,兩名操作者使用同一量具重復(fù)測量 5個(gè)零件 ,每個(gè)零件各測 3次 ,這時(shí) m=3,g=2 5=10從表中查得d2*=d2*(3,10)= 于是該量具的重復(fù)性為 : EV== 再現(xiàn)性 (reproducibility) 由不同操作者 ,采用相同量具 ,測量同一零件的同一特性所得重復(fù)測量的均值的變差稱為量具的再現(xiàn)性 ,記為 AV. 在再現(xiàn)性的定義中 ,量具是相同的、零件是相同的，不同的是操作者。 (4)在消除由異常原因引起的異?，F(xiàn)象后 ,則可認(rèn)為測量過程統(tǒng)計(jì)是穩(wěn)定的 ,這時(shí)可估計(jì)測量系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)差 σ=R/d2,其中 R為平均極差 .另外 ,如有需要 ,可計(jì)算該測量系統(tǒng)的過程變差 PV= σ,考察過程變差是否符合要求 . 考察測量系統(tǒng)穩(wěn)定性的注意點(diǎn) (1)測量系統(tǒng)的外部條件是什么 ?譬如 ,有的測量系統(tǒng)要預(yù)熱一段時(shí)間后才能進(jìn)入穩(wěn)定工作狀態(tài) ,這時(shí)就要明確提出該測量系統(tǒng)的預(yù)熱時(shí)間 。 (2)作 XR控制圖 。請看示意圖 ： PV= 99% 偏倚與變差示意圖 測量數(shù)據(jù)質(zhì)量高既要求偏倚小 ,又要求變差小 .若偏倚與變差中有一項(xiàng)或兩項(xiàng)都大 ,都不能說測量數(shù)據(jù)質(zhì)量高 ,請看示意圖 . 偏倚小 變差小 偏倚大 變差小 偏倚小 變差大 偏倚大 變差大 實(shí)例 一測量員對基準(zhǔn)值為 L=復(fù)測量 10次 ,所得測量值為 : 其平均值與偏倚分別為 : X= ∑xi= = 偏倚 = X L== 這表明測量的平均值比基準(zhǔn)值低了 . 1 10 10 i=1 10 影響數(shù)據(jù)變差有兩類因素 (即波動的原因 ):偶然因素與異常因素
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