【正文】 73 72 73 2 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 72 3 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 74 4 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 76 5 75 75 68 65 72 75 76 75 73 60 73 71 70 70 89 Case study ? 請計算出上表的 XR控制圖的控制限？ ? 請判定過程是否穩(wěn)定？ ? 如果是不穩(wěn)定該如何處理？ ? 如果製程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自 n=4調(diào)為 n=5時，那麼其新控制限為何？ 90 管制圖mRX ?? 單值控制在檢查過程變化時不如 XR圖敏感。 ，此時的 Cpk= LSL u USL 6σ 6σ 77 Sigma=σ=Deviation (Square root of variance 7 6 5 4 3 2 1 0 1 2 3 4 5 6 7 Between+/1σ Between+/2σ Between+/3σ Between+/4σ Between+/5σ Between+/6σ % % % % % % Result:317300 ppm outside （ deviation) 45500 ppm 2700 ppm 63 ppm ppm ppm σ ????? 1 )(2nxx i?Axis grach in Sigma Normal DistributionGaussian Curve 78 管制圖sX ?? A收集數(shù)據(jù)：在計算各個子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下： 554321 xxxxxx ?????1)( 2??? ?nxxs i79 SBLCLSBUCLSCLSAXLCLSAXUCLXCLRRRXXX3433????????標(biāo)準(zhǔn)差管制圖平均值管制圖? B計算控制限 管制圖sX ?80 ? C過程控制解釋 ?(同 XR圖解釋 ) 管制圖sX ?81 ? D過程能力解釋 管制圖sX ?4?cs??82 Case study 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 1 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 72 2 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 79 3 68 77 96 75 78 71 73 75 77 75 76 77 75 80 4 69 79 95 72 80 72 71 76 72 75 77 72 72 78 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 1 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 73 2 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 72 3 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 74 4 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 76 83 Case study ? 請計算出上表的 Xs控制圖的控制限？ ? 請判定過程是否穩(wěn)定？ ? 如果是不穩(wěn)定該如何處理？ ? 如果製程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自 n=4調(diào)為 n=5時，那麼其新控制限為何？ 84 管制圖RX ?~? A收集數(shù)據(jù) ? 一般情況下，中位數(shù)圖用在樣本容量小於 10的情況，樣本容量為奇數(shù)時更為方便。5，試計算其 Cmk？ 75 LSL u USL 6σ 6σ WHAT IS MOTOROLA’S 6σ 76 WHAT IS MOTOROLA’S 6σ ? 最佳狀況，製程中心等於規(guī)格中心，此時Cpk=2。5。 ? 連續(xù) 7點中有 3點 (該 3點可不連續(xù) )在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi) 。 ? 當(dāng)出現(xiàn)連續(xù) 6點不斷上升或下降的趨向時 , 要開始調(diào)查原因 。 ? 連續(xù)的 17點中至少有 14點出現(xiàn)在一側(cè)時 。 ? 當(dāng)出現(xiàn) 7點鏈時 , 判定為有異常 , 應(yīng)采取措施 . 56 控制圖的觀察分析 ? 從概率的計算中 , 得出結(jié)論 : ? 點出在中心線一側(cè)的概率 A1=1/2 ? 點連續(xù)出現(xiàn)在中心線一側(cè)的概率 A1=(1/2)7 = 1/128 (%)即在 128次中才發(fā)生一次 , 如果是在穩(wěn)定生產(chǎn)中處于控制狀態(tài)下 , 這種可能性是極小的 . 因此 , 可以認(rèn)為這時生產(chǎn)狀態(tài)出現(xiàn)異常 . ? 偏離 : 較多的點間斷地出現(xiàn)在中心線的一側(cè)時偏離 . 如有以下情況則可判斷為異常狀態(tài) . ? 連續(xù)的 11點中至少有 10點出現(xiàn)在一側(cè)時 。 ? 連續(xù) 100點中 , 不多于 2點超出控制界限 . ? 五種缺陷 ? 鏈 : 點連續(xù)出現(xiàn)在中心線 CL 一側(cè)的現(xiàn)象稱為鏈 , 鏈的長度用鏈內(nèi)所含點數(shù)多少來判別 . ? 當(dāng)出現(xiàn) 5點鏈時 , 應(yīng)注意發(fā)展情況 , 檢查操作方法有無異常 。 ? 第二條 , 控制圖上點的排列分布沒有缺陷 . 55 控制圖的觀察分析 ? 進(jìn)行控制所遵循的依據(jù) : ? 連續(xù) 25點以上處于控制界限內(nèi) 。 UCL CL LCL 53 控制圖的判讀 ? 明顯的非隨機(jī)圖形：應(yīng)依正態(tài)分佈來判定圖形，正常應(yīng)是有 2/3的點落於中間 1/3的區(qū)域 。 29 局部措施和對系統(tǒng)採取措施 ? 局部措施 ? 通常用來消除變差的特殊原因 ? 通常由與過程直接相關(guān)的人員實施 ? 大約可糾正 15%的過程問題 ? 對系統(tǒng)採取措施 ? 通常用來消除變差的普通原因 ? 幾乎總是要求管理措施，以便糾正 ? 大約可糾正 85%的過程問題 30 持續(xù)改進(jìn) 31 過程改進(jìn)循環(huán) PLAN DO STUDY ACT PLAN DO STUDY ACT PLAN DO STUDY ACT 分析過程 ? 本過程應(yīng)做些什麼 ? 會出現(xiàn)什麼錯誤 ? 達(dá)到統(tǒng)計控制狀態(tài) ? 確定能力 ? 監(jiān)控過程性能 ? 查找偏差的特殊 原因並採取措施 ? 改變過程從而更好 理解普通原因變差 ? 減少普通原因變差 32 控制圖的益處 ? 合理使用控制圖能 ? 供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用 ? 有於過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地，可預(yù)測地保持下去 ? 使過程達(dá)到 ? 更高的質(zhì)量 ? 更低的單件成本 ? 更高的有效能力 ? 為討論過程的性能提供共同的語言 ? 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為採取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)採取措施的指南。除非所有的特殊原因都被查找出來並且採取了措施，否則它們將繼續(xù)用不可預(yù)測的方式來影響過程的輸出。只有變差的普通原因存在且不改變時，過程的輸出才可以預(yù)測。 使用平均值時，其分佈 比較近似正態(tài)分佈，且 其檢出力較佳。3σ 50% 177。σ % 177。3σ % 177。σ 32% 177。 19 製程的組成以及其波動的原因 波動原因 人 機(jī)器 材料 方法 測量 環(huán)境 20 過程控制和過程能力 控制 滿足要求 受控 不受控 可接受 1類 3類 不可接受 2類 4類 簡言之，首先應(yīng)通過檢查並消除變差的特殊原因使過程處於 受統(tǒng)計控制狀態(tài)，那麼其性能是可預(yù)測的，就可評定滿足顧 客期望的能力。3σ % % 14 % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 正態(tài)分佈概率 15 中央極限定理 ),( 2??N 24 )4,( ,4,2????????xmeanitNthe nnwhen39 )9,( ,9,2????????xmeanitNthe nnwhen16 有限群體修正係數(shù) nENnx???????X )( th en101 if1)( th en101 if???????NnNnXENnx???17 x ?xxx ?? 3 3 ??xxx??33??中心線上控制限U C L下控制限L C L個別值的正態(tài)分佈 平均值的正態(tài)分佈 控制圖的正態(tài)分佈 控制圖原理說明 旋 轉(zhuǎn) 90 度 18 管制界限和規(guī)格界限 ? 規(guī)格界限：是用以說明品質(zhì)特性之最大許可值，來保證各個單位產(chǎn)品之正確性能。2σ % % μ177。1σ % % μ177。kσ 在內(nèi)的概率 在外的概率 μ177。 利用控制限區(qū)隔 是否為非機(jī)遇性 7 控制圖種類 (以數(shù)據(jù)來分 ) ? 計量值控制圖 ? 平均值與全距控制圖 ? 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖 ? 中位值與全距控制圖 ? 個別值與移動全距控制圖 ? 計數(shù)值控制圖 ? 不良率控制圖 ?