【正文】 宜過(guò)多 。 （三）壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn) 指數(shù)分布條件下的壽命試驗(yàn)設(shè)計(jì) 1）產(chǎn)品壽命試驗(yàn)周期 2） 產(chǎn)品壽命試驗(yàn)的投試樣品量 投試樣品量和試驗(yàn)時(shí)間及試驗(yàn)結(jié)果有關(guān) ， 和產(chǎn)品價(jià)值及統(tǒng)計(jì)誤差有關(guān) 。 （三）壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn) 壽命試驗(yàn)設(shè)計(jì) 6） 失效判據(jù) 通常以產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)是否超出最大允許偏差范圍作為失效判據(jù) ， 也可用是否出現(xiàn)致命失效作為判據(jù) ， 應(yīng)根據(jù)使用要求在試驗(yàn)前作出明確規(guī)定 。 它們又各分為有替換和無(wú)替換兩種 。 并且試驗(yàn)條件要嚴(yán)格控制在誤差很小的范圍內(nèi) ， 保證試驗(yàn)的一致性 。 樣品數(shù)量要能保證統(tǒng)計(jì)分析的正確性 ， 又要考慮試驗(yàn)代價(jià)不能太大 ， 并為實(shí)驗(yàn)設(shè)備條件所允許 。 （三）壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn) 壽命試驗(yàn)設(shè)計(jì) 1） 試驗(yàn)?zāi)康? ① 可靠性測(cè)定 ， 即確定產(chǎn)品的壽命分布和失效率 、 平均壽命等參數(shù)； ② 可靠性試驗(yàn) ， 即通過(guò)壽命試驗(yàn)來(lái)判斷某批產(chǎn)品能否符合規(guī)定的可靠性要求； ③ 可靠性鑒定 ， 就是鑒定產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)工藝是否能生產(chǎn)出符合可靠性要求的產(chǎn)品 。 （三）壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn) 壽命試驗(yàn)的分類(lèi) 2） 加速壽命試驗(yàn)： ③ 序進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)：可近似看作步進(jìn)應(yīng)力的每級(jí)應(yīng)力差很小的極限情況 。 一般假定前一級(jí)試驗(yàn)對(duì)本級(jí)試驗(yàn)的影響可忽略不計(jì) ， 實(shí)際上往往不可忽略 ， 所以試驗(yàn)的預(yù)計(jì)精度較低 。 試驗(yàn)因素單一 ， 數(shù)據(jù)容易處理 ，外推精度較高 ， 故最常用 。 （三）壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn) 壽命試驗(yàn)的分類(lèi) 2） 加速壽命試驗(yàn)： 根據(jù)應(yīng)力施加的方式 ， 加速壽命試驗(yàn)可分為恒定應(yīng)力 、 步進(jìn)應(yīng)力 、 序進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)三種 。 因此 ， 廣泛采用了加速壽命試驗(yàn)的方法 。 （三）壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn) 壽命試驗(yàn)的分類(lèi) 由于電子元器件水平迅速提高 ， 長(zhǎng)期壽命試驗(yàn)方法遇到很大困難 。 靜態(tài)偏置就是加直流額定負(fù)荷的試驗(yàn) ， 所用設(shè)備簡(jiǎn)單 ， 結(jié)果有一定價(jià)值 。 可靠性驗(yàn)證試驗(yàn) 序貫試驗(yàn) ? 產(chǎn)品壽命服從指數(shù)分布時(shí) ， 在總試驗(yàn)時(shí)間 T內(nèi)出現(xiàn)的故障數(shù)是隨機(jī)變量 ， 服從泊松分布 ， 設(shè)產(chǎn)品的平均壽命為 θ， 則出現(xiàn) r次故障的概率為 可靠性驗(yàn)證試驗(yàn) 序貫試驗(yàn) ? 當(dāng) P1(r)/P0(r)很大時(shí)，則可理解為 θ ＝ θ 1的可能性很大，認(rèn)為產(chǎn)品不合格，當(dāng) P1(r)/P0(r)很小則可理解為 θ＝ θ 0的可能性很大，認(rèn)為產(chǎn)品合格；若 P1(r)/P0(r)不大不小，則難下結(jié)論，需繼續(xù)試驗(yàn)。產(chǎn)品平均壽命為 θ時(shí)的接收概率為 L(θ) 可靠性鑒定試驗(yàn) 定時(shí)截尾 68 隨機(jī)抽取樣品 n個(gè) ， 當(dāng)試驗(yàn)進(jìn)行到規(guī)定的時(shí)間 t0就停止 ， 共失效 r個(gè)樣品 ，合格判定數(shù)為 c， 若 r=c，合格 ， 否則不合格 ， 拒收 。 ? 當(dāng)產(chǎn)品通過(guò)設(shè)計(jì)鑒定轉(zhuǎn)入批生產(chǎn)后，由于生產(chǎn)過(guò)程中有可能引進(jìn)不可靠因素，而使生產(chǎn)質(zhì)量不穩(wěn)定，這時(shí)需要進(jìn)行驗(yàn)收試驗(yàn)，當(dāng)產(chǎn)品實(shí)際水乎達(dá)到合格質(zhì)量水乎時(shí)，應(yīng)以高概率接收，即 α可取小些。表示產(chǎn)品整體 實(shí)際上合格 時(shí)由于是抽樣試驗(yàn)而判定為不合格的概率； ? 使用方風(fēng)險(xiǎn) β表示產(chǎn)品 整體不合格 時(shí)，由于是抽樣試驗(yàn)而被判定為合格的概率。 ? 驗(yàn)證試驗(yàn)： 對(duì)交付的產(chǎn)品進(jìn)行評(píng)價(jià)。兩邊取對(duì)數(shù)， 則有 即瞬時(shí) MTBF與累積 MTBF為 兩條平行直線 ,由于 0＜ ｋ ＜１ 因此在雙邊對(duì)數(shù)坐標(biāo)紙上 (見(jiàn)圖 ） ， 任一時(shí)刻的 總是 比 大 。 顯然隨著試驗(yàn)時(shí)間 t的增加 ， 故障 累積函數(shù) r(t) 也逐漸增大 ， 并記 為 平均故障率累積函數(shù) ，由此 故障累積函數(shù) 為 而產(chǎn)品的 平均 MTBF累積函數(shù) 為 katttrt ?? ??)()(?kattt ??? ??1)(1)(??kattr ?? 1)(59 對(duì)上式兩邊取對(duì)數(shù) ， 則 即在雙邊對(duì)數(shù)坐標(biāo)紙上 ， 產(chǎn)品的 平均 MTBF累積函數(shù) 與時(shí)間 t 是一 直線關(guān)系 ,其 斜率 為 k ,截距 為 , 因此 ， 在工程上稱(chēng)斜率 k 為 增長(zhǎng)試驗(yàn)的增長(zhǎng)率 。但試驗(yàn)本身并不改善產(chǎn)品可靠性，只有采取防止在使用中重復(fù)發(fā)生故障的糾正措施才能提高產(chǎn)品可靠性。 篩選試驗(yàn)的時(shí)間 53 當(dāng) μ1 μ2時(shí)，可以有效區(qū)分，提升產(chǎn)品批次的可靠性； 54 （三）可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)（ RGT） 可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)的目的和一般方法 增長(zhǎng)試驗(yàn)?zāi)康? 提高產(chǎn)品固有可靠性，以滿足產(chǎn)品使用 期的可靠性需要。 原 因 —— 由于環(huán)境應(yīng)力篩選不可能解決產(chǎn)品 固有的可靠性問(wèn)題 ， 如設(shè)計(jì)水平 、 配套元器件和材料的等級(jí) ， 以及制造過(guò)程存在的生產(chǎn)工藝等 系統(tǒng)性問(wèn)題 所形成的缺陷 。 總之 ， 環(huán)境模擬試驗(yàn)重要的是正確規(guī)定試驗(yàn)條件和合理安排試驗(yàn)順序 ，試驗(yàn)設(shè)備要合格 ， 定期標(biāo)定 。 （二）環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn) 環(huán)境試驗(yàn)的方法 3） 人工模擬試驗(yàn) 環(huán)境模擬試驗(yàn)的設(shè)計(jì)者應(yīng)對(duì)產(chǎn)品的實(shí)際使用環(huán)境有確切的了解 。 （二）環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn) 環(huán)境試驗(yàn)的方法 3）人工模擬試驗(yàn) ②綜合環(huán)境試驗(yàn) 綜合環(huán)境試驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)是：可以較為真實(shí)地模擬使用環(huán)境，從而增加了試驗(yàn)的真實(shí)性和可靠性；創(chuàng)造了利用地面模擬試驗(yàn)代替空中飛行試驗(yàn)的條件；真實(shí)地暴露由于諸環(huán)境因素共同作用所引起的產(chǎn)品失效模式。 （二）環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn) 環(huán)境試驗(yàn)的方法 3）人工模擬試驗(yàn) ①單項(xiàng)環(huán)境試驗(yàn) 針對(duì)環(huán)境因素分別單項(xiàng)進(jìn)行，試驗(yàn)好處在于試驗(yàn)設(shè)備比較簡(jiǎn)單，試驗(yàn)費(fèi)用較少，并且很容易看出某因素對(duì)產(chǎn)品的影響。 常用試驗(yàn)項(xiàng)目有低溫 、 高溫 、 熱沖擊 、 溫度循環(huán) 、 潮熱 、 低氣壓 、 鹽霧 、 霉菌 、 沙塵 、 振動(dòng) 、 沖擊 、 碰撞 、 離心 、 運(yùn)輸 、聲振 、 爆炸 、 真空冷熱浸 、 真空冷焊試驗(yàn)等 。 （二）環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn) 環(huán)境試驗(yàn)的方法 2） 天然暴露試驗(yàn) 把樣品長(zhǎng)期暴露于天然氣候環(huán)境 （ 如熱帶 、 亞熱帶 、 寒帶 、高原地帶等 ） ， 樣品可處于工作負(fù)荷狀態(tài)或貯存狀態(tài) ， 通過(guò)定期觀測(cè) ， 可以了解產(chǎn)品電參數(shù) 、 機(jī)械性能和外觀的變化 。 例如飛機(jī)在樣機(jī)研制完成后 ， 要經(jīng) 1000小時(shí)試飛 ， 才能正式投產(chǎn) 。 霉菌吞嚙 、 繁殖 、 吸附水分和分泌酶 ， 使所有有機(jī)材料和部分無(wú)機(jī)材料強(qiáng)度降低 ， 介質(zhì)損耗增大 ， 金屬腐蝕 ， 白蟻 、 木蜂 、老鼠咬壞電纜 ， 排出糞便造成短路； （二）環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn) 環(huán)境條件的分類(lèi) 4）輻射條件：包括太陽(yáng)紫外線輻射引起材料老化，核爆炸環(huán)境的中子輻射引起永久性損傷， 輻射引起瞬時(shí)效應(yīng)，造成電子元件失效，空間帶電粒子可使衛(wèi)星用電子元器件損壞； 5）電磁條件：包括電場(chǎng)、磁場(chǎng)、閃電、雷擊、電暈、核爆炸產(chǎn)生的電磁波，以及電子設(shè)備內(nèi)部、外部的電磁干擾等。 某種元器件上機(jī)前是否要進(jìn)行老煉 ， 主要取決于這種元器件的參數(shù)漂移是否影響使用可靠性 （ 與失效判據(jù)聯(lián)系起來(lái) ） 。 （一）可靠性篩選 電子元器件老煉 電子元器件經(jīng)篩選后已可正常工作 ， 但它的參數(shù) 、 性能不一定穩(wěn)定 ， 往往需要存放一段時(shí)間或通電工作一段時(shí)間后 ，其參數(shù)才能穩(wěn)定 。如果篩選結(jié)果并不令人滿意，則篩選方案應(yīng)重新擬定； （一）可靠性篩選 篩選方案設(shè)計(jì)原則 5）試驗(yàn)程序必須是加應(yīng)力篩選在前，檢查測(cè)試性篩選在后。 總之，統(tǒng)一的篩選條件只能解決一般問(wèn)題，要解決特殊失效模式帶來(lái)的問(wèn)題，就要制定高效的、特殊的篩選方法。 （一）可靠性篩選 可靠性篩選的方法 大體上分為兩類(lèi)： 一類(lèi) 是一般產(chǎn)品都可運(yùn)用的，如：檢查篩選、高溫貯存、功率老煉、密封檢漏等。 ②工作壽命篩選 包括靜態(tài)、動(dòng)態(tài)工作等。 環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn) 環(huán)境應(yīng)力選擇 環(huán)境應(yīng)力選擇 ESS機(jī)理