【正文】 or Attributes) ( P Chart ) ( Pn Chart or d Chart ) ( C Chart ) ( U Chart ) 管制圖的種類 (用途分類 ) 解析用管制圖 先有數(shù)據(jù) ,后才有管制界限 . . . . 做解析用管制圖時 ,只需觀看該點是否在 管制界限內(nèi) ,不需要去判讀 . 管制用管制圖 先有管制界限 ,后有數(shù)據(jù) 用於控制制程之品質(zhì) ,如有點子跑出界限時 ,立即采取 如下措施 . . . . 統(tǒng)計控制狀態(tài) (State in statistical control): 也稱穩(wěn)態(tài) : 制程中只有偶因而無異因產(chǎn)生的變異狀態(tài) , 統(tǒng)計制程狀態(tài)是生產(chǎn)追求的目標 SPC就是以統(tǒng)計制程狀態(tài) (穩(wěn)態(tài) )作為基準的 使用 SPC容易犯的錯誤 。 一 . 基 礎(chǔ) 篇 SPC基本概念 SPC(Statistical Process Control) 統(tǒng)計制程管制 是 由制程調(diào)查來改進制程能力 ,不斷降低產(chǎn)品品質(zhì)的變異性 ,而達到提升產(chǎn)品品質(zhì)的一種方法 ,其主要工具為管制圖 . 是一套將制程中所收集的資料 ,透過制程能力分析與標準化 ,去發(fā)掘制程異常 ,立即實施改善措施 ,使制程恢復(fù)正常運作的統(tǒng)計手法 . S (Statistical) : 統(tǒng)計 P (Process) : 制程 C (Control) : 管制 SPC管制目的 分辯共同原因與特殊原因 ,并分別加以改善 –局部問題改善 : ? 通常會牽涉到消除變異產(chǎn)生的特殊原因 ? 可以直接由該制程人員直接加以改善 ? 大約能夠解決 15%的制程上的問題 –系統(tǒng)改善 : ? 通常必須要改善造成變異的共同原因 ? 經(jīng)常需要管理階的努力與對策 ? 大約有 85%的問題是屬于此類系統(tǒng)改善 SPC起源與發(fā)展背景 管制圖于 1924年由 Shewhart 發(fā)明 ,并于 1931年發(fā)表了 工業(yè)制品品質(zhì)之經(jīng)濟管制 ,英美及日本都將管制圖制定方法定為國家標準 . SPC的功能 ? SPC可以確?，F(xiàn)場作業(yè)人員的知識和自尊 . ? SPC可以解決 X理論 (提高生產(chǎn)力與品質(zhì) ) 與 Y理論 (工作人性化 )的衝突 . ? SPC可以迅速反映制程調(diào)整的效果 ,指出 制程中最需要解決的問題 .還可徹底消除 問題 ,預(yù)防問題再度發(fā)生 . SPC的觀念 ? 沒有任何兩件事 .人 .產(chǎn)品是一模一樣的 . ? 變異原因是可以衡量的 . ? 事情的改變通常都依據(jù)一個明確的模式 . ? 孫宙萬物和工業(yè)產(chǎn)品大部份都呈現(xiàn) 常態(tài)分配 . 統(tǒng)計數(shù)據(jù)類型 :計量 。計數(shù) 計量性的 例如 : 長度 , 溫度 ,重量 ,電流值等 . 計數(shù)性的 例如 : 一個人 , 一張床 , 一條魚等 品質(zhì)變異之一般統(tǒng)計規(guī)律 : 3σ 2σ 1σ μ +1σ +2σ +3σ % % % % % 常態(tài)分配 : 常 態(tài)分布兩個重要參數(shù) : 平均值 μ :描述品質(zhì)特性值之集中位置 標準差 σ : 描述品質(zhì)特性值之分散程度 請 看以下幾個例子 : 第一組數(shù)據(jù) : 第二組數(shù)據(jù) : 第三組數(shù)據(jù) : 第四組數(shù)據(jù) : 問題一 :它們的平均值相等嗎 ? 問題二 :若 SPEC定 在 177。 2. 規(guī)範(fàn)界限不能用作控制界限 規(guī)範(fàn)界限用以區(qū)分合格與不合格 ,控制界限用以區(qū)分偶波與異波,二者完全是兩碼事 ,不能混淆 . ,只有在樣本大小n相同的情況下 , np圖才可應(yīng)用 . :在制作 X R圖時 ,應(yīng)該先作 R圖 . 若先作 X圖 ,由於 R圖還未判穩(wěn) ,R的數(shù)據(jù)不可用 ,故不可行 。是一種計量值管制圖 . /范圍 /定議 填表人收集數(shù)據(jù)并填制程掌控圖 填表人對制程掌控圖及制程能力進行分析 制程繼續(xù)生產(chǎn) 責(zé)任單位提出改善對策 填表人或品保確認改善對策是否有效 OK NG 2. 制程掌控圖實施流程 OK Start NG 3. 區(qū)域建立程序 步驟 1: 于制程中收集數(shù)據(jù) ,計算制程規(guī)格之中心值 ,中 心值等于上限加下限之和除以 2. 對于長度等下限不為零之尺寸 ,區(qū)域建立程序如下 : 上限 中心值 下限 中心值 = (上限 + 下限 ) / 2 紅區(qū) 上黃 下黃 紅區(qū)綠區(qū)步驟 2: 將公差或規(guī)格值 4等分 ,求出每一區(qū)域的平均值 . 公差或規(guī)格是指上限與下限之間的寬度 . 區(qū)域平均值 = (上限 下限 ) / 4 步驟 3: 由公差或規(guī)格值的 4等分值加上中心值 ,建立上界值 . 上限 上界值 中心值 下限 上界值 = 中心值 + 區(qū)域平均值 紅區(qū) 上黃 下黃 紅區(qū)綠區(qū)步驟 4: 由中心值減去公差或規(guī)格值的 4等分值 ,建立下界值 . 上限 中心值 下界值 下限 下界值 = 中心值 區(qū)域平均值 紅區(qū) 上黃 下黃 紅區(qū)綠區(qū)步驟 1: 于制程中收集數(shù)據(jù) ,以不少于 32個規(guī)格內(nèi)數(shù)據(jù)之平均 值 X作為中心值 . 對于平面度 ,正位度等下限為零之尺寸 ,區(qū)域建立程序 如下 : 上限 中心值 中心值 = Σx/n n≧32 n i=1 紅區(qū) 上黃 下黃 紅區(qū)綠區(qū)步驟 2: 將上限與中心值分為 2等分 ,作為上黃與上綠之分界線 上界值 . 上限 上界值 中心值 上界值 =(中心值 + 上限值 ) / 2 紅區(qū) 上黃 下黃 紅區(qū)綠區(qū)步驟 3: 將 0與中心值分為 2等分 ,作為下黃與下綠之分界值 . 上限 中心值 下界值 0 下界值 = (中心值 + 0) / 2 紅區(qū) 上黃 下黃 紅區(qū)綠區(qū)4. 運用程序 紅區(qū) 上黃 下黃 紅區(qū)綠區(qū)N*步驟 1: 取樣品 N個 : 成型 N=檢驗規(guī)格規(guī)定抽樣數(shù) ,每 cav單獨制作一管制圖 衝壓 N=檢驗規(guī)格規(guī)定抽樣數(shù) ,每 pin單獨制作一管制圖 裝配 ,電鍍 N=5,隨機抽樣 步驟 2: 若只有 1