質量數(shù)據(jù)及分析、統(tǒng)計基本方法(20)-文庫吧資料
2025-01-15 15:51本頁面
【正文】 接上頁 子組容量是否大于或等于 9？ 是 否 是否能方便地計算每個子組的 S值？ 使用 X— R圖 是 否 使用 X— R圖 使用 X— s圖 注：本圖假設測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價并且是適用的。 重新計算控制限 初次研究，應排除有變差的子組，重新計算控制限。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（明顯偏離均值的值已被調換或刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點落在離均值很近之處（對于 25 子組，如果只有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域）則應對下列 情況的一種或更多進行調查： 控制限或描點計算錯描錯 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個 不同平均性能的過程流的測量 尋找并糾正特殊原因 當有任何變差時，應立即進行分析，以便識別條件并防止 再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的， 希望操作者和檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。 b 一般情況，各點與均值的距離：大約 2/3的描點應落在控制 限的中間 1/3的區(qū)域內，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 測量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗人或新的量具 過程性能已惡化 b 低于均值的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： 過程性能已改進 測量系統(tǒng)的改好 注：當 np 很小時 （ 5以下 ） ， 出現(xiàn)低于 P 的鏈的可能性增加 ， 因此有必要用長度為 8點或更多的點的長鏈作為不合格 品率降低的標志 。 測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進。 過程惡化。 超出控制限的點 a 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種 或幾種： 控制限計算錯誤或描點時描錯 。 (初始研究時 ， 這些被認為是試驗控制限 。 3 P ( 1 – P ) / n = P 177。 B、 分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒有超出該范圍 的子組。方法如下： A、 確定可能超出其平均值 177。 計算控制限 計算過程平均不合格品率 （ P） P=（ n1p1+n2p2+…+ nkpk） / (n1+n2+…+ nk) 式中： n1p1； nkpk 分別為每個子組內的不合格的數(shù)目 n1； nk為每個子組的檢驗總數(shù) 計算上下控制限（ UCL； LCL） UCLp = P + 3 P ( 1– P ) / n LCLp = P – 3 P ( 1– P ) / n P 為平均不良率； n 為樣本容量 注： 從上述公式看出 ， 凡是各組容量不一樣 ， 控制限隨之 變化 。 將不合格品率描繪在控制圖上 a 描點 ， 連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢 。 計算每個子組內的不合格品率 （ P） P=np /n n為每組檢驗的產(chǎn)品的數(shù)量； np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。 子組數(shù)量： 收集的時間足夠長 ， 使得可以找到所有可能影響 過程的變差源 。 收集數(shù)據(jù) 選擇子組的容量、頻率和數(shù)量 子組容量 ：子組容量足夠大（最好能恒定），并包括幾個不 合格品。 ? 觀察控制圖的數(shù)據(jù)位置，可以了解過程情況有無改變。 ? 根據(jù)小概率事件可以“忽略”的原則：如果出現(xiàn)超出 μ177。（見例圖） 控制圖的原理 ? 當質量特性的隨機變量 x服從正態(tài)分布時，則x落在 μ177。另外，測量方法或測量用表讀數(shù)有問題時也容易出現(xiàn)此型。 直方圖分布狀態(tài)與分析 ? 。 直方圖分布狀態(tài)與分析 ? g. 孤島型。當工序能力不足時為找到適合標準的產(chǎn)品而做全數(shù)檢查時多出現(xiàn)此型，也就是說用剔除不合格產(chǎn)品的產(chǎn)品數(shù)據(jù)作直方圖時易出現(xiàn)此型。常常是由于在生產(chǎn)過程中有某中緩慢的傾向在起作用時多出現(xiàn)此型，如刀具的磨損，操作者的疲勞等。常常是兩種不同的分布混合在一起時多出現(xiàn)此型，如兩臺設備或不同原料所生產(chǎn)的產(chǎn)品混在一起的情況。由于某種因素使上限受到限制時多出現(xiàn)此型。 由于某種因素使下限受到限制時多出現(xiàn)此型 ， 如清潔度近于零 ， 缺陷數(shù)近于零 ， 孔加工尺寸偏小等 。 ? 5:超差型 :質量特性分布范圍過分地偏離公差范圍 ,已明顯看出超差 ,應立限采取措施加以糾正 。 ? 2:單側型 :質量特性分布范圍 B雖然也落在公差范圍內 ,但因偏向一邊 ,故有超差的可能 ,應采取措施糾正 。 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 第二步：計算極差 ? R= XmaxXmin== 第三步：設定組數(shù)，計算組距 ?有上表，設定組數(shù) k=10，測量值最小單位為 ?則 組距（ h） =R/k=≈ 數(shù)據(jù)個數(shù)（ n ） 組數(shù)（k）50 以內 5~750100 6~10100250 7~12250 以上 10~12確定組數(shù)（ k ）表 第四步：計算組邊界和中心值 ? 第一組下限值 =Xmin測量最小單位的一半 == ? 第二組下限值 =+= ? 第一組中心值 =（ +）247。（見例圖 ） 例：頻數(shù)表 不良項目 不良數(shù) 不良率 累計不良率 沾錫渣 31 % % 骨架破 18 % % 磁芯破損 13 % 85% 膠帶破 7 % % 焊點高 2 % % 其它 2 % 100% 合計 73 100% 排列圖不良率與累計不良率計算 1：不良率 P=單項不良數(shù) /總不良數(shù)
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