現(xiàn)代測試分析技術(shù)在礦物材料中的應(yīng)用研究-文庫吧資料
2025-08-11 09:43本頁面
【正文】 礦物材料的研究中,除了基本的成分測定外,對其形貌、結(jié)構(gòu)和賦存狀態(tài)進行研究也是非常重要的。一般用來對各種元素(氫除外)進行定性或半定量分析,也可進行化學(xué)價態(tài)、化學(xué)結(jié)構(gòu)和物理狀態(tài)的研究〔4〕。X射線光電子能譜可用來進行測試固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)樣品。其原理是由于光與物質(zhì)相互作用會產(chǎn)生光電效應(yīng),X射線的能量轉(zhuǎn)化為光電子的動能。如地質(zhì)樣品中金、銀、鉈等元素的測定,砂金礦中金、銀含量的測定,粗銅礦中金、銀元素的測定,鈦礦中的鈣元素,銅鉛鋅精礦中的汞元素和鈷元素,礦石中的鐵、鉛、鋅等。缺點是不能同時進行多個元素的測定,另外對一些礦物中含量較低的金屬元素靈敏度不高。分析速度快,測定元素分布范圍廣,可測定70多個元素,基本上覆蓋了常用礦物材料中的金屬元素。原子吸收分光光度法的優(yōu)點是檢出限低、靈敏度高,石墨爐原子吸收法的檢出限可達到10 10～10 14g?！≡游辗止夤舛确?AAS)在上世紀50年代,原子吸收分光光度法作為一種現(xiàn)代測試分析技術(shù)開始應(yīng)用,并在以后幾十年得到快速發(fā)展。其特點是分析微區(qū)小、靈敏度高、屬于無損分析,可分析元素范圍大,特別適合于礦物材料組織結(jié)構(gòu)和元素分布狀態(tài)的精確分析。電子探針微束分析是一種成分分析和顯微分析相結(jié)合測試技術(shù),不僅可以用來測定試樣的成分,還可以準確快速地對試樣某一區(qū)域內(nèi)的成分進行分析測定〔3〕?！‰娮犹结槣y試分析(EPMA)電子探針的全稱是電子探針X射線顯微分析儀,它利用聚焦極細的電子束轟擊固體試樣的表面,根據(jù)微區(qū)內(nèi)發(fā)射的X射線的波長及強度對試樣進行定性和定量分析〔2〕。對礦物材料進行成分分析最常用的現(xiàn)代測試儀器有電子探針(EPMA)、原子吸收分光光度計(AAS)、俄歇電子能譜儀(AES)、X射線光電子能譜儀(XPS)、紫外光電子能譜儀(VPS)、X射線熒光光譜儀(XRF)、電子能譜儀(ESCA)、同位素質(zhì)譜儀(ATMS)、氣相色譜儀(GC)和液相色譜儀(LC)等。但是傳統(tǒng)的分析測試方法也有明顯的缺點,如化學(xué)分析所需的礦樣用量相對較多,對于測定痕量目的元素準確度不高,而且一般必須對所測礦物進行粉碎研磨,這對于一些需無損分析的礦物試樣(如寶玉石礦物)來說就顯得無能為力。3 現(xiàn)代測試分析方法在礦物材料研究中的應(yīng)用 對物質(zhì)化學(xué)成分的測定定性和定量測定物質(zhì)的化學(xué)成分是對礦物進行分析最基本的測試內(nèi)容,也是對礦物進行結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、形態(tài)等礦相
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