msa量測(cè)系統(tǒng)分析報(bào)告-文庫(kù)吧資料
2025-05-19 22:32本頁(yè)面
【正文】 價(jià)人採(cǎi)用最 初的儀器重複這些謮數(shù)或剔除這些值並由其餘觀測(cè)值再次平均並計(jì)算R和極限 值。圈出那些超出極限的值。評(píng)價(jià)人／試驗(yàn)次數(shù)零 件平均值12345678910 1. A 1 2. 2 3. 3 4. 平均值Xa= 5. 全距Ra= 6. B 1 7. 2 8. 3 9. 平均值Xb= 10. 全距Rb= 11. C 1 12. 2 13. 3 14. 平均值Xc= 15. 全距Rc=X03 16. 零件 平均值(XP)X=Rp= 17.〔Ra=〕+〔Rb=〕+〔Rc=〕/〔評(píng)價(jià)人數(shù)=3〕 18.〔MaxX=〕－〔MinX=〕=XDIFF 19.〔R=〕〔D4*=〕= UCLR 20.〔R=〕〔D3*=〕= LCLR＊ 2次試驗(yàn)時(shí)D4=，3次試驗(yàn)時(shí)D4=。 15)檢查結(jié)果，確認(rèn)沒(méi)有錯(cuò)誤。(表8) 13)執(zhí)行報(bào)告表左邊標(biāo)示為”量測(cè)單元分析”的各項(xiàng)計(jì)算。(表7) 11)將零件平均值的最大減最小的差記入第16行標(biāo)示Rp處，Rp是零 件平均值的全距。 9) 其差記錄在第18行標(biāo)示為X Diff處。 7)將各行加總()，將各行的總和除以取樣零 件數(shù)，將此值記錄在最右邊一列標(biāo)示為”平均值”處。將導(dǎo)致失去管制的特殊原因改正。 6)如有全距超過(guò)計(jì)算的UCLR，則依原來(lái)方法請(qǐng)相同的作業(yè)者將相同的 零件重測(cè)一次。將個(gè)別 全距的上管制界限(UCLR)的值記入第19行。 4)將第10及15行的平均值(Ra、Rb、Re)載記到第17行，將其加總後除以作業(yè)者人數(shù)而得的數(shù)值記入R (所有全距的平均值) (表7)。 2)第10行及15行之記錄應(yīng)為正值(表7)。（如：零件與作業(yè)影響之間的交互作用）缺點(diǎn)：須以電腦配合專(zhuān)用軟體來(lái)作數(shù)字運(yùn)算及使用者需經(jīng)一定的訓(xùn)練以解釋結(jié)果。註?變異數(shù)(ANOVA)分析法：是一種標(biāo)準(zhǔn)的統(tǒng)計(jì)技巧能用來(lái)分析量測(cè)誤差及在量具研究數(shù)據(jù)中其他變異數(shù)分析中變異性的來(lái)源，在變異數(shù)將被區(qū)分為4種：零件、作業(yè)者、零件與作業(yè)者的交互作用及量具生產(chǎn)複製誤差。建議使用時(shí)機(jī)：製程較不安定、零件變異較大時(shí)，較宜採(cǎi)用平均值與全距法(Xamp。研究方法：雖然作業(yè)者人數(shù)、量測(cè)次數(shù)及零件數(shù)可能改變，amp。註?平均值與全距法（X＆R）：是一種數(shù)學(xué)的方法，可用來(lái)分析量測(cè)系統(tǒng)的再現(xiàn)性與再生性。R若大於等於≧20%，則此量測(cè)系統(tǒng)須加以改善。R為GR＆R5100除以製程差異(或公差)。R)()。研究方法：(參考附件一表格)(a) 以二位之作業(yè)者與5件零件來(lái)作研究，每位作業(yè)者均量測(cè)每零件一次，每個(gè)零件之全距為二位作業(yè)者量測(cè)值之差，再計(jì)算得全距總和及平均全距。(註?)(3) 變異數(shù)分析(ANOVA)法。214再現(xiàn)性與再生性之準(zhǔn)則：(1) 全距法。(3) 再依每一個(gè)零件之標(biāo)準(zhǔn)量測(cè)值與觀測(cè)平均值之差來(lái)決定量具標(biāo)準(zhǔn)度平均值。213線性之準(zhǔn)則：(1) 藉著選擇零件在量具整個(gè)作業(yè)的範(fàn)圍方式，可用來(lái)決定線性。(2) 定時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)件或樣本量測(cè)至少3~5次，並製XR CHART。(3) 計(jì)算平均值，雙者之差即為準(zhǔn)確度。)二、計(jì)量值量測(cè)系統(tǒng)研究 21計(jì)量值量測(cè)系統(tǒng)研究 211 偏性之準(zhǔn)則：(1) 建立可追溯標(biāo)準(zhǔn)真值之樣本。如果可能，讀數(shù)要精確到最小刻 度的一半。 。需要注意下列以下四件事： ，「謹(jǐn)慎從事」的重要性的人來(lái)完成這 項(xiàng)研究。(。 對(duì)每個(gè)零組件進(jìn)行編號(hào)以便於識(shí)別。 。 、樣本數(shù)，以及重複的量測(cè)結(jié)果次數(shù)。R)應(yīng)用與判讀一、量測(cè)系統(tǒng)研究的準(zhǔn)備 11 量測(cè)系統(tǒng)研究的準(zhǔn)備步驟 量測(cè)系統(tǒng)研究必須是有計(jì)畫(huà)的，以達(dá)到瞭解你的量測(cè)系統(tǒng)能力的目 的。 ，且可否為可接受之水準(zhǔn)？ (Gage Performance Curve — 量具績(jī)效曲線)，此一曲線指出含合格產(chǎn)品被接受之機(jī)率多少。 。)m23456789101112131415123456g789101112131415＞15d2表二、量測(cè)系統(tǒng)研究之應(yīng)用 。作業(yè)者B作業(yè)者C作業(yè)者A 再生性 量具再生性 1)再生性的計(jì)算 將第8頁(yè)表中你的X數(shù)據(jù)和你同伴的X數(shù)據(jù)抄入下表：零組件編號(hào)12345量測(cè)者1的平均值X量測(cè)者2的平均值X 估計(jì)的量測(cè)者標(biāo)準(zhǔn)差是藉由確定每位量測(cè)者的量測(cè)平均值，然後算出平均值的全距(R = X 最大－X 最小 )，再除以d2而估算出來(lái)的。 (公式中，它表示由這些量測(cè)者、零組件和設(shè)備所獲得的再現(xiàn)性結(jié)果落在計(jì)算的變異性全距內(nèi)的信賴(lài)度為99%。3 全距 = 每一樣本量測(cè)值中最大值－最小值 X = 平均值之和／5 = R = 全距之和／5 = 1 再現(xiàn)性演練 再現(xiàn)性作業(yè)單 分別計(jì)算全距的上、下管制極限值，UCLR和LCLR UCLR = RD4 = 1 = LCLR = RD3 = 1 0 = 0 (D3和D4是用於計(jì)算全距管制極限值的常數(shù)。然後，再重複量測(cè)兩次。 14 再現(xiàn)性(REPEATABILITY) 再現(xiàn)性是指一種量具、一位作業(yè)者，當(dāng)多次量測(cè)相同零件之指定特性時(shí)所得之變異。 。觀測(cè)平均值 真值 (好) 準(zhǔn)確度值低 觀測(cè)平均值 真值 (壞) 準(zhǔn)確度值高 量具線性 如果量具具有非直線
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