有害物質(zhì)相關(guān)法規(guī)介紹-文庫(kù)吧資料
2025-05-11 22:30本頁(yè)面
【正文】 pm Chlorine (Cl) + Bromine (Br) 1500 ppm 額外的限制 鹵素于工業(yè)上的應(yīng)用 無(wú)鹵高風(fēng)險(xiǎn)部件 限用物質(zhì) 物料 Bromine (Br) ?PCB ?FPC ?集成電路或其他具有塑料封裝的電子零件 ?連接器 ?AC plug (duck head) ?風(fēng)扇 ?絕緣體 ?塑料零件 ?墊圈 ?標(biāo)簽，貼紙和膠帶 Chlorine (Cl) ?內(nèi)部纜線 ?電源線和外部纜線組件 ?緩沖器，腳墊，防震支架 Chlorine (Cl) + Bromine (Br) 電池包裝， AC adapter，電源，面板，硬盒，光驅(qū)，轉(zhuǎn)換器，喇叭，風(fēng)扇，和其他含以上部件的組件 國(guó)際大廠無(wú)鹵時(shí)程表 無(wú)鹵檢測(cè) ? XRF快速篩選測(cè)試 XRF能在不破壞樣品的情形下，準(zhǔn)確且快速進(jìn)行 Cl、 Br含量 測(cè)試 ? 鹵素化學(xué)濕式分析 以 IC(離子層析儀 )進(jìn)行分析，可同時(shí) 檢 測(cè) F、 Cl、 Br、 I含量 ? 鹵素阻燃劑 (BFRs,CFRs)化學(xué)濕式分析 (并非所有 BFRs及 CFRs皆可檢測(cè) ) 以 GC/MS(氣相層析質(zhì)譜儀 )進(jìn)行定量分析 ? PVC鑒定分析 利用 FTIR(傅立葉變換紅外線光譜儀 )進(jìn)行 定性測(cè)試 XRF無(wú)鹵快速篩選檢測(cè) ? 原理是利用一個(gè)高能的 X光放射線進(jìn)入原子的最內(nèi)殼層，將內(nèi)層電子激發(fā)移除，接著外層電子則轉(zhuǎn)移填補(bǔ)被激出電子的空位，并放出熒光 X射線，由放射出熒光能量強(qiáng)度進(jìn)行元素之定性定量 ? 可快速篩選 Cl及 Br的含量 1次 X射線 Br和 Cl的熒光 X射線 △ 溴 (Br) ○ 氯 (Cl) XRF針對(duì) Cl檢測(cè)重點(diǎn) ? Cl標(biāo)準(zhǔn)品進(jìn)行比對(duì)定量 ? 大氣環(huán)境之影響 ? 感度提高 ? 共存元素干擾 非單純以 Cl標(biāo)準(zhǔn)品建立檢量線 (工作曲線 )即可達(dá)到精確定量 ! ? 以已知濃度的 Cl標(biāo)準(zhǔn)品建立檢量線 (工作曲線 )，比對(duì)未知濃度樣品的強(qiáng)度來(lái)進(jìn)行定量 Cl標(biāo)準(zhǔn)品 ppm ? 大氣中含氬氣 (Ar)會(huì)干擾 Cl的濃度 ? Cl (Ka=) ? Ar (Ka=) ? 空氣會(huì)吸收低能量 X ray (Na~Cl的特性能量 )，使 Cl濃度下降 大氣環(huán)境之影響 大氣 真空 ? 調(diào)整激發(fā)電源， 最佳激發(fā)電壓應(yīng)為界于 7~15 KV(端視 Cl的濃度而定 ) ? Cl專用濾波器，降低來(lái)自于 X光管激發(fā)時(shí)所產(chǎn)生的連續(xù)光譜能量 (噪聲 ) 感度提高 無(wú) Cl濾波器 有 Cl濾波器 受到銠的散亂射線干擾 共存元素干擾 ? 待測(cè)樣品中共存元素的干擾包括： ? 共存元素 (P, S, Ca, Ti, Ba)吸收 Cl的 X ray ? 共存元素的逃離波峰 條件 無(wú) Ba Ba4％ Cl濃度 500ppm 320ppm IC (離子層析儀 )無(wú)鹵檢測(cè) ? 樣品在密閉充氧的氧彈中，燃燒氧化后，以吸收液吸收含鹵氣體，再以使 IC層析分離出
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