【正文】 缺點 ? 代表性差 ? 重復(fù)性差 ? 測量投影面積直徑 ? 速度慢 顯微鏡法 當(dāng)光線通過不均勻介質(zhì)時，會發(fā)生偏離其直線傳播方向的散射現(xiàn)象，散射光形式中包含有散射體大小、形狀、結(jié)構(gòu)以及成分、組成和濃度等信息。圖 216是顯微鏡法常用的 2種顆?！俺叽纭钡谋硎痉椒?。 粒度測量方法 B 粒度測量 顯微鏡法測量的是顆粒的表觀粒度，即顆粒的投影尺寸。 粒度測量方法 A 樣品制備 四分法 取樣 ： 將 ，用小勺充分混合，分割成四塊，取其中兩塊混合，再分割為四塊，再取出兩塊，以此做下去，直到剩余顆粒的重量約 克為止。 顯微鏡測量的樣品量極少，取樣和制樣時，保證樣品有充分的代表性和良好的分散性。 ?2．顯微鏡法 粒度測量方法 光學(xué)顯微鏡 ：分辨率 ： ， 用于 ~200μm 顆粒的測量。 （ 40μm ~100mm），微孔篩（可至 5μm，甚至更小） 篩分的優(yōu)缺點 優(yōu)點 ? 統(tǒng)計量大 , 代表性強 ? 便宜 ? 原理簡單、直觀，操作方便，易于實現(xiàn) 缺點 ? 下限 38微米； ? 人為因素影響大； ? 重復(fù)性差； ? 篩分過程振動強烈，某些顆粒極易破損，影響粒度分布； ? 速度慢。 粒度測量方法 套篩 圖 214 粒度測量方法 國際標(biāo)準(zhǔn)篩制： Tyler(泰勒 )標(biāo)準(zhǔn) 目數(shù) m：為篩網(wǎng)上 1英 （ ） 寸長度內(nèi)的網(wǎng)孔數(shù) 2 5 . 4mad?? (a， d單位 mm) a d 如： 200目的篩，網(wǎng)絲直徑為，篩孔尺寸為 。 解：取 mm為粒徑單位，由表 211中的數(shù)據(jù)在 RR圖上作圖，如圖 213所示，由圖中查得 De=， n=，SVDe=。 l g ( ) l g l gl g l g100l g l g(lg gl lg)pepeppDneDnDDnRen DDc??????????????? ? ? ????100lg lg()pRD????????????() e x p [ ( ) ]100 ??pp neR D DDSVDe 圖 212 RosinRammler圖 例題 22： 用沖擊磨粉碎啤酒瓶，試料全部通過 標(biāo)準(zhǔn)篩，用標(biāo)準(zhǔn)篩測定粒度的結(jié)果見表 211，用這些數(shù)值在 RR圖上作圖，并求 De、 n值，寫出 RR分布式。 1( ) 1 0 0 e 3 6 . 8 %peR D D?? ? ?將式 的倒數(shù)取兩次對數(shù)得 以 lgDp為橫坐標(biāo)，以 為縱坐標(biāo)作圖呈一直線，此圖為 RosinRammler圖。D lsD表 210 ( ) 1 0 0 e x p [ ( ) ]p npeDRDD??羅辛 — 拉姆勒（ RosinRammler）分布 累積篩上分布函數(shù)表達式為： 其頻率分布為： 1()( ) 100 e xp[ ( ) ]??? ? ? ?p n n nPp e ppedR D Df D nD DdD D()pRDeD—— 累計篩余百分?jǐn)?shù)； —— 特征粒徑，表示累積篩余為 %時的粒徑； n —— 均勻性系數(shù)，表示粒度分布范圍的寬窄程度， n值越小，粒度分布范圍越寬。250 5039。同時還可計算出上述的 9個平均粒徑和每千克樣品中含有的顆粒個數(shù) n和比表面積 SW。 ? 解 :如圖 211所示作圖，從圖中可查出 D50和 ，即可計算出 σg 和 lnσg 。25 0 5 039。 84. 13 5050 15. 87==DDDD??圖 28 ＊ 對數(shù)正態(tài)分布 : 對數(shù)正態(tài)分布的 頻率分布曲線 為 ： 84 . 13 5084 . 13 5050 15 . 87l g l g l g??? ? ? ? ?gg DDDDDD平均粒徑的計算 ? 用對數(shù)正態(tài)分布，可求平均粒徑的計算式。 g()( l g l g )i i n Li i gn d DNn d DN????????＊ 正態(tài)分布 ：正態(tài)分布的分布函數(shù) f(Dp)可用下述數(shù)學(xué)式表示： 粒度分布函數(shù) 5022nn50== ( ) ( )PPP P PD D DD D D Diii=1 i=1— — 平 均 粒 徑 ， ；— — 分 布 的 標(biāo) 準(zhǔn) 偏 差 ， ff?? ? ? ???正態(tài)分布的頻率分布曲線為： 圖 27 符合累積正態(tài)分布的粉體在正態(tài)概率紙上呈一直線。 ＊ 標(biāo)準(zhǔn)偏差： 表示粒度頻率分布離散程度的參數(shù)，其值越小， 說明分布越集中，曲線越瘦（越窄）。 1?? ??444 , 3 33=??? ? ? ???nV M wnfdndD D f dn d f d體積（質(zhì)量）平均徑 表征粒度分布的特征參數(shù) ＊ 中位粒徑 D50：把樣品的個數(shù)（或質(zhì)量）分成相等兩部分的顆粒粒徑。 ? （二） nndDDnL ??????0,10,1 ??ndndDDLS ?????? 21,21,2 ??33 , 2 213 , 2 SV ndDDndDnd nd? ??? ??? ????? ?? ????????343,43,4 ndndDDVM ?????? ??平均粒徑 Dnl—— 個數(shù)長度平均徑； Dls—— 長度表面積平均徑； Dsv —— 表面積體積平均徑，又稱 Sauter平均徑； DvM—— 體積四次矩平均徑。 平均粒徑 以上平均徑的 共同特征 ：以顆粒群的個數(shù)去均分粒度之和、總表面或總體積所得的平均徑。、 dn ，相對應(yīng)的顆粒個數(shù)為 n n n3……n n，試由上述性質(zhì)推導(dǎo)平均粒徑。 平均粒徑 ?平均粒徑定義 ： ?設(shè)顆粒群是由粒徑 d d d dn。 m i nm a x( ) ( )( ) ( )()()()()()()PPDP P PDDP P PDPPPPPPD D f D dDR D f D dDdD DfDdDdR DfDdD???????累積分布 ? 在粉體粒度的測定中，采用各式各樣的平均粒徑，來定量地表達顆粒群（多分散體）的粒度大小。篩下累積分布常用 D(DP)表示；篩上累積分布常用 R(DP)表示。 粒度分布 n( ) 1 0 0 %pPfD N??n( ) 1 0 0 %pPfD N? ? ?或者 h △ Dp/μm np Di/μm f(△ Dp)/% 1 ~ 5 2 ~ 9 3 ~ 11 4 ~ 28 5 ~ 58 6 ~ 60 7 ~ 54 8 ~ 36 9 ~ 17 10 ~ 12 11 ~ 6 12 ~ 4 總和 300 100 表 25 顆粒大小的分布數(shù)據(jù) 最?。? 最大： ? 頻率分布曲線與橫坐標(biāo)軸圍成的面積為： m a xm in( ) 1d ppd f D d D ??累積分布 把顆粒大小的頻率分布按一定方式累積，便得到相應(yīng)的累積分布。 粒度的頻率分布 在粉體樣品中，某一粒度大小 (用 Dp表示 )或某一粒度大小范圍內(nèi) (用 ΔDp)的顆粒 (與之相對應(yīng)的顆粒個數(shù)為 np)在樣品中出現(xiàn)的質(zhì)量分?jǐn)?shù) (％ )，即為頻率或頻度，用f(Dp)或 f(ΔDp)表示。 顆粒分布范圍 越窄 ，其分布的分散程度就越小， 集中度也越高 。 顆粒粒度都相等或近似相等，稱為 單粒度或單分散的體系 。 =? c 與 顆 粒 投 影 面 積 相 等 的 圓 的 周 長圓 形 度顆 粒 投 影 輪 廓 的 長 度? 圓形度 ? 表面粗糙度 ε =? 顆 粒 投 影 周 長 / 相 同 面 積 橢 圓 的 周 長167。 1c? ?顆粒的形狀系數(shù) c ? 表 2 4 一些規(guī)則形狀體的球形度 球體 =1 圓柱體（ d=h ） = 立方體 = 正四面體 = 圓柱 (d ： h=1 ： 10) = 圓板 (d ： h=10 ： 1) = c?c?c?c?c?c? 對于形狀不規(guī)則的顆粒，當(dāng)測定其表面積困難時，可采用實用球形度 39。 22vv23222v22dddcsssscs s v Vddddd d d d???????? ????? ? ? ?vsvsv svφd或 者 ， d=d dφ顆粒的形狀系數(shù) 顆粒的形狀指數(shù) ? 形狀指數(shù)與形狀系數(shù)不同，它與具體物理現(xiàn)象無關(guān)，用各種數(shù)學(xué)式來表達顆