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電子元器件材料檢驗(yàn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)書-文庫(kù)吧資料

2025-04-13 21:50本頁(yè)面
  

【正文】 每秒鐘左右后拿起觀看PIN沾上現(xiàn)使用之合格的松香水,再插入小錫爐(將目檢可焊性檢驗(yàn)MA本體變形,破損等不可接受;極性等標(biāo)記符號(hào)印刷不清,難以辨認(rèn)不可接受;b.實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。Label目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.P/NLABEL檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注(四) 插件用電解電容.包裝檢驗(yàn)MAa.參考文件《LCR主要缺點(diǎn)(MA):4.II抽樣計(jì)劃依適用范圍適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗(yàn)。人員檢驗(yàn)插件用電解電容類物料之依據(jù)。目的作為和"數(shù)字萬(wàn)用表操作指引"。檢驗(yàn)方法見"LCR元件進(jìn)行檢測(cè);AQL二極管,執(zhí)行抽樣計(jì)劃時(shí)來料數(shù)量以盤為單位,樣本數(shù)也以盤為單位;從抽檢的每盤中取備注抽樣計(jì)劃說明:對(duì)于1,而反向測(cè)量讀數(shù)需無窮大;否則該二極管不合格。注:有標(biāo)記的一端為負(fù)極。法LED選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔,正向測(cè)量,LED方測(cè)二極管類型檢電性檢驗(yàn)MA元件實(shí)際測(cè)量值超出偏差范圍內(nèi).LCR氧化生銹,或上錫不良,均不可接受;目檢10,且未露出基質(zhì),目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MALabel目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.b.P/NLABEL數(shù)字電橋操作指引》《數(shù)字萬(wàn)用表操作指引》檢驗(yàn)項(xiàng)目 缺陷屬性 缺陷描述 檢驗(yàn)方式 備注a..5.次要缺點(diǎn)(MI):0。正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》。MILSTD105E,LEVEL3.2.IQC貼片元件檢驗(yàn)規(guī)范(電容,電阻,電感…)1.(三)20%RH須進(jìn)行拆封檢驗(yàn)。上拉前在僅進(jìn)行包裝檢驗(yàn),并加蓋免檢印章;該備注:凡用于真空完全密閉方式包裝的缺損或少腳,均不可接受;目檢或10Pin,且未露出基質(zhì),元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔,其面積不超2過錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受;b.BGA)外觀檢驗(yàn)MAa.目檢點(diǎn)數(shù)(二)IC上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;b.實(shí)際包裝數(shù)量與包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接受。及實(shí)物是否都正確,任何有誤,均不可接受。上的根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或.5.次要缺點(diǎn)(MI):0。(AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR):II抽樣計(jì)劃依BGA)之檢驗(yàn)。適用范圍適用于本公司所有類物料之依據(jù)。人員檢驗(yàn)?zāi)康淖鳛镻CB(如圖一).PCB板彎、板翹與板扭之測(cè)量方法.露銅MA。的關(guān)鍵位置,唯測(cè)試探針之針點(diǎn)可允收,凹陷長(zhǎng)度不可超過金手指凹陷、凹洞見底材或銅面刮傷,不得在金手指中間目檢金手指G/F污染MAa.度方向垂直拉起,不可有脫落或翹起之現(xiàn)象。秒,以25mm,經(jīng)過G/F3M鍍層剝離MAa.變色MA。刮傷MA。%。鍍層不可有翹起或脫落現(xiàn)象且焊錫性應(yīng)良好。不可印錯(cuò)或漏印。MODEL目檢Model目檢異丙醇文字覆蓋目檢印錯(cuò)MA、零件符號(hào)及圖案等不可印錯(cuò)。所有文字、符號(hào)均需清晰且能辨認(rèn),文字上線條之中斷程度以可辨認(rèn)該文字為主。目檢基板變色MA。塞規(guī)平板玻璃板面污染MAa.板彎,板翹與板扭之允收百分比最大值為板彎amp。的板長(zhǎng)和寬分別卡目檢尺外觀參考不同分層MAMA)厚度為泡和分層完全不允許。%(棕化亦同)。觀化MAa.目檢目檢外內(nèi)層黑(棕)a.號(hào)碼、生產(chǎn)日期、露銅、沾附防焊油墨及異VendorMark;生產(chǎn)日期度放大鏡目檢BGA區(qū)域不得有補(bǔ)線。區(qū)域補(bǔ)線MA大a.45目檢檢驗(yàn)項(xiàng)目缺點(diǎn)名稱缺點(diǎn)定義檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)方式備注板角撞傷MAa.目檢、放大鏡變形 MA a.錫墊之缺口、凹
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