電子系統(tǒng)可測性建模和分析軟件設(shè)計(jì)學(xué)位論文開題報告表-文庫吧資料
2025-01-27 16:45本頁面
【正文】 工程系統(tǒng)可測性設(shè)計(jì)與分析也具有良好的示范作用——雖然本項(xiàng)目主要以復(fù)雜電子系統(tǒng)為研究對象，但是其中的可測性建模與分析方法經(jīng)適當(dāng)調(diào)整也適用于其他復(fù)雜工程系統(tǒng)（如航空航天、電力系統(tǒng)、汽車等）的可測性分析。3本項(xiàng)目的研究意義開發(fā)具有自主知識版權(quán)的復(fù)雜電子系統(tǒng)可測性建模與分析軟件系統(tǒng)——通過對可測性建模與最優(yōu)測試方法關(guān)鍵技術(shù)的研究，可以開發(fā)出具有自主知識版權(quán)的復(fù)雜電子系統(tǒng)可測性建模與分析軟件平臺。 但是，現(xiàn)在國內(nèi)測試性技術(shù)知識尚不夠普及，國內(nèi)關(guān)于可測性方面的論文與著作，主要是關(guān)于集成電路方面的可測性設(shè)計(jì)，討論復(fù)雜電子系統(tǒng)系統(tǒng)級可測性分析與設(shè)計(jì)的文獻(xiàn)較少，更沒有成熟的計(jì)算機(jī)輔助建模與仿真分析軟件工具。電子科技大學(xué)在為某基地進(jìn)行“XX”型號電子裝備自動化測試系統(tǒng)研制時，基地的專家迫切希望我們能為他們提供復(fù)雜電子系統(tǒng)可測性設(shè)計(jì)與仿真平臺。1990年4月發(fā)布了航標(biāo)HB643790《電子系統(tǒng)和設(shè)備的可測試性大綱》,1995年10月發(fā)布國軍標(biāo)GJB254795《裝備測試性大綱》。以前對武器裝備測試性幾乎無要求,在設(shè)備研制時很少考慮測試性問題。為了便于比較，使用1979年海軍資源模型得出的F4J飛機(jī)使用數(shù)據(jù)，制定出相當(dāng)于F18飛機(jī)服役20年的飛行計(jì)劃，共計(jì)262萬飛行小時，總的作戰(zhàn)支援保障費(fèi)用與F4J飛機(jī)相比，可節(jié)約20多億美元（1981年美元值）。與它要替換的F4J飛機(jī)相比，每飛行小時所需的平均維修工時，由48h（小時）降低到18h，節(jié)約了30h。美國通過重視武器裝備中軍用電子系統(tǒng)的可測性設(shè)計(jì)工作，使武器系統(tǒng)全壽命周期費(fèi)用大大降低[67]。至2003年除個別的需求外，美國的ATS已實(shí)現(xiàn)三軍統(tǒng)一體系結(jié)構(gòu)，儀器模塊已全部納入標(biāo)準(zhǔn)系列，ATS可實(shí)現(xiàn)互連、互換、互操作。1991年美國國防部正式頒發(fā)MIL—STD—1814《綜合診斷》標(biāo)準(zhǔn)，作為提高新一代武器系統(tǒng)的戰(zhàn)備完好性和降低使用保障費(fèi)用的主要技術(shù)途徑，標(biāo)志著測試性的發(fā)展進(jìn)入一個新的階段。80年代中，美國軍方相繼實(shí)施了綜合診斷研究計(jì)劃，如空軍的通用綜合維修和診斷系統(tǒng)(GIMADS)計(jì)劃，海軍的綜合診斷保障系統(tǒng)(IDSS)計(jì)劃等。1985年，美國國防部頒發(fā)了MIL—STD—2165《電子系統(tǒng)及設(shè)備的測試性大綱》，該大綱把測試性作為與可靠性及維修性等同的設(shè)計(jì)要求，并規(guī)定了電子系統(tǒng)及設(shè)備各研制階段中應(yīng)實(shí)施的測試性分析、設(shè)計(jì)及驗(yàn)證的要求及實(shí)施方法。同年12月，美國國防部頒發(fā)的MIL—STD—471A通告2《設(shè)備或系統(tǒng)的BIT、外部測試、故障隔離和測試性特性要求的驗(yàn)證及評價》，規(guī)定了測試性的驗(yàn)證及評價的方法及程序。但是目前國內(nèi)外關(guān)于可測性設(shè)計(jì)與分析方面的文獻(xiàn)主要是關(guān)于電路與芯片方面的，而在復(fù)雜電子系統(tǒng)系統(tǒng)級可測性設(shè)計(jì)與分析方面的文獻(xiàn)較少，下面對國內(nèi)外復(fù)雜電子系統(tǒng)系統(tǒng)級可測性建模與分析方法進(jìn)行簡要闡述：（1）美國在系統(tǒng)級可測性研究方面的進(jìn)展1976年，美國海軍電子實(shí)驗(yàn)室在機(jī)內(nèi)測試(BIT)設(shè)計(jì)指南、美國空軍在模塊化自動測試設(shè)備計(jì)劃等都涉及到測試性的研究。此外在某些可測性設(shè)計(jì)領(lǐng)域已經(jīng)形成了集成電路設(shè)計(jì)的有關(guān)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。2國內(nèi)外研究現(xiàn)狀及分析可測性設(shè)計(jì)概念大約是1970年在CherryHill測試會議上提出的，然而可測性設(shè)計(jì)的必要性直至70年代中期隨著集成電路設(shè)計(jì)的發(fā)展才逐漸被人們認(rèn)識。正是在這種情況下，人們提出了可測性設(shè)計(jì)概念，即在設(shè)計(jì)階段就考慮測試問題，把降低測試難度的要求納入設(shè)計(jì)規(guī)范，并通過可測性分析來檢驗(yàn)和改進(jìn)設(shè)計(jì)。為了在地面測試一臺復(fù)雜的航空電子設(shè)備的測試程序組合的費(fèi)用超過200萬美元[37]。某些采用晶體管及一般集成電路的電子設(shè)備的測試時間少則幾分鐘，多則長達(dá)幾小時。但是，由于電子系統(tǒng)的復(fù)雜度不斷提高，經(jīng)典的測試方法已不能適應(yīng)要求，甚至出現(xiàn)測試成本與研制成本倒掛的局面，有資料報道復(fù)雜電子系統(tǒng)糟糕的故障可觀測性設(shè)計(jì)使產(chǎn)品整個壽命周期維護(hù)成本是制造成本的210倍[12]。因此，隨著檢測點(diǎn)的縮減就降低了故障的可觀測性，故障可能的原因就增加了，這也就增加了診斷這些系統(tǒng)的困難[12]。4 電子系統(tǒng)可測性指標(biāo)分析模塊(1)
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