超聲波檢測(cè)的基本問題-文庫吧資料
2025-05-21 05:41本頁面
【正文】 有足夠的潤(rùn)濕性、 適當(dāng)?shù)母街驼扯取? 耦合劑的選擇 ? ? 透聲性能好。 ? 對(duì)于室外現(xiàn)場(chǎng)探傷，應(yīng)選擇重量輕，示波屏亮度好，抗干擾能力強(qiáng)的攜帶式儀器。 ? 對(duì)于大型零件的探傷，應(yīng)選擇靈敏度余量高、信噪比高、功率大的儀器。 對(duì)于給定的任務(wù) ， 在選擇超聲波檢測(cè)儀時(shí) ， 主要考慮的是該任務(wù)的特殊要求 ， 可從以下幾方面進(jìn)行考慮： 就性能而言，一般應(yīng)考慮以下原則： ? 對(duì)于定位要求高的情況，應(yīng)選擇水平線性誤差小的儀器。 (K＝ )左右時(shí)， 聲壓往復(fù)透射率最高，即探傷靈敏度最高 ；缺陷距探測(cè)面深度相同的情況下，折射角小，聲程短，有利于缺陷的探測(cè)。 折射角 (K值 )的選擇 ? 對(duì)于探測(cè)除焊縫以外的工件（例如鍛件、鋼管等），宜采用折射角為 40176。探傷小型工件時(shí)，為了提高缺陷定位量精度宜選用小晶片探頭。實(shí)際探傷中，探傷面積范圍大的工件時(shí)，為了提高探傷效率宜選用大晶片探頭。 ? 晶片尺寸大，輻射的超聲波能量大，探頭未擴(kuò)散區(qū)掃查范圍大，遠(yuǎn)場(chǎng)掃查范圍相對(duì)變小，發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離缺陷能力增強(qiáng)。 晶片大小對(duì)探傷的影響 ? 由 θ＝ arcsin ／ D可知，晶片尺寸增加，半擴(kuò)散角減少，波束指向性變好，超聲波能量集中，對(duì)探傷有利。對(duì)晶粒較粗大的鑄件、奧氏體鋼等宜選用較低的頻率，常用～ 。一般在保證探傷靈敏度的前提下盡可能選用較低的頻率。但頻率高，近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度大，衰減大，又對(duì)探傷不利。 ? 由以上分析可知，頻率的高低對(duì)探傷有較大的影響。 ? 由 N＝ D2／ 4λ可知，頻率高，波長(zhǎng)短，近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度大，對(duì)探傷不利。 ? 頻率高，脈沖寬度小，分辨力高，有利于區(qū)分相鄰缺陷。 ? 表面波探頭、雙晶探頭、液浸聚焦探頭的選擇也都是根據(jù)各自適應(yīng)的探傷方法確定。 探頭型式的選擇 2 ? 例如鍛件、鋼板的探傷主要探測(cè)平行于鍛壓（軋制）面的夾層、折疊等缺陷，探傷方法選擇縱波垂直探傷法，則探頭一定選用縱波直探頭。其選擇主要取決于所選擇的探傷方法。探頭的選擇包括選擇探頭型式、頻率、晶片尺寸和斜探頭的折射角 (K值 )等。 探頭的選擇： 探頭是超聲檢測(cè)的重要工具之一，探頭的種類很多，結(jié)構(gòu)型式也不一樣。當(dāng)從一面檢查靈敏度不夠時(shí)，亦應(yīng)從正、反兩面進(jìn)行檢查。 入射方向和探測(cè)面的選擇 3 ? 接觸法的探測(cè)面應(yīng)比較規(guī)則，底波法最好應(yīng)有平行的探測(cè)面和底面。所以，入射方向應(yīng)選擇在不會(huì)出現(xiàn)這些干擾信號(hào)的方向上。缺陷的最大可能取向應(yīng)根據(jù)結(jié)構(gòu)、工藝特點(diǎn)和低倍組織的研究來判定。必要時(shí)應(yīng)通過添加專門的加工工序，采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備探傷表面。 對(duì)檢測(cè)對(duì)象的了解與要求 2 ? 所有受檢件一般在正式機(jī)加工之前，經(jīng)目視檢驗(yàn)合格后進(jìn)行。 ? ⑥ 結(jié)果記錄與報(bào)告的編寫 。 ? ④ 掃查。 ? ② 檢測(cè)條件的確定，包括超聲波檢測(cè) ? 儀、探頭、試塊等的選擇。 超聲檢測(cè)方法可采用多種檢測(cè)技術(shù)，每種檢測(cè)技術(shù)在實(shí)施過程中，都有其需要考慮的特殊問題，其檢測(cè)過程也各有特點(diǎn)。 液浸法 2 另外 ， 自動(dòng)化檢測(cè)還需要相應(yīng)的輔助設(shè)備 ，有時(shí)是復(fù)雜的機(jī)械設(shè)備和電子設(shè)備 ， 它們對(duì)單一產(chǎn)品 (或幾種產(chǎn)品 )往往具有很高的檢測(cè)能力 ， 但缺乏靈活性 。液浸法中，探頭角度可任意調(diào)整， 聲波的發(fā)射、接收也比較穩(wěn)定，便于實(shí)現(xiàn)檢測(cè)自動(dòng)化，大大提高了檢測(cè)速度。 液浸法： 將探頭和工件浸于液體中以液體作耦 合劑進(jìn)行探傷的方法。 多探頭法：使用兩個(gè)以上的探頭成對(duì)的組合在一起進(jìn)行探傷的方法。 按探頭數(shù)目分類： 單探頭法：使用一個(gè)探頭兼作發(fā)射和接收超聲波的探傷方法。同時(shí)，它僅沿表面?zhèn)鞑ィ瑢?duì)于表面上的復(fù)層、油污、不光潔等，反應(yīng)敏感，并被大量地衰減。這種方法主要用于表面光滑的試件。其它試件探傷時(shí)，則作為一種有效的輔助手段，用以發(fā)現(xiàn)垂直探傷法不易發(fā)現(xiàn)的缺陷。 ? ，缺陷定位相對(duì)較復(fù)雜。 ? 短，靈敏度相對(duì)較高。由于透入試件 ? 的橫波束與探測(cè)面成 ? 銳角，又稱斜射法。 ? 垂直法主要用于鑄造、鍛壓、軋材及其制品的探傷。 縱波法的缺點(diǎn)： ? 陷。 ? ，縱波傳播速度大于其它波型的速度，對(duì)相同頻率而言波長(zhǎng)最長(zhǎng)，因而穿透能力強(qiáng)，可探測(cè)工件的厚度是所
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