【正文】 最后感謝 汪 老師和 我的 組員 們 在這次畢業(yè)設(shè)計中給于我的幫助和支持 ！ 畢業(yè)設(shè)計論文 基于 DS18B20 溫度測試系統(tǒng) 27 附錄 1 元件清單 名稱 型號規(guī)格 圖形符號 數(shù)量 單片機(jī) AT89C51 1 LED 數(shù)碼顯示管 三位一體（共陽） 1 電阻 RES2,100 歐姆 10 電阻 RES2,2K 歐姆 3 電阻 RES2， 歐姆 3 三極管 9012 4 有極性電容 ELECTRO1,10UF 1 無極性電容 CAP,22PF 2 石英晶體 CRYSTAL,6MHZ 1 按鍵開關(guān) SWPB 1 溫度傳感器 DS18B20 1 發(fā)光二極管 LED 3 蜂鳴器 Beer 1 畢業(yè)設(shè)計論文 基于 DS18B20 溫度測試系統(tǒng) 28 參考資料 [1] 李朝青 .《單片 機(jī)原理及接口技術(shù)（簡明修訂版）》 .杭州：北京航空航天大學(xué)出版社， 1998 [2] 李廣弟 .《單片機(jī)基礎(chǔ)［Ｍ］》 .北京：北京航空航天大學(xué)出版社， 1994 [3] 丁元杰 .《單片微機(jī)原理》 .北京：機(jī)械工業(yè)出版社， 1994 [4] 薛鈞義 .《 MCS51 系列單片微型計算機(jī)及其應(yīng)用》 .西安：西安交通大學(xué)出版社， 1994 [5] 張幽彤 .《 MCS8098 系統(tǒng)實用大全》 .北京：清華大學(xué)出版社， 1993 [6] 何立民 .《單片機(jī)微機(jī)原理及應(yīng)用》 . 北京：北京航空航天大學(xué)出版社， 2021 [7] 周航慈 .《單片機(jī)應(yīng)用程序 設(shè)計技術(shù)》 .北京：北京航空航天大學(xué)出版社，1991 [8] Mifarel.《 Standerd Card IC S50 Functional Specification DATA SHEET》 Philips,2021 。在摸索該如何設(shè)計電路使之實現(xiàn)所需功能的過程中，特別有趣，培養(yǎng)了我的設(shè)計思維，增加了實 際操作能力。實習(xí)過程中，我深刻的體會到在設(shè)計過程中，需要反復(fù)實踐，其過程很可能相當(dāng)煩瑣，有時花很長時間設(shè)計出來的電路還是需要重做，那時心中未免有點(diǎn)灰心，有時還特別想放棄，此時更加需要靜下心，查找原因。以及 開關(guān)焊接時要注意引腳問題 ，輸入程序時要細(xì)心等細(xì)節(jié)。 給我印象最深的是要設(shè)計一個成功的電路，必須要有耐心，要有堅持的毅力。很多子程序是可以借鑒書本上的，但怎樣銜接各個子程序才是關(guān)鍵的問題所在，這需要對單片機(jī)的結(jié)構(gòu)很熟悉。對于單片機(jī)設(shè)計，其硬件電路是比較簡單 的，主要是解決程序設(shè)計中的問題，而程序設(shè)計是一個很靈活的東西，它反映了你解決問題的邏輯思維和創(chuàng)新能力，它才是一個設(shè)計的靈魂所在。在這次設(shè)計中遇到了很多問題，在實際設(shè)計中才發(fā)現(xiàn)，書本上理論性的東西與在實際運(yùn)用中的還是有一定的出入的，所以有些問題不但要深入地理解，而且要不斷地更正以前的錯誤思維。 整個設(shè)計通過了軟件和硬件上的調(diào)試、仿真。在 DS18B20 測溫程序設(shè)計中，向 DS18B20 發(fā)出溫度轉(zhuǎn)換后，程序總要等待 DS18B20 的返回信號，一旦 DS18B20 接觸 不好或斷線，當(dāng)程序讀該 DS18B20 時，將沒有返回信號，程序?qū)⑾萑胨姥h(huán)。 雖然我只是擔(dān)任這次課程設(shè)計的部分主要工作 ，負(fù)責(zé)對 DS18B20 進(jìn)行資料的查閱和部分程序編寫。經(jīng)過改正后，能夠正常運(yùn)行并達(dá)到預(yù)期效果。在本次實驗中發(fā)現(xiàn)我所做的流水燈只能實現(xiàn)左循環(huán)，一半亮一半滅兩種方式，而第三種方式卻不能實現(xiàn)。 在偉褔系統(tǒng)中進(jìn)行先獨(dú)立后聯(lián)機(jī)，先分塊后組合，先單步后連續(xù)的方式逐一檢查后無誤方可，并通過仿真系統(tǒng)看結(jié)果是否準(zhǔn)確，若無誤，方可將程序灌輸入 AT89C51 芯片內(nèi)。程序運(yùn)行后編輯，查看程序是否有邏輯的錯誤。由分到合的調(diào)試即告完成。 由分到合 是指首先按邏輯功能將用戶系統(tǒng)硬件電路分為若干塊，當(dāng)調(diào)試電路時，與該元件無關(guān)的器件全部從用戶系統(tǒng)中去掉，這樣可以將故障范圍限定在某個局部的電路上 。 由近及遠(yuǎn) 是將信號流經(jīng)的各器件按照距離單片機(jī)的邏輯距離進(jìn)行由由近及遠(yuǎn)的分層，然后分層調(diào)試。 動態(tài)調(diào)試 動態(tài)調(diào)試是在用戶系統(tǒng)工作的情況下發(fā)現(xiàn)和排除用戶系統(tǒng)硬件中存在的器件內(nèi)部故障、器件連接邏輯錯誤等的一種硬件檢查。 第四步：聯(lián)機(jī)檢查。 第三步：加電檢測。 第二步：用萬用表測試。步驟如下： 第一步：目測。小數(shù)點(diǎn) DISY3: LCALL DL1MS INC R1 MOV A,R1 SETB SETB CLR MOV DPTR,TAB MOVC A,A+DPTR MOV P0,A LCALL DL1MS ENDOUT:MOV P0,0FFH SETB SETB SETB RET TAB: DB 0C0H,0F9H,0A4H,0B0H DB 99H,92H,82H,0F8H DB 80H,90H,0FFH,0BFH DL1MS: MOV R6,0AH DL1: MOV R7,19H DL2: DJNZ R7,DL2 DJNZ R6,DL1 RET END 畢業(yè)設(shè)計論文 基于 DS18B20 溫度測試系統(tǒng) 25 第 4 章 檢測與調(diào)試 硬件調(diào)試 ： 硬件調(diào)試是利用開發(fā)系統(tǒng)、基本測試儀器（萬用表、示波器）等，檢查用戶系統(tǒng)硬件中存在的故障。小數(shù) DB 03H,04H,04H,05H,06H DB 06H,07H,08H,08H,09H,09H DISP: MOV R1,70H MOV A,R1 JNZ DISY1 。71H 中是個位的 BCD 碼 MOV 72H,27H 。百位數(shù)在 R7 中 MOV A,0AH XCH A,B DIV AB MOV 70H,A 。十位部分放在 29H 的高 4 位 HEX2BCD1:MOV B,64H 。小數(shù)部分放在 27H MOV A,29H ANL A,0F0H SWAP A MOV 29H,A 。MOV 26H,0BH SJMP TEMPC11 TEMPC1:CLR 。表示負(fù)數(shù)的 LED 亮 MOV A,29H CPL A ADD A,01H MOV 29H,A MOV A,28H CPL A ADDC A,00H MOV 28H,A 。是正數(shù)轉(zhuǎn)移 ,正數(shù)不轉(zhuǎn)換 CLR C 。溫度轉(zhuǎn)換 , ANL A,80H 。讀 18B20,讀 2 次 ,讀出的數(shù)據(jù) CLR 。讀 18B20 CLR C LCALL CONVTEMP LCALL DISP SJMP MAIN2 WRITE:MOV R0,8 。讀隨機(jī)存儲 器 LCALL WRITE 。跳過 ROM LCALL WRITE 。顯示 畢業(yè)設(shè)計論文 基于 DS18B20 溫度測試系統(tǒng) 20 LCALL INIT 。MOV R6,34H 。啟動溫度轉(zhuǎn)換 LCALL WRITE 。跳過 ROM LCALL WRITE 。信號線 LCALL INIT 。檢查 LED CLR SETB SETB LCALL DELAY 開始 溫度零下 ? 溫度值取補(bǔ)碼置“ — ”標(biāo)志 計算小數(shù)位溫度 BCD值 計算整數(shù)位溫度 BCD值 結(jié)束 置“ +”標(biāo)志 N Y 畢業(yè)設(shè)計論文 基于 DS18B20 溫度測試系統(tǒng) 19 SETB CLR SETB LCALL DELAY SETB SETB CLR LCALL DELAY DJNZ R5,MAIN1 SETB SETB SETB MOV P0,0FFH SJMP MAIN2 DELAY: MOV R7 ,05H LP8: MOV R6,19H LP7: DJNZ R6,LP7 DJNZ R7,LP8 RET MAIN2: L