【正文】 三 . 測(cè)試條件 : 四、 測(cè)試方法 : (1). 固定輸入電壓與頻率 ,依條件設(shè)定 CV 模式下的輸出電壓 . (2). 開機(jī)后待輸出穩(wěn)定時(shí)記錄輸出電流值 . (3). 切換輸入電壓與頻率 ,記錄不同輸入電壓時(shí)的輸出電流值 . (4). 在輸出電壓值不同條件下分別記錄輸出電流值 . 五、注意事項(xiàng) : 記錄輸出電流值前待測(cè)品電流值需穩(wěn)定 . AC INPUT/輸入電壓 Freq./輸入頻率 OUTPUT VOLTAGE SETUP oC 90V / 115V / 132V 47Hz 63Hz Rated Volt./額定電壓 180 V / 230V / 264V Thank you 謝 謝 ！ 。 三 . 測(cè)試條件 : (1). 依 SPEC. 要求 : 施加 500V直流電壓后進(jìn)行測(cè)試的絕緣阻抗值要高于 10MOhm(常規(guī)定義 ). 四、 測(cè)試方法 : (1). 確認(rèn)好電氣性能后 , 在絕緣阻抗測(cè)試儀中設(shè)定好施加的電壓 (500Vdc)和測(cè)試的時(shí)間 (1 Minute). (2). 將待測(cè)物輸入端和輸出端分別短路連接 , 然后分別連接測(cè)試儀對(duì)應(yīng)端進(jìn)行測(cè)試 . (3). 再將待測(cè)物輸入端和外殼之間分別與測(cè)試儀對(duì)應(yīng)端連接進(jìn)行測(cè)試 . (4). 確認(rèn)待測(cè)物的測(cè)試絕緣阻抗值是否高于 10MOhm. 五、注意事項(xiàng) : (1). 阻抗要求值依安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)要求定義 . 32. RATED VOLTAGE OUTPUT CURRENT TEST / 額定電壓輸出電流測(cè)試 一、目的 : 測(cè)試 . 在 AC LINE 及 OUTPUT VOLT. 一定時(shí) , 其輸出電流值 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 三 . 測(cè)試條件 : 依 SPEC. 要求 : 規(guī)定的跌落高度、跌落次數(shù)和剛硬的水平面 . 四、 測(cè)試方法 : (1). 所有待測(cè)品需先經(jīng)過電氣上的測(cè)試及目視檢查，以保證測(cè)試前沒任何可見的損壞存在 . (2). 確定六個(gè)面 (小 大 )順序依次進(jìn)行跌落 . (3). 使待測(cè)品由規(guī)定的高度及項(xiàng) (2) 所確定的測(cè)試點(diǎn)各進(jìn)行一次跌落 , 每跌落一次均須對(duì)其電氣及絕緣等進(jìn)行確認(rèn) , 記錄正?；虍惓＝Y(jié)果 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 1000mm+10mm 是為滿足手捂式 ,拔插式 ,可攜帶式需求的設(shè)備測(cè)試 . (2). 跌落條件可參考安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)要求 . 待測(cè)品 剛硬的水平表面 31. INSULATION RESISTANCE TEST / 絕緣阻抗測(cè)試 一、目的 : 測(cè)量待測(cè)物帶電部件與輸出電路之間和帶電部件與膠殼之間的絕緣阻抗值 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 四、 測(cè)試方法 : (1). 依 SPEC. 設(shè)定好耐壓 WITHSTANDING VOLTAGE, 操作時(shí)間 TIME, CUT OFF CURRENT 值 . (2). 將待測(cè)品與耐壓測(cè)試儀依要求連接 , 進(jìn)行耐壓測(cè)試 , 觀察是否有產(chǎn)生電弧 ARCING, 及漏電流 CUT OFF CURRENT 是否過大 . (3). 耐壓測(cè)試后 , 確認(rèn)待測(cè)品輸入功率與輸出電壓是否正常 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 測(cè)試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測(cè)試儀的測(cè)試條件 , 待測(cè)品的輸入與輸出分別應(yīng)與測(cè)試儀接觸良好 . (2). 耐壓的規(guī)格值設(shè)定參考安規(guī)要求 . 30. UNIT DROP TEST / 跌落測(cè)試 一、目的 : 了解 . 由一定高度 , 不同面進(jìn)行跌落 DROP, 其結(jié)構(gòu) , 電氣等特性的變化狀況 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (4). HIPOT TESTER / 高壓測(cè)試儀 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 三 . 測(cè)試條件 : (1). 依 SPEC. 要求 : 儲(chǔ)存最高 (70℃ ), 低溫度 (30℃ ), 測(cè)試共 10 個(gè)循環(huán) , 高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間為 2min。 (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 2 ℃ 和濕度 50177。 2%保持 1小時(shí) , 40177。 2 ℃ 保持 1小時(shí) , 33177。 (5). HIPOT TESTER / 高壓測(cè)試儀 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 2℃ , 儲(chǔ)存時(shí)間至少 4Hrs. 四、 測(cè)試方法 : (1). 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率 , 輸出電壓及 HIPOT 狀況 . (2). 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi) , 依規(guī)格設(shè)定其溫度 ,然后啟動(dòng)溫控室 . (3). 試驗(yàn)溫度儲(chǔ)存至少 4Hrs, 然后分別在 115Vac/60Hz 230Vac/50Hz和輸出最大負(fù)載條件下開關(guān)機(jī)各 20 次 , 確認(rèn)待測(cè)品電氣性能是否正常 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 在產(chǎn)品性能測(cè)試期間或測(cè)試之后 ,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象 . (2). 設(shè)定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降 10度 . 27. TEMPERATURE CYCLING TEST / 溫度循環(huán)測(cè)試 一、目的 : 測(cè)試針對(duì) . 所有組成零件的加速性測(cè)試 , 用來顯露出在實(shí)際操作中所可能出現(xiàn)的問題 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (5). HIPOT TESTER / 高壓測(cè)試儀 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 (4). 做完測(cè)試后將待測(cè)品從溫控室中移出 , 在常溫環(huán)境下恢復(fù)至少 4小時(shí) ,然后確認(rèn)其外觀和電氣性能有無異常 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后 ,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象 . (2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書要求 . 25. LOW TEMP. STORAGE TEST / 低溫儲(chǔ)存測(cè)試 一、目的 : 測(cè)試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì) . 的結(jié)構(gòu) , 元件及整機(jī)電氣的影響 , 用以考量 . 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及 零件選用的合理性 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (5). HIPOT TESTER / 高壓測(cè)試儀 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 (3). 試驗(yàn) 24Hrs, 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置 至少 4Hrs,再確認(rèn)待測(cè)品外觀 , 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后 ,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象 . (2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書要求 . 24. LOW TEMP. OPERATION TEST / 低溫操作測(cè)試 一、目的 : 測(cè)試低溫環(huán)境對(duì) . 操作過程中的結(jié)構(gòu) , 元件及整機(jī)電氣的影響 , 用以考量 . 結(jié)構(gòu) 設(shè)計(jì)及零件選用的合理性 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 2℃ , 濕度 9095% 試驗(yàn)時(shí)間 24Hrs(非操作條件 ). 四、 測(cè)試方法 : (1). 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率 , 輸出電壓及 HIPOT 狀況 。 (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (3). 定時(shí)記錄待測(cè)品輸入功率和輸出電壓 ,以及待測(cè)品是否有異常 。 (2). 試驗(yàn)時(shí)間 : 4Hrs. 四、 測(cè)試方法 : (1). 將待測(cè)品置于溫控室內(nèi) , 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測(cè)試條件 , 然后開機(jī) 。 (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (4) POWER ON/OFF TESTER / 電源開關(guān)測(cè)試儀 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。132Vac264Vac。 三 . 測(cè)試條件 : 依 SPEC. 所規(guī)定 : 輸入電壓 AC LINE 和負(fù)載 LOAD 值 . 四、 測(cè)試方法 : (1). 將待測(cè)輸出負(fù)載設(shè)在 MAX. LOAD 和 MIN. LOAD. (2). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為 +, TRIGGER MODE 設(shè)定為 AUTO, TIME/DIV 視情況而定 1S/DIV 或 2S/DIV. (3). 變動(dòng)輸入電壓 ,如 :90Vac180Vac。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (3). OSCILLOSCOPE / 示波器 。 10%). 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (4). DC SOURCE / 直流電源 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (4). 低阻抗短路夾 三 . 測(cè)試條件 : 依 SPEC. 所規(guī)定 : 輸入電壓 AC LINE 和負(fù)載 LOAD 值 和低阻抗短路夾 . 四、 測(cè)試方法 : (1). 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試條件 : 輸入電壓 AC LINE 和負(fù)載 LOAD 值 (一般為 MAX. LOAD). (2). 各組輸出相互短路或?qū)Φ囟搪?, 偵測(cè)輸出特性 . (3). 開機(jī)后短路 TURN ON THEN SHORT 短路后開機(jī) SHORT THEN TURN ON 各十次 . 五、注意事項(xiàng) : (1).當(dāng) SHORT CIRCUIT 排除之后 , 檢測(cè)待測(cè)品是否自動(dòng)恢復(fù)或需重新啟動(dòng) (視 SPEC 要求 ),并測(cè)試產(chǎn)品是否正?；蛴袩o零 件損壞 (產(chǎn)品要求應(yīng)正常 ). (2). 產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生 . 16. SHORT CIRCUIT PROTECTION TEST / 短路保護(hù)測(cè)試 Fig. 10 Short Circuit 90Vac(60Hz) CC=0. 5A 17. OVER VOLTAGE