【正文】 3． 靜電噪聲（有外殼的有要求）。2． 浪涌。1． 輸入噪聲。六． 其它條件。7． 重量。6． 操作零部件（輸出電壓可調(diào)電阻、開關(guān)、指示燈）的位置和提示文字的位置。5． 接口位置和標(biāo)志。4． 冷卻條件：強(qiáng)制或自冷以及通風(fēng)方向，風(fēng)量和孔徑尺寸。3． 安裝條件：安裝位置、安裝孔、等。2． 確定外型尺寸和尺寸公差。1． 形狀條件：如外包裝機(jī)殼的有無等。四． 結(jié)構(gòu)規(guī)格。6． 絕緣電壓。輸入端與殼體；輸入端子和輸出端子；輸出端子和殼體。包括最大紋波電壓；最大紋波噪聲電壓。2） 電流調(diào)整率。1） 電壓穩(wěn)定度。2． 額定輸出電流。8． 測試中要標(biāo)明輸入采用單相2線式還是3相三線式。7． 效率。5． 沖擊電流。這是一種輸入電壓瞬間時(shí)下降或瞬斷的狀態(tài)，要用額定輸出電壓和電流加以限定。是指在輸入電壓和輸出電流在額定條件時(shí)的電流。 2． 輸入電壓的頻率和頻率變動(dòng)范圍。一． 輸入特性。三、測試報(bào)告要求的項(xiàng)目對于電源部品認(rèn)定測試，測試報(bào)告要求提供測試數(shù)據(jù)及結(jié)論。Surge：經(jīng)由電源線之高能量暫態(tài)雜訊干擾(電燈之閃動(dòng)引起)。另外，于ESD放電電壓在高達(dá)25KV下，應(yīng)不致造成組件故障(Failure)。三. 測試條件 :環(huán)境溫度 /Temp.輸入電壓/AC Input輸入頻率/Freq.輸出電壓設(shè)置/Output Voltage Setup25℃90V/115V/132V47Hz~63HzRated Volt. /額定電壓180V/230V/264V四、 測試方法 :(1). 固定輸入電壓與頻率,依條件設(shè)定CV 模式下的輸出電壓.(2). 開機(jī)后待輸出穩(wěn)定時(shí)記錄輸出電流值.(3). 切換輸入電壓與頻率,記錄不同輸入電壓時(shí)的輸出電流值.(4). 在輸出電壓值不同條件下分別記錄輸出電流值.五、注意事項(xiàng) :記錄輸出電流值前待測品電流值需穩(wěn)定.電源供應(yīng)器需符合CISPR 2CLASS B之傳導(dǎo)與幅射的4dB馀裕度，電源供應(yīng)器需在以下三種負(fù)載狀況下測試：每個(gè)輸出為空載、每個(gè)輸出為50%負(fù)載、每個(gè)輸出為100%負(fù)載。 (1).依 SPEC. 所要求(通常定義輸入電壓為100240Vac/5060Hz). (1). 依 SPEC. 要求設(shè)定好輸入電壓, 頻率, 將待測品輸出負(fù)載設(shè)定在 MAX. LOAD.(2).示波器CH2 接 CURRENT PROBE, 用以量測 INRUSH CURRENT, CH1設(shè)定在 DC Mode, VOLTS/DIV 設(shè)定視情況而定, CH1作為示波器之 TRIGGER SOURCE, TRIGGER SLOPE 設(shè)定為 +, TIME/DIV 以 5mS 為較佳, TRIGGER MODE 設(shè)定為NORMAL.(3). CH1 則接到 AC 輸入電壓.(4). 以上設(shè)定完成后 POWER ON, 找出 TRIGGER 動(dòng)作電流值 (AT 90o 或 270o POWER ON). 1).冷開機(jī) (COLDSTART): 需在低(常)溫環(huán)境下且 Bulk , 以及熱敏電阻亦處于常溫下, 然后僅能第一次開機(jī),若需第二次開機(jī)須再待電荷放盡才可再開機(jī)測試.2).OSCILLOSCOPE 需使用隔離變壓器.3).測試結(jié)果圖示 額定電壓輸出電流測試/Rated Voltage Output Current Test一、目的 :測試 . 在 AC LINE 及 OUTPUT VOLT. 一定時(shí), 其輸出電流值.二. 使用儀器設(shè)備 :(1). AC SOURCE / 交流電源。(2).電子負(fù)載/ELECTRONIC LOAD。2). 逐步調(diào)降輸入電壓, 每次 3 Vac/每分鐘. 3). 記錄電壓值(包括輸入電壓和輸出電壓), 直到待測品自動(dòng)當(dāng)機(jī)為止. 4). 設(shè)定好輸入電壓為 0Vac,逐步調(diào)升輸入電壓, 每次 3 Vac/每分鐘, 5).直到待測品輸出電壓達(dá)到正常規(guī)格為止,記錄電壓啟動(dòng)時(shí)輸出電壓和輸入電壓值. 1). 待測品在正常操作情況下不應(yīng)有任何不穩(wěn)動(dòng)作發(fā)生, 以及失效情形。 1). 依SPEC. 要求: 設(shè)定輸入電壓為 90Vac 或 180Vac 和輸出負(fù)載 Max. load。 Recovery TestA. 目的 驗(yàn)證當(dāng)輸入電壓偏低情形發(fā)生時(shí), 待測品需能自我保護(hù), 且不能有損壞現(xiàn)象。幅射干擾/免疫：經(jīng)由磁場之幅射性干擾/免疫傳導(dǎo)干擾/免疫：經(jīng)由電源線之傳導(dǎo)性干擾/免疫2%保持30分鐘,為一個(gè)循環(huán).4).啟動(dòng)恒溫恒濕機(jī), 然后記錄其溫度與時(shí)間的圖形, 監(jiān)視系統(tǒng)所記錄的過程,5).試驗(yàn)完成后, 溫度回到室溫再將待測物從恒溫恒濕機(jī)中移出, 放置樣品在空氣中 4Hr 再確認(rèn)外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常. 1).經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.2).經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求. 冷熱沖擊測試 /Thermal Shock Test 測試高, 低溫度沖擊對 . 的影響,用來揭露各組成元件的弱點(diǎn). :1).交流電源 /AC SOURCE2).電子負(fù)載 /ELECTRONIC LOAD3).功率表 /AC POWER METER4).溫控室 /TEMP. CHAMBER5).高壓測試儀 / HIPOT TESTER 1).:儲存最高(70℃), 低溫度(30℃), 測試10個(gè)循環(huán), 高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間為 2min。2 ℃保持1小時(shí), 25177。2 ℃和濕度90177。 230Vac/50Hz和輸出最大負(fù)載條件下開關(guān)機(jī)各 20 次, 確認(rèn)待測品電氣性能是否正常. 1).在產(chǎn)品性能測試期間或測試之后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.2).設(shè)定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降10度. 溫度循環(huán)測試 /Temperature Cycling Test 測試針對 . 所有組成零件的加速性測試, 用來顯露出在實(shí)際操作中所可能出現(xiàn)的問題. 1).交流電源 /AC SOURCE2).電子負(fù)載 /ELECTRONIC LOAD3).功率表 /AC POWER METER4).溫控室 /TEMP. CHAMBER5).高壓測試儀 / HIPOT TESTER 操作溫度條件: 通常為低溫度40 ℃ 、25℃、33℃和高溫度 66 ℃(濕度: 5090%), 試驗(yàn)至少24個(gè)循環(huán). 1).試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及 HIPOT 狀況.2).將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 以無包裝,非操作狀態(tài)下.3).設(shè)定溫度順序?yàn)?6177。4).做完測試后將待測品從溫控室中移出, 在常溫環(huán)境下恢復(fù)至少4小時(shí),然后確認(rèn)其外觀和電氣性能有無異常. :1).產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.2).試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求. 低溫儲存測試/ Low Temp. Storage Test 測試低溫儲存環(huán)境對 . 的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 用以考量 . 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性.B. 使用儀器設(shè)備 1).交流電源 /AC SOURCE2).電子負(fù)載 /ELECTRONIC LOAD3).功率表 /AC POWER METER4).溫控室 /TEMP. CHAMBER5).高壓測試儀 / HIPOT TESTER 儲存低溫條件: 通常為溫度 30℃, 試驗(yàn)時(shí)間24Hrs(非操作條件). 1).試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及 HIPOT 狀況.2).將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室.3).試驗(yàn) 24Hrs, 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置 至少4Hrs, 再將待測品做 HIPOT 測試, 記錄測試結(jié)果, 之后確認(rèn)待測品的外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常. 1).產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.2).試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求. 低溫啟動(dòng)測試 /Low Temp. Starting Test , . 1).交流電源 /AC SOURCE 2).電子負(fù)載 /ELECTRONIC LOAD 3).功率表 /AC POWER METER 4).溫控室 /TEMP. CHAMBER 儲存低溫條件: 通常為操作溫度 0℃ 條件下降低到 10 177。2). 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度和濕度,然后啟動(dòng)溫控室。 Humidity Storage Test 測試高溫高濕儲存環(huán)境對 . 的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 用以考量 . 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性. 1).交流電源 /AC SOURCE2).電子負(fù)載 /ELECTRONIC LOAD3).功率表 /AC POWER METER4).溫控室 /TEMP. CHAMBER5).高壓測試儀 / HIPOT TESTER 儲存高溫高濕條件: 通常為溫度 70177。3). 定時(shí)記錄待測品輸入功率和輸出電壓,以及待測品是否有異常。2). 試驗(yàn)時(shí)間: 4Hrs. 1). 將待測品置于溫控室內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定好輸