smt第8章表面組裝檢測(cè)工藝(參考版)
2025-03-07 03:46本頁(yè)面
【正文】 對(duì)于引腳級(jí)的故障檢測(cè)可達(dá)到 100％的覆蓋率，有的復(fù)合測(cè)試儀還具有實(shí)時(shí)的數(shù)據(jù)收集和分析軟件以監(jiān)視整個(gè)組件的生產(chǎn)過(guò)程，在出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)能及時(shí)反饋以改進(jìn)裝配工藝，使生產(chǎn)的質(zhì)量和效率能在控制范圍之內(nèi)保證生產(chǎn)的正常進(jìn)行。 ? ? 復(fù)合測(cè)試儀是把在線測(cè)試和功能測(cè)試集成到一個(gè)系統(tǒng)的儀器，是近年來(lái)廣泛采用的測(cè)試設(shè)備 (ATE)，它能包括或部分包括邊界掃描功能軟件和非矢量測(cè)試相關(guān)軟件。 ? (SA)測(cè)試技術(shù) ? SA測(cè)試技術(shù)是一種動(dòng)態(tài)數(shù)字測(cè)試技術(shù)， SA測(cè)試必須采用針床夾具，在進(jìn)行功能測(cè)試時(shí)，測(cè)試儀通常通過(guò)邊界連接器 (Edge Cornector)同被測(cè)組件實(shí)現(xiàn)電氣連接，然后從輸入端口輸入信號(hào)，并監(jiān)測(cè)輸出端信號(hào)的幅值、頻率、波形和時(shí)序。 ? 功能測(cè)試儀（ Functional Tester）通常包括三個(gè)基本單元：加激勵(lì)、收集響應(yīng)并根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)組件的響應(yīng)評(píng)價(jià)被測(cè)試組件的響應(yīng)。功能測(cè)試就是測(cè)試整個(gè)系統(tǒng)是否能夠?qū)崿F(xiàn)設(shè)計(jì)目標(biāo)。 ? 6）重要的計(jì)算機(jī)軟件及數(shù)據(jù)應(yīng)當(dāng)有備份；不得在計(jì)算機(jī)內(nèi)安裝其他應(yīng)用軟件；使用外盤應(yīng)進(jìn)行殺毒，防止計(jì)算機(jī)被病毒感染，確保計(jì)算機(jī)與主機(jī)連線正確可靠。 ? 5） Y軸上出現(xiàn)油或其他液體痕跡，表示空氣過(guò)濾器出現(xiàn)問(wèn)題。在這個(gè)窗口中，操作者可以設(shè)置不同的選項(xiàng)來(lái)檢查設(shè)備。從 VIVA主窗口，點(diǎn)擊 SELFTEST圖標(biāo)啟動(dòng)該程序。如果污染痕跡比較明顯，更換過(guò)濾器并檢查氣源。過(guò)濾器應(yīng)干燥并顏色一致。檢查頻率應(yīng)根據(jù)設(shè)備使用的空氣類型而定，空氣含有雜質(zhì)越多檢查應(yīng)越頻繁，并偶爾更換過(guò)濾器。不要使用壓縮空氣進(jìn)行清潔，以避免將灰塵吹入設(shè)備內(nèi)部而影響使用。 ? ? 1）每天檢查設(shè)備的清潔程度，特別是 Y軸。 ? ⑥ 飛針測(cè)試時(shí)間過(guò)長(zhǎng)是另一個(gè)不足，傳統(tǒng)的針床測(cè)試探針數(shù)目有 500～ 3000只，針床與 PCB一次接觸即可完成在線測(cè)試的全部要求，測(cè)試時(shí)間只要幾十秒，針床一次接觸所完成的測(cè)試，飛針需要許多次運(yùn)動(dòng)才能完成，時(shí)間顯然要長(zhǎng)的多。 ? ⑤ 飛針測(cè)試缺點(diǎn)：因?yàn)闇y(cè)試探針與通路孔和測(cè)試焊盤上的焊錫發(fā)生物理接觸，可能會(huì)在焊錫上留下小凹坑。 10μ m）以及尺寸極小的觸點(diǎn)和間距，使測(cè)試系統(tǒng)可探測(cè)到針床夾具無(wú)法達(dá)到的 PCB節(jié)點(diǎn)。 ? ③ 由于設(shè)定、編程和測(cè)試的簡(jiǎn)單與快速，一般技術(shù)裝配人員就可以進(jìn)行操作測(cè)試。 ? 2. 飛針測(cè)試儀的特點(diǎn) ? ① 較短的測(cè)試開發(fā)周期，系統(tǒng)接收到 CAD文件后幾小時(shí)內(nèi)就可以開始生產(chǎn)，因此，原型電路板在裝配后數(shù)小時(shí)即可測(cè)試。 ? 工作時(shí)在測(cè)單元（ UUT）通過(guò)皮帶或者其他傳送系統(tǒng)輸送到測(cè)試機(jī)內(nèi)，然后固定，測(cè)試儀的探針根據(jù)預(yù)先編排的坐標(biāo)位置程序移動(dòng)并接觸測(cè)試焊盤（ test pad）和通路孔（ via），從而測(cè)試在測(cè)單元的單個(gè)元件，測(cè)試探針通過(guò)多路傳輸系統(tǒng)連接到驅(qū)動(dòng)器（信號(hào)發(fā)生器、電源等）和傳感器（數(shù)字萬(wàn)用表、頻率計(jì)數(shù)器等）來(lái)測(cè)試 UUT上的元件。 ?
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