spc培訓膠片(參考版)
2025-02-25 12:58本頁面
【正文】 有的廠家提供的質量報告中， Cpk值已經達到 6，個別廠家的 Cpk值已經超過 10，對于該類問題，可能是我們要求的規(guī)格范圍很寬，或我們要確認 /找到能夠真正代表其質量狀況的參數。 也就是說當過程能力指數 Cp＜ 2或者 Cpk＜ 程能力不足，此時應該采取措施，提高過程的加工能力。Cp VS Cpk67CPK范圍 級別 過程能力Cpk≥ Ⅰ 過程能力較高＞ Cpk≥ Ⅱ 過程能力充分＞ Cpk≥ Ⅲ 過程能力尚可，但接近 ＞ Cpk≥ Ⅳ 過程能力不足，需采取措施＞ Cpk Ⅴ 過程能力嚴重不足以上為通用標準，鑒于電子行業(yè)產品的復雜程度以及加工工藝的多樣化和復雜化，采用 Cp＝ 2作為過程能力充分的最低要求。C、 Cp和 Cpk均能滿足要求（ Cp≥ Cpk≥）， 則說明過程能力非常充分，完全能夠滿足規(guī)范的要求，此時不需要進行過程調整，只需要維持現(xiàn)狀即可。Cpk與 Cp的關系是： Cpk≤CpCp VS Cpk66在實際運用過程中會遇到如下四種情況：A、 如 Cp足夠大但是 Cpk不足（例如 Cp＞ Cpk＜ ）， 表明過程特性值分布中心與公差中心偏離太大，過程的管理能力不足，此時往往只需要采取局部措施，使分布中心向公差中心 “瞄準 ”。在實際計算中我們通常認為樣本標準差與母體標準差大致相等（即 σ≈S） Cp/Pp VS Cpk/Ppk63What is Process Capability?怎樣計算 Cpk？– 檢查規(guī)格– 過程抽樣– 計算 Z值– 估算 DPPM– 計算 Cpk64此點， u等于規(guī)格中心值， delt=0,CPK=CPCp VS Cpk65Cp表示了過程固有的均勻性、一致性，Cp越大，則過程特性值的分布越集中，過程能力越強。Cpk： 實際的過程能力指數，對 Cp進行偏差系數（ K） 修正后得到 Cpk。Cp Dppm60Cpk： 實際的過程能力指數，對 Cp進行偏差系數（ K） 修正后得到 Cpk。What is Process Capability?l 為保證過程輸出，應當不斷評價控制方法的效力– 監(jiān)測過程能力– 監(jiān)測控制圖– 產品或過程一有變化，就要修訂控制計劃57What is Process Capability?l 什么導致缺陷？– 制造過程和測量系統(tǒng)– 原材料偏差– 不合理的或過窄的規(guī)格58： 潛在過程能力指數，等于設計規(guī)格線與工藝規(guī)格線的比值。p 控制用控制圖控制用控制圖 ：經過上述分析證實過程穩(wěn)定并能滿足質量要求，此時的控制圖可以用于現(xiàn)場對日常的過程質量進行控制。3σ48控制圖種類（以數據性質分）控制圖種類（以數據性質分）計量型控制圖n 平均數與極差控制圖（ XR chart)n 平均數與標準差控制圖（ Xσ chart)n 中位數與極差控制圖（ XR chart)n 單值與移動極差控制圖（ XR chart)計數值控制圖n 不良率控制圖（ P chart)n 不良數控制圖（ Pn chart,又稱 np chart或 d chart)n 缺點數控制圖（ C chart)n 單位缺點數控制圖（ U chart)49控制圖種類（依用途分）控制圖種類（依用途分）p 分析用控制圖分析用控制圖 ：根據樣本數據計算出控制圖的中心線和上下控制界限，畫出控制圖，以便分析和判斷過程是否處于穩(wěn)定狀態(tài)。3σ）之外的概率僅為 %，這是一個很小的概率，根據概率論 “視小概率事件為實際上不可能 ”的原理，可以認為：出現(xiàn)在 X177。 取小的！41Normal Distribution Probability概率 EXCEL函數PR 1Normsdist(z)PL Normsdist(z)由 Z值計算不良率DPPM＝ (PR +PL)*100000042Class Exercise計算 Z值 2～ 3之間的概率43Dppm out of SPEC44控制圖簡介控制圖簡介45Statistic controlUCLCLLCLμμ+3σμ3σ產品質量特性值落在 (μ3σ, μ+3σ)范圍內概率為%,落在該區(qū)域范圍之外的概率是 %,休哈特根據這一點發(fā)明了控制圖46控制圖定義控制圖定義控制圖是用于 分析和控制過程質量的一種方法 .控制圖是一種帶有控制界限的反映過程質量的記錄圖形 ,圖的縱軸代表產品質量特性值 (或由質量特性值獲得的某種統(tǒng)計量 ),橫軸代表按時間順序抽取的各個樣本號 ,圖內有中心線 (CL)、上控制界限 (UCL)和下控制界限 (LCL)三條線(見下圖 ).
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