【正文】 5σ 233 177。3σ 2,700 66,810 177。1σ 317,000 697,700 177。 ? 控制界限的重新 計 算 ： – 為 使控制 適應 今后的生 產(chǎn)過 程 , 在 確 定控制 圖 最初的控制 線 CL、UCL、 LCL時 , 常常需要反 復計 算 , 以求得 切實 可行的控制 圖 . 但是 , 控制 圖經(jīng)過 使用一定 時 期后 , 生 產(chǎn)過 程有了 變 化 , 例如加工工 藝改變 、刀具改 變 、 設備改變 以及 進 行了某 種 技 術 改革和管理改革措施后 , 應 重新收集最近期 間 的 數(shù)據(jù) , 以重新 計 算控制界限 并 作出新的控制 圖 . ? 使用控制 圖 的注意事 項 1 什么是 6?？ ? 6σ 能力 1σ USL LSL 2σ 3σ 4σ 5σ 6σ 3σ能力 1 σ USL 2 σ 3 σ LSL 規(guī)格關系 無偏移的不合格率 （理想的工序時） 177。 – 為討論過 程的性能提供共同的 語言； – 區(qū) 分 變 差的 特殊原因和普通原因 ，作 為采 取局部措施或 對 系 統(tǒng)采 取措施的指南。 nunuuLCLnuuUCLnCuCLnnncccuuuuukk=+=+===++++++=???33..... ........ ...2121B、 計 算控制限 ? C、 過 程控制解 釋 ： ? 同 p圖解釋 ? D、 過 程能力解 釋： ? 過 程能力 為 u，即每 單位 缺陷 數(shù) 平均值。“ u” 圖 的 繪 制和“ p” 圖 相似，不同之 處 如下： A、 收集 數(shù)據(jù) ? 各子 組樣 本的容量彼此不必都相同，盡可能 使它的容量保持在其平均值的正 負25%以內(nèi)可以 簡 化控制限的 計 算。除了缺陷 數(shù) 是按每 單 位產(chǎn) 品 為 基本量表示以外，它是 與 c圖 相似的。 ?D、 過 程能力 解釋 – 過 程能力 為 c，即固定容量 n的 樣 本的缺陷 數(shù) 平均值。 ? 與 P圖的 不同之 處 如下： A、 收集 數(shù)據(jù) ? 檢驗樣 本的容量 (零件的 數(shù) 量， 織物 的面 積 ， 電線 的 長 度等 )要求相等， 這樣 描 繪的 c值 將 反映 質 量性能的 變 化 (缺陷的 發(fā) 生率 )而不是外 觀 的 變 化 (樣 本容量 n)， 在 數(shù)據(jù) 表中 記錄樣 本容量； ? 記錄并描繪每個 子 組 內(nèi)的缺陷 數(shù) (c) 。 B、 計 算控制限 ) 1 ( 3 ) 1 ( 3 ..... 2 1 p p n p n LCL p p n p n UCL d p n CL k np np np p n np np np k ? ? = ? + = = = + + + = ?C、 過 程控制解 釋 ：同“ p” 圖 的解 釋 。 樣 本容量 應 足 夠 大使每 個 子 組內(nèi)都出 現(xiàn)幾個 不合格品，在 數(shù)據(jù) 表上 記錄樣 本的容量。 “ np” 圖 的 詳細說 明 與 p圖 很相似，不同之 處 如下： ? A、 收集 數(shù)據(jù) ? 受 檢驗樣 本的容量必 須 相等。 P圖 和 np圖適 用的基本情況相同， 當滿 足下列情況可 選 用 np圖： – 不合格品的 實際數(shù) 量比不合格品率更有意 義 或更容易 報 告。 這 些 連續(xù) 的受控的 時 期子 組 的 p值是 該過程 當 前能 力 的更好的估 計 值。 ? 對于過 程能力的初步估 計 值， 應 使用 歷史數(shù)據(jù) ，但 應剔除與 特殊原因有 關 的 數(shù)據(jù)點 。 建立 p圖 的 步驟 D D 計 算 過程 能力 ? 對于 p圖 ， 過 程能 力 是通 過過 程平均不 合格品率 P來 表 示 ， 當 所有 點 都受控 后 才 計 算 該 值。它 們 便 變 成了 操作控制限 ， 當將來 的數(shù)據(jù) 收集 記錄了后 ，就 對 照它 來評價 。 C 重新 計 算控制界限 ? ? 當進 行初始 過 程研究或 對過 程能力重新 評價時 ， 應 重新 計 算 試驗 控制限，以 便 排除某些控制 時 期的影 響 ， 這 些 時 期中控制 狀態(tài) 受到特殊原因的影 響 ，但已被 糾 正。由 于 特殊原因是通 過 控制 圖發(fā)現(xiàn) 的，要求 對操作 進 行分析， 并 且希望 操作者或 現(xiàn)場檢驗員 有能力 發(fā)現(xiàn)變 差原因 并糾 正。 建立 p圖 的步 驟 C C 分析 數(shù)據(jù)點 ，找出不 穩(wěn) 定 證據(jù) （同計量型控制圖判定準則?。? C 尋 找 并糾 正特殊原因 ? 當從數(shù)據(jù) 中已 發(fā)現(xiàn) 了失控的情況 時 ， 則 必 須 研究操作 過 程以便 確定 其原因。 步驟 B： n p p p LCL n p p p UCL p CL n n n d d d n n n p n p n p n p p p p k k k k k ) 1 ( 3 ) 1 ( 3 .... ...... .... .... 2 1 2 1 2 1 2 2 1 1 ? ? = ? + = = + + + + + + = + + + + + + = 中心線和控制限： 計 算 過程 平均不合格率 和上、下 控制限 畫線并標注： ? 均值用水平 實線； ? 控制限用水平虛 線； ? 盡 量 讓樣 本 數(shù) 一致，如果 樣本數(shù) 一直在 變 化 ，會 如下 圖 ： 2 3 2 1 2 1 2 1 2 1 100 300 200 100 100 200 100 300 200 100 1 098765432100 . 0 40 . 0 30 . 0 20 . 0 10 . 0 0S a m p l e N u m b e rProportionP C h a r t f o r C 2P = 0 . 0 1 0 0 03 . 0 S L = 0 . 0 3 9 8 5 3 . 0 S L = 0 . 0 0 0Ｃ階段 過程控制用控制圖解釋 C 分析 數(shù)據(jù)點 ，找出不 穩(wěn) 定 證據(jù)； C 尋 找 并糾 正特殊原因 ； C 重新 計 算控制界限 。 劃圖區(qū)域 A 將 不合格品率描 繪 在控制 圖 上 ? 描 繪 每 個 子 組 的 p值， 將這 些 點聯(lián) 成 線 通常有助 于發(fā)現(xiàn)異常 圖 形和 趨勢； ? 當點 描完 后 ，粗 覽 一遍看看它 們 是否合理，如果任意一 點比別的高出或低出 許多 ， 檢 查 計 算是否正 確； ? 記錄過 程的 變 化或者可能影 響過 程的 異 常 狀 況， 當這 些情況 被 發(fā)現(xiàn)時 ， 將 它 們記錄 在控制 圖 的“ 備注 ”部 分 。 Ppn 5~1=A 計 算每 個 子 組 內(nèi)的不合格品率 ?記錄 每 個 子 組 內(nèi)的下列值 – 被檢項 目的 數(shù) 量 ─ n – 發(fā)現(xiàn) 的不合格 項 目的 數(shù) 量 ─ d (np) – 通 過這 些 數(shù)據(jù)計 算不合格品率 ： nnpndp ==A 選擇 控 制圖的 坐 標 刻度 ? 描 繪數(shù)據(jù)點 用的 圖應將 不合格品率作 為縱坐標 ，子組識 別 （小時、天等） 作 為橫 坐 標 。 A 選擇 子 組 的容量、 頻 率及 數(shù) 量 ? 子 組 容量 ：用 于計數(shù) 型 數(shù)據(jù) 的控制 圖 一般要求 較 大的子 組容量 (例如 50～ 200)以便 檢驗 出性能的 變 化，一般希望每組 內(nèi)能包括 幾個 不合格品，但 樣 本 數(shù) 如果太 大 也 會 有不利之 處； ? 分 組頻 率 ： 應 根 據(jù)產(chǎn) 品的 周 期 確 定分 組 的 頻 率以便 幫 助分析和 糾 正 發(fā)現(xiàn) 的 問題 。 ?D、 過程能力解釋 ? 與 XbarR圖一樣，使用下式 估 計過 程 的標準 差： 式中， R為 移 動極 差的均值 ， d2是用 于對移 動極 差分 組 的 隨樣 本容量 n而 變 化的常數(shù)，見附錄《控制圖的常數(shù)和公式表》。 – 可用 單 值 圖 分析超出控制限的 點 ，在控制限內(nèi) 點 的分布，以 及趨勢 或 圖 形。 記 住 連續(xù) 的移 動極 差 間是 有聯(lián) 系的，因 為 它 們 至少有一 點 是共同的。 建立 XMR圖的步驟與 XbarR圖 的不同之處如下 ： R R R X X x R D LCL R D UCL R CL R E X LCL R E X UCL X CL 3 4 2 2 = = = ? = + = = 移動極差控制圖： 單值控制圖： B、 計 算控制限 注： D D E2為常數(shù)，隨樣本容量的不同而不同，見附錄《控制圖的常數(shù)和公式表》。通常最好是 記錄 每 對連續(xù)讀數(shù)間 的差值 (例如第一和第二 個讀數(shù)點的差，第二和第三 讀數(shù)間 的差等 )。 ? 由 于 每一子 組僅 有一 個單 值，所以平均值和 標準 差 會 有 較 大的 變異 性，直到子 組數(shù)達 到 100個 以上。 5），每 2小時取樣五個作測量，數(shù)據(jù)如下所示 ： ~ ? 在測量費用很大時（例如破壞性試驗），或是當在任何時刻點的輸出性質比較一致時（例如：化學溶液的 PH值）有必要用單值而不是子組進行過程控制，在這樣的情況下，子組內(nèi)的變差為 0 。 建立 XR控制 圖 的步 驟： 建立 XR圖的步驟與 XR圖類似，不同之處如下 ： ~ ~ R D LCL R D UCL R CL R A X LCL R A X UCL X CL R R R X X X 3 4 2 2 ~ ~ ~ = = = ? = + = = 極差控制圖： 中位數(shù)控制圖： B、 計 算控制限 ~ ~ 注： D D A2為常數(shù)，隨樣本容量的不同而不