spc統(tǒng)計(jì)制程管制124736(參考版)
2025-02-22 01:33本頁(yè)面
【正文】 失控 World Class Quality Unimicron 41 前次投影片 第四單元 總結(jié) A2: P27~31. A1: (1)XR: 適用于小樣本大小 , 即 1n=10. _ ? _ 1. XR Chart使用時(shí)機(jī)是什么 ? World Class Quality Unimicron 42 前次投影片 第四單元 練習(xí) 一、判斷題： 管制圖使用時(shí)機(jī)其樣本數(shù)為 n10 XR管制圖與 XRm管制圖兩種 ，而計(jì)數(shù)型管制圖中只有一個(gè)圖 全距管制圖須按產(chǎn)品生產(chǎn)之順序或測(cè)定之順序， 排列數(shù)據(jù) ，須先經(jīng)過(guò)管制用管制圖的分析 ，收集數(shù)據(jù)時(shí)可以挑自己喜歡的來(lái)收集 ，而計(jì)數(shù)型管制圖中只有一個(gè)圖 _ World Class Quality Unimicron 43 前次投影片 第四單元 練習(xí) 二、問(wèn)答題： XRm管制圖 ? ？ ，須繪出幾個(gè)相關(guān)管制圖 ? 4. R管制圖上有點(diǎn)超出管制界限時(shí)，則表示制程變異如何？ World Class Quality Unimicron 44 前次投影片 QA World Class Quality Unimicron 45 前次投影片 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。他從生產(chǎn)線(xiàn)上收集到 15組 (每組樣本數(shù)目大小為 3,即 n=3),線(xiàn)寬量測(cè)數(shù)據(jù)如下，請(qǐng)利用此筆量 測(cè)數(shù)據(jù)繪制解析用之平均值與全距管制圖并判讀制程是否失控。他從生產(chǎn)線(xiàn)上收集到 15組 (每組樣本數(shù)目大小為 3,即 n=3),線(xiàn)寬量測(cè)數(shù)據(jù)如下，請(qǐng)利用此筆量 測(cè)數(shù)據(jù)繪制解析用之平均值與全距管制圖并判讀制程是否失控。 ，則表示制程平均發(fā)生變化或 變異增大。 ，則表示制程變異增大。如有點(diǎn)超出管制界限時(shí)，則判定制程有不正常原因侵入。 X XM. 點(diǎn)圖 將 F及 G兩節(jié)中所計(jì)算得之 X及 R 數(shù)據(jù)，點(diǎn)繪在適當(dāng)位置，并在相鄰兩點(diǎn)間以直線(xiàn)連接之。 World Class Quality Unimicron 35 前次投影片 L. 繪制管制界限 管制圖在上， R 管制圖在下，按習(xí)慣一般 圖之寬度較 R 圖為大。 World Class Quality Unimicron 34 前次投影片 K. 計(jì)算 管制界限 : I. 計(jì)算 全距之平均值 :Ｒ 。 F. 計(jì)算各組數(shù)據(jù)之 平均值 :Ｘ 。 E. 數(shù)據(jù)之 記錄 :將分組之?dāng)?shù)據(jù)記入數(shù)據(jù)記錄表。 樣本之組數(shù) 稱(chēng)為 樣本數(shù) ,以 k表示 。 C. 按產(chǎn)品生產(chǎn)之順序或測(cè)定之順序 ， 排列數(shù)據(jù) 。 ● 建立 R 管制圖之步驟 先建立 解析用管制圖 ， 待確定管制界限后 ， 再建立 管制用管制圖 ， 其步驟如下： X第四單元：常用管制圖之繪制 一 、 平均值 全距管制圖 ( 管制圖 ) RX A. 選定管制項(xiàng)目 在制程中選擇對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)特性有重要影響之 要因 或 重要品質(zhì)特性 作為管制項(xiàng)目。請(qǐng)對(duì)此管制圖進(jìn)行判讀，也就是說(shuō)，判斷出這個(gè)管制圖是否有出現(xiàn)制程失控？ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 管制上限 管制下限 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在區(qū)域 B或以上 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在區(qū)域 B或以上 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在區(qū)域 B或以上 連續(xù) 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)在 區(qū)域 A或以上 看有無(wú)任何點(diǎn)在 A區(qū)之外 ? 規(guī)則 1. 一點(diǎn)落在 A區(qū)之外 (超出管制界限 ) 看有無(wú)接近的兩點(diǎn)在 A區(qū) (含 )之外 ? 規(guī)則 A區(qū) 看有無(wú)接近的四點(diǎn)在 B區(qū)之外 規(guī)則 B區(qū)或是 B區(qū)之外 看有無(wú)連續(xù) 7點(diǎn)往同一方向走 規(guī)則 看有無(wú)連續(xù) 8點(diǎn)出現(xiàn)在中心線(xiàn)同側(cè) 規(guī)則 World Class Quality Unimicron 27 前次投影片 ※ 注意 :使用于管制圖的上述任何一條判定 法則 (Run Rules),不可隨意取消。 ▼ 區(qū)間測(cè)試 (Zone Test)法則 區(qū)間法則可適用于管制圖中心線(xiàn)之 兩側(cè) 。 在中心線(xiàn)的 同一側(cè) 。 中有 四點(diǎn) 落在 B區(qū)或是 B區(qū)之外。 2s 2s Mean 3s 3s 1s 1s % % % World Class Quality Unimicron 24 前次投影片 區(qū)間測(cè)試包含： 落在 A區(qū)之外 (超出管制界限 )。 (3).僅有少數(shù)點(diǎn) (約 5%)靠近管制界限。 (1).中心線(xiàn)上下的點(diǎn)數(shù)要大約相等 (各占 40%~60%)。常用之計(jì)數(shù)值管制圖有： 不良率 管制圖 (p Chart) 例如： OS2測(cè)試的不良率等 World Class Quality Unimicron 23 前次投影片 ▼基本原則 正常管制圖上的點(diǎn)，必須符合 : (1)隨機(jī)分散 與 (2)常態(tài)分布 的原則，所以至少要滿(mǎn)足下面幾點(diǎn)要求： ● 管制圖之研判與分析 但是下列法則若有一成立，則判斷 制程失控 :
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