spc統(tǒng)培訓(xùn)過程管理(參考版)
2025-02-21 23:48本頁面
【正文】 ！——下次再見 SPC謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH。組間差異 應(yīng)由 異常原因 引起 20到 75組 SPC 當(dāng)控制圖使用了一段時(shí)間后，應(yīng)根據(jù)實(shí)際的質(zhì)量水平，對控制圖的中心線和上、 下控制線進(jìn)行修正 ，使控制水平能夠不斷提高?；騍c4Rd2^這是一個(gè)潛在的過程能力指數(shù)當(dāng) Cp1時(shí)，過程不能滿足規(guī)范要求當(dāng) Cp=1時(shí)，過程剛好滿足規(guī)范要求在實(shí)際中最好能使 Cp= SPC cpk的計(jì)算 : 當(dāng)產(chǎn)品質(zhì)量分布的均值與公差中心 M不重合(有偏離 )時(shí)需對 cp加以修正、計(jì)算如下 偏離度修正過程能力指數(shù)SPCK = =2?/T?T/2 ?= M ?Cpk = (1K)CP 提高過程能力的途徑 (1)適當(dāng)加大公差范圍 (應(yīng)經(jīng)顧客同意 ) (2)減少偏離度 (設(shè)備調(diào)整、量具校準(zhǔn) ) (3)減少 ?(系統(tǒng)的調(diào)整改進(jìn) ) SPC七、建立控制圖前期的準(zhǔn)備工作 ，確定控制點(diǎn) :一般以時(shí)間劃分 要求：組內(nèi)變異應(yīng)由隨機(jī)原因引起=?^UTL設(shè)規(guī)范要求特性值在 （ 7） 控制圖的保管問題。SPC采用常規(guī)控制圖應(yīng)該考慮的問題 （ 1） 控制圖用于何處 ? （ 2） 如何選擇控制對象 ? （ 3） 怎樣選擇控制圖 ? （ 4） 如何分析控制圖 ? （ 5） 對于點(diǎn)子出界或違反其他準(zhǔn)則的處理。實(shí)際的過程控制。 SPCX的波動是穩(wěn)定的。 R圖處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)時(shí)，認(rèn)為過程CL， UCL， LCU， 再次確認(rèn)所有點(diǎn)受控。，重新計(jì)算 檢查數(shù)據(jù)點(diǎn)有無失控或異常模式。并 計(jì)算 R 圖的 控制限。計(jì)算每一個(gè)樣本的均值與極差。 *再進(jìn)一步考察均值的受控狀態(tài)。* R (或 s) 圖失控還會影響到均值的控制圖。 SPC* R(或 s)圖保持在統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) ——偶然波動。有關(guān)極差的控制圖 (或標(biāo)準(zhǔn)差 )揭示了組內(nèi)的異常波動，是考察過程波動 $ 樣本組內(nèi)采樣間隔要小$ 過程不穩(wěn)，樣本數(shù)應(yīng)加大，過程平穩(wěn)、 樣本數(shù)可減少。 SPC常見的異常情況與模式有如下八種 14點(diǎn)交替上升下降 A上 或 A下 區(qū) C區(qū)之外 15點(diǎn)在中心線附近的 c區(qū)內(nèi) 8點(diǎn)在中心線兩側(cè)而無一點(diǎn)在 C區(qū) SPC(五 )合理子組原則 SPC 上下控制線最優(yōu)間距 ——6 ? SPC（三）判穩(wěn)準(zhǔn)則 : 25點(diǎn)，無界外點(diǎn)； 35點(diǎn)，界外點(diǎn)數(shù) d≤1； 100點(diǎn)，界外點(diǎn)數(shù) d≤2。 SPC(二 )控制圖的兩種錯誤 過程實(shí)際上沒有失控而虛報(bào)失控，這類錯誤發(fā)生的概率記為 ? 。n SPC采用計(jì)數(shù)控制圖的優(yōu)點(diǎn) 數(shù)據(jù)的獲得比較容易，一般不需要專門的收集技術(shù)。 常用的控制圖是 : 不合格品率控制圖 (p圖 ) 不合格品數(shù)控制圖 (np圖 ) 它基于二項(xiàng)分布，僅有一個(gè)參數(shù)。中位數(shù)受異常數(shù)據(jù)影響較小。中位數(shù)控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的均值是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)。 SPCSPC控制線如下：CL X SUCL X + A3S B4S LCL X A3S B3S R圖X 圖適用樣本容量 n 10===單值 移動極差控制圖 (xRs圖 )在一些場合取一個(gè)子組不可能或不實(shí)際 : $ 測單個(gè)值需要很長時(shí)間 $ 用破壞性試驗(yàn)方法獲得測量值 $ 任一時(shí)刻質(zhì)量相對是均勻的 $ 有時(shí)一次僅能獲得一個(gè)觀察值，如 原材料的性能、儀表讀數(shù)等 SPCSPC控制線如下：CL X RSUCL X + E2RS D4RS LCL X E2RS D3RS 其中 E2=3/d2X 圖 RS 圖中位數(shù) 極差控制圖 (XR圖 ) 標(biāo)準(zhǔn)差控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的標(biāo)準(zhǔn)差是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)。兩張圖一起用，稱為均值 均值控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的均值是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)。 SPC均值 極差控制圖 (XR圖 ) 計(jì)量值比只記錄合格與否能提供計(jì)量值比只記錄合格與否能提供UCLCLLCLA上B上CB下A下—— 控制圖的原理SPCUCLCLLCL序號1 2 63 4 5X圖 控制圖的示意圖X—— 控制圖的原理SPC 實(shí)際中 ?T 與 ?T 常是未知的，需收集一定數(shù)量的樣本作出估計(jì)。上、下控制線 UCL與 LCL被用來判斷生產(chǎn)過程有無異常。(x1,x2,……x n)服從正態(tài)分布或近似正態(tài)分布，即 T~N (?T， ?2)T其中 ?T是 T的均值， ?T是 T的標(biāo)準(zhǔn)差，根據(jù) 3?原理有P (?T3?T T ?T+ 3?T) = SPC—— 控制圖的原理控制上限 (記為 UCL) 為 ?T+ 3?T控制下限 (記為 LCL)為 ?T
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