spc知識-控制圖2(參考版)
2025-02-21 19:45本頁面
【正文】 20 = 控制界限及繪出 X控制圖 中心線 ( CLx ) = X = 控制上限 ( UCLx ) = X+A2R = + ╳ = 控制下限 ( LCLx ) = XA2R = ╳ = R1+R2+R3+……+RKk31R控制圖 中心線 CLR = R = 控制上限 UCLR = D4R = ╳ = 控制下限 LCLR = D3R = 0 ╳ = 0 X值及 R值點入控制圖上並將相鄰兩點用 直線連接3233二 .不良率控制圖( P Chart )34P Chart常用的符號 ﹕ni: 樣本數(shù) ﹐ 即樣本所含的件數(shù)和個數(shù) ﹔d: 樣本中的不良品數(shù) ﹔p﹕ 樣本的不良品率 p = d/niP﹕ 樣本不良率的平均值 p = ∑d/ ∑niP Chart 不良率控制圖35P Chart 不良率控制圖P Chart控制線的計算 ﹕中心線 ﹕ CLP=P = ∑d/ ∑ni控 制界限 ﹕UCL=P+3√LCL =P3√P(1p)/ni p(1p)/ni36P Chart 不良率控制圖實例37P Chart 控制線的計算P Chart控制線的計算 ﹕中心線 ﹕ CLP=P = 298/(240*30)==%控 制界限 ﹕UCL=P+3√ =+3 √ =+3*==%LCL =P3√ = √ ==% p(1p)/ni ()/240 p(1p)/n ()/240i38P Chart 不良率控制圖39P Chart 不良率控制圖P Chart制作過程 ﹕收集數(shù)據(jù) ﹕ 在 5M1E充分固定 ﹐ 并標準化的前提下 ﹐ 從生產(chǎn)過程中收集數(shù)據(jù) ﹔計算樣本中的不合格率求過程平均不合格率計算控制線制作控制圖 ﹐ 描點分析生產(chǎn)過程是否處于統(tǒng)計控制狀態(tài)40建立控制用控制圖 如制品名稱、控件目、測定單位、規(guī)格等 . 將經(jīng)解析后之控制圖決定之控制界限繪入 . 由制程抽取樣本 ,測定其特性值 ,記錄數(shù)據(jù) ,
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