spc-培訓(xùn)(參考版)
2025-02-20 14:37本頁(yè)面
【正文】 歡迎垂詢 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 P—Chart一般要求子組容量在 50到 200或是更多， 以便使每一個(gè)組內(nèi)可以包括幾個(gè)不合格品，但是要 注意每個(gè)子組代表很長(zhǎng)的時(shí)間段，大的子組容量又 會(huì)帶來(lái)不利之處。 Cp圖解 Cpk圖解，這下看明白了吧 ? Lσ控制方式的 PPM與均值偏移 σ情形的 PPM Lσ控制方式 均值無(wú)偏移情形的不合格率 均值偏移 σ情形的 ppm 1σ控制方式 102 697670 2σ控制方式 102 308770 3σ控制方式 103 66870 4σ控制方式 106= 6210 5σ控制方式 106= 233 6σ控制方式 2 109=2ppb 7σ控制方式 109= 6σ 與 3σ的比較 無(wú)偏移條件下， 6σ 比3σ小 135萬(wàn)倍 偏移 σ條件下， 6σ 比 3σ小 2萬(wàn)倍 十一 、 P控制圖 P—Chart用于控制產(chǎn)品不良率 、 人員缺勤率等方面 （ 1） 控制界限的計(jì)算： P=Pn/n=不合格品個(gè)數(shù) /總檢查數(shù) P=ΣPn/Σn=總不合格品數(shù) /總檢查數(shù) CL= P UCL=P+3 P（ 1P） /n LCL=P3 P（ 1P） /n （ 2） 作圖步驟 同 X—R圖 注： P—Chart的過(guò)程能力是用平均不合格率 P來(lái)表示的 。 PPL:無(wú)偏移下側(cè)實(shí)績(jī)（長(zhǎng)期）過(guò)程能力指數(shù)。 PP:無(wú)偏移實(shí)績(jī)（長(zhǎng)期）過(guò)程能力指數(shù)。 CPL:無(wú)偏移下側(cè)短期過(guò)程能力指數(shù)。 Cp:無(wú)偏移短期過(guò)程能力指數(shù)。 而有偏移情況的 CpK表示過(guò)程中心 μ與規(guī)范中心 M的偏移情況下的過(guò)程能力指數(shù)， CpK越大，則二者偏離越小，也即過(guò)程分布中心對(duì)規(guī)范中心越“瞄準(zhǔn)”，是“過(guò)程能力”與“管理能力”二者共同作用的結(jié)果。 過(guò)程能力指數(shù)：以往稱工序能力指數(shù)。 長(zhǎng)期過(guò)程能力：是指由異因與偶因之和所因起的總的變異，它實(shí)際上反映了“長(zhǎng)期差異”。與生產(chǎn)能力不同。 （ 3） 連續(xù) 100點(diǎn)，界外點(diǎn)數(shù) d≤2。 判穩(wěn)準(zhǔn)則 （ 1）連續(xù) 25點(diǎn)，界外點(diǎn)數(shù) d=0。 1σ的范圍內(nèi)稱為“中心 線”附近。 九 、 控制圖判穩(wěn)準(zhǔn)則 判異準(zhǔn)則： 點(diǎn)子出界 界內(nèi)點(diǎn)子排列不隨機(jī) 模式 1：超出控制限的點(diǎn)
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