lcm后段生產(chǎn)流程課件(參考版)
2025-02-19 17:21本頁面
【正文】 DBEF Introduction 4344/67LED (Light Emitting Diode): 發(fā)光二極管CCFL(Cold Cathode Fluorescent Lamp) : 冷陰極射線管LED CCFL Introduction 4445/67前制程加工撕反射片上離形膜貼鋁箔膠帶(防電磁幹?jǐn)_ )貼雙面膠帶(固定材料 )4546/67導(dǎo)光板半成品組裝 +4647/67B/L ASM 組裝流程的組立 (膠框 ,下擴散片 ,BEF,DRPF,)半成品組裝裝4748/67下擴散片膠框棱鏡片導(dǎo)光板反射片 燈管(CCFLLED)背板背光增光片由下至上Panel鐵框100%6%Module Introduction 4849/67MO產(chǎn)品擺放標(biāo)準(zhǔn) 7D8D17A8D2 4950/67 MDMA 模組製程? MO FMA Rework材制損退料不良品 Rework絕對不良品報廢處理組裝良品由 FT終檢接收5051/67FT 終檢5152/67Aging﹕ 將成品 (module)或是半成品 (Panel)進行老化測試 ,以增加產(chǎn)品的可靠性 .即利用高溫動態(tài)的方式使製程中品質(zhì)較不好的產(chǎn)品 ,提前發(fā)生故障 ,以確保出貨的品質(zhì) BI: BurnIn TestBI Introduction (燒機 /老化測試 )5253/67Aging 的原理 一般的電子產(chǎn)品 , 在使用中的前幾天內(nèi) , 發(fā)生故障的機率最高 , 而一般電子產(chǎn)品在 高溫操作下一個小時 , 即相當(dāng)於正常溫度操作下的數(shù) 天 , Aging即利用此原理 , 在高溫下動作幾個小時 , 加速產(chǎn)品的老化 , 從而使不良品提早於工廠內(nèi)即可發(fā)現(xiàn) .5354/67目的 ﹕良品檢出 ,增強客戶信譽度 .FD: Final DisplayFD Introduction (最 終 畫面 檢測 )5455/67檢查鐵框 檢查偏光片檢查易撕貼 檢查 FPCFV: Final VisualFV Introduction (最 終 外觀 檢 測 )5556/67檢查燈源線 檢查背板擦拭保護膜 檢查條碼FV: Final VisualFV Introduction (最 終 外觀 檢 測 )5657
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