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正文內(nèi)容

質(zhì)量體系實施大全與核心工具運用加psw和pacs(參考版)

2025-01-22 23:45本頁面
  

【正文】 ? 3. %GRR30%測量系統(tǒng)不可接受; ? 4. 分級數(shù) ndc≥5 ? 5. 均值圖: 50%以上的點要在控制線外; ? 6. 極差圖:所有點均須在控制線內(nèi) 。 ? 可能需要某些夾具協(xié)助操作員 , 使其更具一致性的使用量具。 ? 量具應(yīng)加以保養(yǎng)。 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 均值 人A 12. 23. 34. 均值5. 極差 人B 17. 28. 39. 均值10. 極差 人C 112. 213. 314. 均值15. 極差 均值( p)量具名稱: 零件名稱: 編 號 : 量具重復(fù)性與再現(xiàn)性報告Z J 0 1 0 6 6 / A 0量具型號: 特 性 : 日 期 : 量具編號: 尺寸規(guī)格: 評定員: =MaxMin= R=*D4= D4=(兩 次實驗),D4=(叁 次實驗)D3=0(不 大于七次實驗).UCLR代 表單個R 的限值, 畫出那些超限值的值. 查明原因并糾正. 同一評價人采用最初的儀器重復(fù)這些 超限讀數(shù)或者剔除這些超限值, 由剩余觀測值再次平均并計算R 和限值.評價人: A( ) B( ) C( )評價人/試 驗零 件=(Ra+Rb+Rc)/評價 人數(shù)量= Z J 0 1 0 6 6 /A 0量具名稱: 零件名稱: 編號: 量具型號: 特性: 日期:量具編號: 尺寸規(guī)格: 評定員:總變差%(TV )重復(fù)性設(shè)備變差(E V)EV= RK1 %EV= 100 [EV/ TV] = 實驗次數(shù) K1 = = 2 = 3 再現(xiàn)性評價人變差(A V)AV= √[(DI FFK 2)2 (EV2/nr)] %AV= 100 [AV/ TV] = = = n=零件數(shù)量 評價人人數(shù) 2 3r=試驗次數(shù) K2 重復(fù)性和再現(xiàn)性(R&R )R&R= √(EV2+AV2) 零件數(shù) K3 %R&R= 100 [R&R/ TV]2 =3 =4 零件變差(PV ) 5 %PV= 100 [PV/ TV]PV=RPK3 6 = = 7 = = 8 總變差(TV ) 9 ndc=(PV/RR)TV= √(R&R )2+(PV)210 = = = 量具重復(fù)性與再現(xiàn)性報告 = =√從數(shù)據(jù)表:R= D IFF = RP=測量系統(tǒng)分析 =√MSA G RR 實際操作 順威實操案例 8 MSA G RR 實際操作 順威實操案例 9 MSA G RR 結(jié)果分析 ? 改進分析: ? 結(jié)果分析 1)當(dāng)重復(fù)性 (EV)變差值大于再現(xiàn)性 (AV)時 : ? 量具的結(jié)構(gòu)需在設(shè)計增強。 重復(fù)性 同一評價人,多次測量同一特性的觀測 值變差。 M S A 計量型測量系統(tǒng)分析: ●偏倚 ●線性 ●重復(fù)性和再現(xiàn)性分析 – RR ● 穩(wěn)定性 計數(shù)型測量系統(tǒng)分析 ●小樣法 ●大樣法 ●案例分析 M S A 分析方法 量具 RR分析 注意: 重復(fù)性和再現(xiàn)性用于衡量測量系統(tǒng)變差的寬度或分布 偏倚、穩(wěn)定性和線性用于對測量系統(tǒng)變差作定位 M S A G RR 理論 重復(fù)性 同一評價人 同一測量儀器 多次測量 同一零件的 同一特性 所獲得的測量變差 重復(fù)性 Repeatability M S A G RR 理論 再現(xiàn)性 不同評價人 同一測量儀器 多次測量 同一零件的 同一特性 所獲得的測量平均值的變差 再現(xiàn)性 Reproducibility Operator B Operator C Operator A M S A G RR理論 M S A G RR 術(shù)語 測量系統(tǒng)特性及變差類型和定義 分辨力 測量系統(tǒng)檢出并如實指出被測定特性微 小變化的能力 偏 倚 觀測平均值與基準(zhǔn)值的差 穩(wěn)定性 在某種持續(xù)時間內(nèi)測量同基準(zhǔn)或零件單 一特性結(jié)果的總變差 。測量系統(tǒng)的穩(wěn)定性可由重復(fù)測量相同部件的同一質(zhì)量特性的均值極差控制圖來監(jiān)控。 ? 一般來說,測量系統(tǒng)的分辨率應(yīng)為獲得測量參數(shù)的過程變差的十分之一。 M S A ? 測量系統(tǒng)的誤差由穩(wěn)定條件下運行的測量系統(tǒng)多次測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計特性:偏倚和方差來表征。 ≤Cpk≤ ,說明制程能力正常 。 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 SPC 過程能力分析 Cpk=(1k)T/6σ 規(guī)范下限 LSL 規(guī)范上限 USL 規(guī)范中心值 (目標(biāo)值) 均值 μ CpkU= USLμ 3σ CpkL= μLSL 3σ Cpk為兩值較少者 SPC 過程能力分析 Sigma = ? = 變差 7 6 5 4 3 2 1 0 1 2 3 4 5 6 7 % % % % % % 不合格 : 317300 PPM 45500 PPM 2700 PPM 63 PPM PPM PPM + / 1???? + / 2???? + / 3???? + / 4???? + / 5???? + / 6????? 規(guī)范中心值 (目標(biāo)值) 規(guī)范下限 LSL 規(guī)范上限 USL Cpk: SPC 過程能力分析 CPK SUTDY 業(yè)體名 : 昆山順威電器有限公司 K unS ha n S unw i l l 檢討者 : 李建華 鄧梅卿日期部品名規(guī)格 S P E C. 521小孔 380062001小孔測量項目 IT E M A x ia l R u n O u tR a d ia l R u n O u t H u b ID OD ID banlance單位 U N IT mm mm mm mm mm g 標(biāo)準(zhǔn) S T A N D A RD 2 1 . 5 1 5 . 9 0 4 521 495 0 . 4 4規(guī)格下限 (SL) 規(guī)格上限 (SU) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 MIN MAX R 試料標(biāo)準(zhǔn)偏差 平均 X,BAR3S X,BAR+3S CP Cpu Cpl CPK 部品名 : F A N20230127C O N D F A NSPC 過程能力分析 順威實操案例 7 評價過程能力 當(dāng) Cpk1 說明制程能力差 , 不可接受 。C ) 工程更改處理時間( h) X圖 R圖 SPC 控制圖 SPC 控制圖 SPC ( X barR)控制圖 順威實操案例 6 如果已經(jīng)確定一個過程已處于統(tǒng)計控制狀態(tài),還存在過程是否有能力滿足顧客需求的問題時; 一般講,控制狀態(tài)穩(wěn)定, 說明不存在特殊原因引起的變差,而能力反映普通原因引起 的變差,并且?guī)缀蹩傄獙ο到y(tǒng)采取措施來提高能力,過程能力通過標(biāo)準(zhǔn)偏差來評價。 % % μ 177。 % % μ 177。 % % μ 177。 SPC SPC SPC 76 % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 正 態(tài)分布的概率 SPC 77 μ 177。 ? ⑵計數(shù)數(shù)據(jù):如果總體 X的取值是通過數(shù)數(shù)的方法獲得的,它們往往只能是取非負(fù)整數(shù)。 ? 二、定量數(shù)據(jù) ? ⑴計量數(shù)據(jù):如果總體 X的取值是通過某種量具、儀器的測定獲得,這種數(shù)據(jù)是計量數(shù)據(jù),它們可以取某一區(qū)間中的一切實數(shù)。 SPC 概述 數(shù)量類型: ? 一是定性數(shù)據(jù),如果總體 X的取值只按一定特征或標(biāo)準(zhǔn)進行分類,那么這種數(shù)量便是定性數(shù)量。 特殊原因:(通常也叫可查明原因)是指造成不是始終作用于過 程的變差的原因,即當(dāng)它們出現(xiàn)時將造成(整個) 過程的分布改變。普通原因表現(xiàn)為一個穩(wěn) 系統(tǒng)的偶然原因。 移動極差 ( Moving Range) 兩個或多個連續(xù)樣本值中最大值和最小值之差。 SPC 名稱 解釋 普通原因( Common Cause) 造成變差的一個原因,它影響被研究過程輸出的所有單值;在控制圖分析中,它表現(xiàn)為隨機過程變差的一部分。 特殊原因 ( Special Cause) 一種間斷性的,不可預(yù)計的,不穩(wěn)定的變差根源。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。 過程均值( Process Average) 一個特定過程特性的測量值分布的位臵即為過程均值,通常用 X 來表示。 單值( Individual) 一個單個的單位產(chǎn)品或一個特性的一次測量,通常用符號 X 表示。 分布寬度( Spread) 一個分布中從最小值到最大值之間的間距 中位數(shù) ?x 將一組測量值從小到大排列后,中間的值即為中位數(shù)。 為討論過程的性能提供共同的語言 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因,作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。 ——更低的單件成本。 有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地 ,可預(yù)測地保持下。 1924年,美國的休哈特博士提出將 3Sigma原理運用于生產(chǎn)過程當(dāng)中,并發(fā)表了著名的 “ 控制圖法 ” ,對過程變量進行控制,為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。 PPAP 保存 /提交要求 SPC SPC 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control 目錄 1 SPC的產(chǎn)生 2 SPC的作用 3 SPC常用術(shù)語解釋 4 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述 5 管制圖的類型 6 管制圖的選擇方法 7 計量型數(shù)據(jù)管制圖 ( X barR 圖) 8 計數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖(略) SPC SPC的產(chǎn)生 工業(yè)革命以后, 隨著生產(chǎn)力的進一步發(fā)展,大規(guī)模生產(chǎn)的形成,如何控制大批量產(chǎn)品質(zhì)量成為一個突出問題,單純依靠事后檢驗的質(zhì)量控制方法已不能適應(yīng)當(dāng)時經(jīng)濟發(fā)展
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