光驅(qū)廠實(shí)習(xí)報(bào)告word版(參考版)
2024-08-27 23:37本頁面
【正文】 〖1〗〖2〗〖3〗〖4〗〖5〗。達(dá)到質(zhì)量要求，保證產(chǎn)品質(zhì)量。產(chǎn)品經(jīng)過檢驗(yàn)后再出貨是質(zhì)量管理最基本的要求。 8）r管制圖沒下限，系因r值是由同組數(shù)據(jù)之最大值減最小值而得，因之lcl取負(fù)值沒有意義。 6）點(diǎn)子超出界限或有不正常之狀態(tài)，必須利用各種措施研究改善或配合統(tǒng)計(jì)方法，把異常原因找出，同時(shí)加以消除。 4）管制圖種類之遴選應(yīng)配合管制項(xiàng)目之決定時(shí)搭配之。 2）管制圖使用前，應(yīng)先決定管制項(xiàng)目，包括品質(zhì)特性之選擇與取樣數(shù)量之決定。 b點(diǎn)子之動(dòng)向代表制程之變化；雖無異常之原因，各點(diǎn)子在界限內(nèi)仍會(huì)有差異存在。 制程在滿足上述條件時(shí)，雖可認(rèn)為制程在管制狀態(tài)而不予變動(dòng)管制界限，但并非點(diǎn)子超出管制界限外亦可接受；這此超限之點(diǎn)子必有異常原因，故應(yīng)追究調(diào)查原因并予以消除之。 b連續(xù)35點(diǎn)中，出現(xiàn)在管制界限外點(diǎn)子不超出1點(diǎn)時(shí)。 d無點(diǎn)子超出管制界限以外。 b少數(shù)點(diǎn)子落在管制界限附近。 6）變管制圖，二個(gè)管制圖之繪制間隔最少距20mm以上，可行的話最好距30mm左右。 4）cl、ucl、lcl之?dāng)?shù)值位數(shù)計(jì)算比測定值多兩位數(shù)即可。 2）計(jì)量值變更管制圖（xr，xr等）其x管制圖與r管制圖的管制界限席寬度取法，一般原則以組之樣本數(shù)（n）為參考，x管制圖之單位分度約為r管制圖之1/n倍。 10）將各數(shù)據(jù)履歷及特殊原因記入，以備查考、分析、判斷。 x=（x1+x2+x3++xk）/k=xi/k（k為組數(shù)） 7）計(jì)算全距之平均r： r=（r1+r2+r3++rk）/k=ri/k 8）計(jì)算管制界限 x管制圖：中心線（cl）=x 管制上限（ucl）=x+a2r 管制下限（lcl）=xa2r r管制圖：中心線（cl）=r 管制上限（ucl）=d4r 管制下限（lcl）=d3r a2，d3，d4之值，隨每組之樣本數(shù)不同而有差異，但仍遵循三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差之原理，計(jì)算而得，今已被整理成常用系數(shù)表。（取至測定值最小單位下一位數(shù)） 5）計(jì)算各組之全距r。 3）將各組數(shù)據(jù)記入數(shù)據(jù)表欄位內(nèi)。 ?。?）管制圖之繪制： 12345 介紹：計(jì)量值管制圖（xr）常用 1）先行收集100個(gè)以上數(shù)據(jù)，依測定之先后順序排列之。 無法尋得不良之真因。 缺點(diǎn) 抽樣頻度較高、費(fèi)時(shí)麻煩。 所須數(shù)據(jù)可用簡單方法獲得。常用的有： a不良率管制圖（pchart） b不良數(shù)管制圖（pnchart，又稱npchart或dchart） c缺點(diǎn)數(shù)管制圖（cchart） d單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖（ucha
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