電子產(chǎn)品的可靠性驗(yàn)證的主要項(xiàng)目與檢測(cè)儀器(參考版)
2025-07-10 15:03本頁(yè)面
【正文】 只有你自己才能把歲月描畫(huà)成一幅難以忘懷的人生畫(huà)卷。歲月是有情的，假如你奉獻(xiàn)給她的是一些色彩，它奉獻(xiàn)給你的也是一些色彩。努力過(guò)后，才知道許多事情，堅(jiān)持堅(jiān)持，就過(guò)來(lái)了。有時(shí)候覺(jué)得自己像個(gè)神經(jīng)病。在紛雜的塵世里，為自己留下一片純靜的心靈空間，不管是潮起潮落，也不管是陰晴圓缺，你都可以免去浮躁，義無(wú)反顧，勇往直前，輕松自如地走好人生路上的每一步3. 花一些時(shí)間，總會(huì)看清一些事?！湓囼?yàn) 儀器：跌落試驗(yàn)機(jī)※運(yùn)輸試驗(yàn) 儀器：模擬運(yùn)輸振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)3）物理試驗(yàn)※可焊性試驗(yàn)※耐焊接熱※拉脫強(qiáng)度※鍵合強(qiáng)度五、 產(chǎn)品組建各階段試驗(yàn)階段材料和內(nèi)容常用的環(huán)境因素開(kāi)發(fā)階段元件、器件高溫、低溫集成電路高溫、靜電連接板高溫、低溫、溫度沖擊、濕熱PCB板濕熱、濕熱加電、氣體腐蝕生產(chǎn)階段焊接材料溫度沖擊、機(jī)械振動(dòng)樹(shù)脂材料高溫、溫度沖擊器件、集成電路靜電防護(hù)成品階段環(huán)境適應(yīng)性高溫、低溫、溫度沖擊、濕熱老化高溫加電耐久性高溫1. 若不給自己設(shè)限，則人生中就沒(méi)有限制你發(fā)揮的藩籬。使微電路作等幅諧振動(dòng)，其加速度峰值一般不小于196m／s2(20g)．振動(dòng)頻率從20Hs一2 oooHz范圍內(nèi)隨時(shí)間按對(duì)數(shù)變化．振動(dòng)頻率從20Hz一2 000Hz再回到20Hz的時(shí)間要求不小于4min，并且在互相垂直的三個(gè)方向上(其中一個(gè)方向與芯片垂直)各進(jìn)行1次。頻率范圍為幾十到2 000Hz。隨機(jī)振動(dòng)的振幅具有高斯分布。振動(dòng)頻率從20Hz~2 000Hz再回到20Hz的時(shí)間要求不小于4mm，并且在互相垂直的三個(gè)方向上(其中一個(gè)方向與芯片垂直)各進(jìn)行五次。振動(dòng)噪聲試驗(yàn)和隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)。對(duì)微電路的芯片脫出方向、壓緊方向和與該方向垂直的方向各施加五次半正弦波的機(jī)械沖擊脈沖．沖擊脈沖的峰值加速度取值范圍—般取為4900m／s2~294 000m／s2(500g~30 000g)—，允許失真不大于峰值加速度的20％。如跌落、碰撞時(shí)微電路會(huì)受到突發(fā)的機(jī)械應(yīng)力．這些應(yīng)力可能引起微電路的芯片脫落、內(nèi)引線(xiàn)開(kāi)路、管殼變形、漏氣等失效。即考核微電路承受突然受力的能力。如芯片脫落、內(nèi)引線(xiàn)開(kāi)路、管殼變形、漏氣等。3）可靠性試驗(yàn)※高溫低溫壽命 儀器：高低溫試驗(yàn)箱※高溫高濕壽命 儀器：高溫濕熱試驗(yàn)箱（雙85）※交流電容器試驗(yàn)電源 儀器：630V 400μF※高溫試驗(yàn)房 儀器：大型老化房3）機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)※恒定加速度試驗(yàn) 儀器：離心式恒加速度試驗(yàn)機(jī)
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