p管制圖(不良率管制圖)簡(jiǎn)介(參考版)
2025-06-28 23:19本頁(yè)面
【正文】 最后繪出之u管制圖如下： 窗體頂端窗體底端。計(jì)算試用管制界限。實(shí)例 【例】：某打字行以每千個(gè)字中之錯(cuò)誤，來(lái)衡量其打字員的品質(zhì)。所以u(píng)管制圖為n個(gè)獨(dú)立之卜瓦松隨機(jī)變量之線性組合，故仍可視為卜瓦松，也就符合卜瓦松分配假設(shè)，其使用條件與c管制圖相同。若在樣本為n個(gè)檢驗(yàn)單位中發(fā)現(xiàn)有c各不合格點(diǎn)，則單位不合格點(diǎn)數(shù)為管制圖之參數(shù)為UCL＝中心線＝LCL＝使用條件 c管制圖系假設(shè)樣本為一檢驗(yàn)單位，但有些情況下樣本大小并不剛好等于一檢驗(yàn)單位，通常是根據(jù)作業(yè)及數(shù)據(jù)收集之方便性來(lái)決定。u管制圖即是為了解決上述問題之一可行方法。修正后之管制界限為UCL = ＝中心線 = ＝LCL = ＝修正后管制圖如下u管制圖（單位不合格數(shù)管制圖）理論計(jì)算 如果每一樣本之檢驗(yàn)單位不同(不同之件數(shù)、面積)，則無(wú)法滿足每一樣本出現(xiàn)不合格點(diǎn)之機(jī)會(huì)范圍相同之要求。樣組不合格點(diǎn)數(shù)樣組不合格點(diǎn)數(shù)151472815434169491711512181067196782098122122921221310723811122410126257139 【解】：此25組樣本共含236個(gè)缺點(diǎn)，因此c之估計(jì)值為＝試用管制界限為UCL = ＝中心線 = ＝LCL = ＝依此25組樣本繪制下面管制圖其中樣本9及21均超出管制界限，因此必須診斷樣本9及21之異常原因。 c. 不合格點(diǎn)之發(fā)生需為獨(dú)立，亦即產(chǎn)品上某一部分發(fā)生不合格點(diǎn)不影響其它不合格點(diǎn)之出現(xiàn)。如果管制圖上下限以3為準(zhǔn)，且已知，則管制圖的計(jì)算如下：UCL = 中心線 = LCL = 使用條件 因?yàn)閏管制圖在卜瓦松分配的假設(shè)下，有幾項(xiàng)條件必須符合：a. 在產(chǎn)品出現(xiàn)不合格點(diǎn)之機(jī)會(huì)(位置)要相當(dāng)大，而每一特定位置發(fā)生不合格點(diǎn)之機(jī)率很小且固定。每個(gè)樣本出現(xiàn)的缺點(diǎn)數(shù)是參數(shù)為的Poisson分配。C管制圖是為了管制一個(gè)檢驗(yàn)單位之總不合格點(diǎn)數(shù)。根據(jù)不合格點(diǎn)之嚴(yán)重性，我們可能將具有許多不含格點(diǎn)之物品視為合格品。c管制圖（缺點(diǎn)數(shù)管制圖）理論計(jì)算 所謂不合格品是指一件物品無(wú)法符合一項(xiàng)或多項(xiàng)之規(guī)格要求
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