射線照相工藝規(guī)程(參考版)
2024-11-03 06:30本頁面
【正文】 。 射線檢測報告 檢測報告至少應(yīng)包括下述內(nèi)容 委托單位； 被檢工件：名稱、編號、規(guī)格、材質(zhì)、焊接方法和熱處理狀況； 檢測設(shè)備：名稱、型號焦點尺寸； 檢測標準和驗收等級； 檢測規(guī)范：技術(shù)等級、透照布置、膠片、增感 屏、射線能量、曝光量、焦距、暗室處理方式和條件等； 工件檢測部位排版圖； 檢測結(jié)果及質(zhì)量分級； 檢測人員和責任人員簽字及其技術(shù)資格； 檢測日期； 評定原始記錄和 X 光底片須妥善保存不少于 7 年。 1 綜合評級 在條形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時存在多種缺陷時，應(yīng)進行綜合評級。 表 9 外徑 D0＞ 100mm時根部內(nèi)凹和根部咬邊的分級 級別 根部內(nèi)凹和根部咬邊 最大深度 ,mm 根部內(nèi)凹和根部咬邊 累計長度 ,mm 與壁厚的比 最大值 Ⅰ 不允許 Ⅱ ≤ 15％ ≤ 在任意 3T 長度區(qū)內(nèi)不大于 T； 總長度不大于 100 Ⅲ ≤20 ％ ≤ Ⅳ 大于 Ⅲ 級 注 ： 對斷續(xù) 根部內(nèi)凹 和根部咬邊 ,以 根部內(nèi)凹 和根部咬邊本身的長度累計計算總長度。管外徑 D0＞ 100mm的管子和容器根部內(nèi)凹和根部咬邊深度可采用一般對比試塊（ Ⅱ）進行測定。 圖 7 一 般對比試塊（Ⅱ型） 管壁厚T 第一階厚度 T1 偏差 第二階厚度T2 偏差 第三階厚度 T3 偏差 1 0 + 0 + 0 4 1 5 1 6 1 表 8 一般對比試塊（Ⅱ型）的尺寸 尺寸 h1 h2 h3 h4 h5 h1 h5 的偏差 h h 的 偏差 d d 的 偏差 D D 的偏差 對比 塊編 號 Ⅰ 0.3 0.6 1.2 1.5 1.8 0 2.5 0 0.10 1.0 +6 0 _ _ Ⅱ 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 0 3.5 0 0.12 1.0 +6 0 + 0 1 根部內(nèi)凹和根部咬邊的分級評定 管外徑 D0＞ 100mm時，不加 墊板單面焊的根部內(nèi)凹和根部咬邊缺陷按表 9的規(guī)定進 行質(zhì)量分級評定。 （ 1） 小徑管專用對比試塊的型式、規(guī)格和尺寸Ⅰ型專用對比試塊分Ⅰ A Ⅰ B 兩種型式，其規(guī)格和尺寸應(yīng)符合圖 6和表 7的規(guī)定。 D0≤ 100mm 的小徑管的未焊 透深度可采用小徑管專用對比試塊Ⅰ A或Ⅰ B型進行測定 表 6 管外徑 D0≤ 100mm 的小徑管不加墊板單面焊的未焊透的分級 級別 未焊透最大深度 ,mm 未焊透總長度與焊縫總長 度 的比 與壁厚的比 最大值 Ⅰ 不允許 Ⅱ ≤10 ％ ≤ ≤10 ％ Ⅲ ≤15 ％ ≤ ≤15 ％ Ⅳ 大于 Ⅲ 級 注：對斷續(xù)未焊透 ,以未焊透本身的長度累計計算總長度。 管外徑 D0≤ 100mm的小徑管不加墊板單面焊的未焊透缺陷按表 6的規(guī)定進行質(zhì)量分級評定。 c、 不加墊板單面焊的未焊透缺陷的分級評定 管外徑 D0＞ 100mm時，不加墊板單面焊的未焊透缺陷按表 5的規(guī)定進行質(zhì)量分級評定。 但對小徑管缺陷評定區(qū)取 10mm 10mm。 （ 4） 、當各類缺陷評定的質(zhì)量級別不同時，以質(zhì)量最差的級別作為對接焊接接頭的質(zhì)量級別。 （ 2） 、Ⅱ級和Ⅲ級對接焊接接頭內(nèi)不允許裂紋、未熔合、雙面焊以及加墊板單面焊中的未焊透。 1 質(zhì)量分級依據(jù) 根據(jù)對接焊接接頭中存在的缺陷性質(zhì)、數(shù)量和密集程度 ，其質(zhì)量等級可劃分為四級。 14 、 底片的像質(zhì)計靈敏度：底片像質(zhì)計選用按 JB/— 2020 標準中規(guī)定。 1 底片質(zhì)量 （ 1） 、底片上，定位和識別標記影像應(yīng)顯示完整、位置正確。 1 膠片處理一般應(yīng)按膠片使用說明書的規(guī)定進行。 （ 3）、 中心曝光和不是 100%透照的焊接接頭要放置中心標記和搭接標記，并且一般情況下也要放置產(chǎn)品編號、對接焊接接頭編號、部位編號。 （ 1） 、小徑管雙壁雙影或垂直透照只放中心標記、對接焊接接頭編號和部位號。專用像質(zhì)計至 少應(yīng)能識別兩根金屬絲。 （ 9） 、 環(huán)形對接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時，至少在圓周上等間隔地放置 3 個像質(zhì)計。 （ 7） 當像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時，應(yīng)在像質(zhì)計上適當位置放置鉛字“ F”作為標記。 （ 5） 、 單壁透照像質(zhì)計一般放置源側(cè)，雙壁單影透照像質(zhì)計放置在膠片側(cè)。 （ 2 ） 、像質(zhì)計的使用和放置原則 （ 3） 、金屬絲應(yīng)橫跨焊縫，細絲置于外側(cè)。 曝光曲線：應(yīng)符合 JB/— 2020 標準中 。 min。 （ 2） 、采用源在內(nèi)單壁透照方式時，底片評定范圍的黑度和底片的像質(zhì)計靈敏度符合要求， f 值 可以減少，但減少值不應(yīng)超過規(guī)定值的 20%。 b2/3，也可以按 JB/— 2020 標準中圖3 規(guī)定來確定。 表 4γ 射線源透照厚度范圍 γ 射線源 透照厚度 W， mm A， AB 級 B 級 Se75 ≥ 10～ 40 ≥ 14～ 40 Ir192 ≥ 20～ 100 ≥ 20～ 90 Co60 ≥ 40～ 200 ≥ 60～ 150 注：采用源在內(nèi)中心透照方式，在保證像質(zhì)計靈敏度達到要求的前提下，允許
教學課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1