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昆明理工大學(xué)開題報告-三維微納米精密位移平臺及微小力測量系統(tǒng)設(shè)計(參考版)

2025-01-24 17:26本頁面
  

【正文】 HOCKEN R,TRUMPER D.The long range scanning stage:a novel platform for scanned probe microscopy[J].Prec.Eng.,2000,24:191一209.王生懷,陳育榮,王淑珍,謝鐵邦.三維精密位移系統(tǒng)的設(shè)計[J].光學(xué)精密工程,2010,18(1)∶1751821 馬立,榮偉彬,孫立寧.三維納米級微動工作臺的設(shè)計與分析[J].光學(xué)精密工程,2006,14(6):1017—1024.1 李慶祥,王東生,李玉和.現(xiàn)代精密儀器設(shè)計[M].第一版.北京:清華大學(xué)出版社.2004:172一176.1 王生懷,謝鐵邦,王選擇.大行程納米級二維位移工作臺[J].機(jī)械設(shè)計與制造,2008,8:133135.1—51單片機(jī)項目教程. 北京:北京理工大學(xué)出版社,179—2051海濤. 微小力測量系統(tǒng)的實驗研究. 傳感器與微系統(tǒng),2009,28(11):8—111張涵. :電子工業(yè)出版社,—1281高衛(wèi)東. :北京航空航天大學(xué)出版社,—45指導(dǎo)教師意見: 指導(dǎo)教師(簽字): 年 月 日學(xué)院畢業(yè)設(shè)計(論文)工作領(lǐng)導(dǎo)小組意見: 組長(簽字): 年 月 日第7頁,共5頁。Hocken R。 設(shè)計
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