昆明理工大學(xué)開題報(bào)告-三維微納米精密位移平臺(tái)及微小力測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)(參考版)
2025-01-24 17:26本頁面
【正文】 HOCKEN R，TRUMPER D．The long range scanning stage：a novel platform for scanned probe microscopy[J]．Prec．Eng．，2000，24：191一209．王生懷,陳育榮,王淑珍,謝鐵邦．三維精密位移系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[J]．光學(xué)精密工程，2010，18(1)∶1751821 馬立，榮偉彬，孫立寧．三維納米級(jí)微動(dòng)工作臺(tái)的設(shè)計(jì)與分析[J]．光學(xué)精密工程，2006，14(6)：1017—1024．1 李慶祥，王東生，李玉和．現(xiàn)代精密儀器設(shè)計(jì)[M]．第一版．北京：清華大學(xué)出版社．2004：172一176．1 王生懷，謝鐵邦，王選擇．大行程納米級(jí)二維位移工作臺(tái)[J]．機(jī)械設(shè)計(jì)與制造，2008，8：133135．1—51單片機(jī)項(xiàng)目教程. 北京：北京理工大學(xué)出版社，179—2051海濤. 微小力測(cè)量系統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)研究. 傳感器與微系統(tǒng)，2009，28（11）：8—111張涵. ：電子工業(yè)出版社，—1281高衛(wèi)東. ：北京航空航天大學(xué)出版社，—45指導(dǎo)教師意見： 指導(dǎo)教師（簽字）： 年 月 日學(xué)院畢業(yè)設(shè)計(jì)（論文）工作領(lǐng)導(dǎo)小組意見： 組長(zhǎng)（簽字）： 年 月 日第7頁，共5頁。Hocken R。 設(shè)計(jì)
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