【摘要】測(cè)試站線路架設(shè)原理及測(cè)試手法說(shuō)明主講:黃永華工程部2022-8-26測(cè)試站線路架設(shè)原理及測(cè)試手法說(shuō)明?注意:?本課程主要介紹無(wú)線路由測(cè)試線路架設(shè)及原理?均達(dá)目前生産所有無(wú)線機(jī)種均需通過(guò)無(wú)線測(cè)試,達(dá)到出貨標(biāo)準(zhǔn)後才可出貨給客人?這是
2024-12-11 10:39
【摘要】天線測(cè)試操作培訓(xùn)京信通信系統(tǒng)(中國(guó))有限公司2022年12月廣州科學(xué)城研發(fā)基地廣州開(kāi)發(fā)區(qū)制造基地主要內(nèi)容一、測(cè)試規(guī)范介紹二、測(cè)試項(xiàng)目三、輻射參數(shù)測(cè)試四、電路參數(shù)測(cè)試五、環(huán)境與可靠性試驗(yàn)一、測(cè)試規(guī)范介紹?YD/T1059-2022移動(dòng)通信系統(tǒng)基站天線技術(shù)條件(行業(yè)標(biāo)準(zhǔn))
2025-05-06 22:05
【摘要】2022/6/2杭州東信靈通電子實(shí)業(yè)公司1SAGEMOT測(cè)試手機(jī)操作培訓(xùn)金健2022/6/2杭州東信靈通電子實(shí)業(yè)公司2目錄?OT測(cè)試手機(jī)簡(jiǎn)單介紹?OT測(cè)試手機(jī)TRACE菜單?OT測(cè)試手機(jī)連接計(jì)算機(jī)時(shí)的設(shè)置?OT96測(cè)試手機(jī)的WAP配置?OT96測(cè)試手機(jī)在WINDOWS2022下的
2025-05-08 18:22
【摘要】McAfee數(shù)據(jù)保護(hù)解決方案測(cè)試手冊(cè)MCAFEE數(shù)據(jù)保護(hù)解決方案測(cè)試手冊(cè).....................................................................................................11測(cè)試環(huán)境說(shuō)明.........................................
2024-11-07 20:38
【摘要】目錄前言安全使用要?jiǎng)t縮略語(yǔ)第一章測(cè)試總則一概述二N?系統(tǒng)分類系統(tǒng)組成系統(tǒng)結(jié)構(gòu)三WDM系統(tǒng)測(cè)試原理WDM系統(tǒng)物理量WDM系統(tǒng)測(cè)試新要求DWDM系統(tǒng)測(cè)試儀器4N?概
2024-11-09 08:12
【摘要】InfraredandRaman?參考文獻(xiàn):?1)《近代傅立葉變換紅外光譜技術(shù)及其應(yīng)用》吳瑾光,科學(xué)技術(shù)文獻(xiàn)出版社?2)《高分子結(jié)構(gòu)研究中的光譜方法》薛奇,高等教育出版社?3)《有機(jī)分子結(jié)構(gòu)波譜解析》朱淮武,化學(xué)工業(yè)出版社紅外吸收光譜是一種分子吸收光譜。
2025-05-15 12:06
【摘要】DINGLICOMMUNICATIONSCORP.,LTD.1鼎利通信鼎力支持Pioneer常用測(cè)試手冊(cè)版權(quán)所有,侵權(quán)必究DINGLICOMMUNICATIONSCORP.,LTD.2鼎利通信鼎力支持
2024-10-28 12:39
【摘要】ADSL測(cè)試設(shè)備架設(shè)及產(chǎn)線測(cè)試異常處理流程說(shuō)明:初測(cè)有衰減、終測(cè)無(wú)衰減其產(chǎn)線參見(jiàn)以下可做修改一、設(shè)備及程式:(1)PC(需含PCIslotx4槽)(2)網(wǎng)路卡(Intel21143chipset)x4pcs(3)Adapter(DC12V/1A)xPC數(shù)量x2pcs(4)網(wǎng)路線100米(轉(zhuǎn)線)x4pcs(5)DOS作
2025-03-27 04:42
【摘要】ICT測(cè)試原理及程式簡(jiǎn)介EPDVIIIICTRandy.xiang一.ICT的功能?ICT也叫在線測(cè)試儀,是一臺(tái)靜態(tài)元件測(cè)試儀,它能準(zhǔn)確,高速地測(cè)量PCB上已裝元件的不良問(wèn)題,包括元件的漏件,錯(cuò)件,裝反,空焊,來(lái)料不良,PCB上金道之間的開(kāi)短路等??蓽y(cè)元件包括:電阻,電容,二極管,三極管,電感,變壓器,IC等絕大多
2025-05-02 04:57
【摘要】電壓作用下電介質(zhì)中產(chǎn)生的一切損耗稱為介質(zhì)損耗或介質(zhì)損失。如果介質(zhì)損耗很大,會(huì)使電介質(zhì)溫度升高,促使材料發(fā)生老化,如果介質(zhì)溫度不斷上升,甚至?xí)央娊橘|(zhì)融化、燒焦,喪失絕緣能力,導(dǎo)致熱擊穿,因此,電介質(zhì)損耗的大小是衡量絕緣介質(zhì)電性能的一項(xiàng)重要指標(biāo)。然而不同設(shè)備由于運(yùn)行電壓、結(jié)構(gòu)尺寸等不同,不能通過(guò)介質(zhì)損耗的大小來(lái)衡量對(duì)比設(shè)備好壞。因此引入了
2025-05-05 05:38
【摘要】INEEL/EXT-04-01986AdvancedTechnologyDevelopmentProgramForLithium-IonBatteriesBatteryTechnologyLifeVerificationTestManualFebruary2020
2024-10-31 02:54
【摘要】。CCTC二廠印制板的物理性能測(cè)試。。工程師負(fù)責(zé)本工作指示的修訂,并審核測(cè)試結(jié)果。主管檢測(cè)方法的審批。內(nèi)容-手冊(cè)目錄及測(cè)試方法(附于下頁(yè))文件優(yōu)先級(jí)當(dāng)發(fā)生予盾時(shí),則按如下優(yōu)先順序:A.客戶技術(shù)規(guī)范或PCB驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)或(MI)B.企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)C.本測(cè)試
2024-10-28 12:40
【摘要】專題實(shí)驗(yàn)超聲波測(cè)試原理及應(yīng)用實(shí)驗(yàn)超聲波的產(chǎn)生與傳播實(shí)驗(yàn)固體彈性常數(shù)的測(cè)量實(shí)驗(yàn)超聲波的探測(cè)附錄AJDUT-2型超聲波實(shí)驗(yàn)儀原理框圖附錄BJDUT-2型超聲波實(shí)驗(yàn)儀主要性能指標(biāo)附錄
2025-05-17 05:41
【摘要】2021/11/101GSM測(cè)試手機(jī)功能及應(yīng)用NOKIA11162021/11/102目的:在用戶投訴處理中運(yùn)用測(cè)試手機(jī)能夠準(zhǔn)確、快捷的對(duì)故障進(jìn)行定位,并列舉中相應(yīng)的解決辦法。2021/11/103代碼解釋:?CH:頻點(diǎn)?LAC:大區(qū)號(hào)?CID:小區(qū)號(hào)?RX
2024-10-22 03:47
【摘要】ActivatingtheFieldTestDisplayTheFieldTestDisplayislocatedattheendofthemainmenuloop.Itisactivatedasfollows:-presstheMenubutton-scrollin
2024-08-28 14:31