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數(shù)控機床6數(shù)控機床的位置檢測系統(tǒng)(參考版)

2025-05-18 21:44本頁面
  

【正文】 ?。au?線數(shù)再提高,組分程度再增加,則測量步幅可進一步減少,現(xiàn)徑向刻線可達 36000根,組分可達二百分之一。au ?90139。例如,設刻線盤的刻線數(shù)是 900 ,配合電子器等分電路,則其測量步幅 360/( 4*900) = ,如果刻 ?90 ?90139。 將上述碼盤稱為增量碼盤是因為它的輸出不能反映轉(zhuǎn)軸的絕對位置,只能反映兩次讀數(shù)之間轉(zhuǎn)軸角位移的增量。此刻線區(qū)可以是一根粗線,也可以是一組細線。將 4個輸出信號進行與光柵輸出信號同樣的方法處理,即把輸出信號中的交流分量相差 的兩個信號相減,就可得到相位相差 的兩個正弦信號 、 ,再將此兩個正弦信號經(jīng)過放大、整形,就可得到相位相差 的兩個方波系列 與 (圖 615)。由于 4個刻線小區(qū)順序錯開 1/4刻線周期,所以 4個光電元件的輸出信號也順序滯后 1/4周期。在掃描刻線板背后與掃描刻線板上 4個刻線區(qū)相對應的位置安放 4個光電元件,則當刻線盤轉(zhuǎn)動時,投射到光電元件的光線將產(chǎn)生明暗交替的變化,相應地光電元件的輸出信號也將產(chǎn)生強、弱交替的變化。從此位置,刻線盤再轉(zhuǎn)過半個刻線周期,則刻線盤上的刻線正好與掃描刻線板上的刻線對齊。每個小刻線之間錯開 1/2刻線寬度,即 1/4刻線周期。經(jīng)過蒸汽處理后,使刻線不透光,向刻線間的間隙透光。玻璃制成的掃描刻板 9固定在定子 2上,并和刻線盤 1相隔一很小的間隙。但在現(xiàn)代數(shù)控中,增量碼盤用得最多,分析如下: 圖 614是一種增量型光電編碼器的結(jié)構(gòu)圖。 ? ??60第六節(jié) 編碼器測角位移 編碼盤又稱為角度編碼器。 此時輸出電壓 為 ??60? 1Ru??c os1s i n11eseR kuku ??() 根據(jù)此公式 , 選定變比 Ke 及允許的非線性 , 就可推斷出滿足線性關系的轉(zhuǎn)角范圍 。 為了減少這種變化 , 旋轉(zhuǎn)變壓器在工作時 , 應將輔助繞組 D3D4短接 , 或在 Z1Z Z3Z4 兩輸出繞組上接對稱負載 , 為提高旋轉(zhuǎn)變壓器的工作精確度 , 其負載阻抗應盡量的大 。 當給定子的勵磁組加上等幅的交流電壓 us1時,在轉(zhuǎn)子的兩個繞組上將分別產(chǎn)生輸出電壓 uR1和 uR2, 其大小與轉(zhuǎn)子偏離零位的轉(zhuǎn)角 有如下關系: ??c o s11 seR uku ??s i n12 seR uku ??() () 式中 , —— 旋轉(zhuǎn)變壓器的變壓比; —— 轉(zhuǎn)子 、 定子繞組的匝數(shù); —— 加于勵磁繞組的交流電壓( V) 21 /???ek21,??1su 當輸出繞組接有負載時 , 就有電流通過輸出繞組并產(chǎn)生電樞反應磁通 , 使氣隙中磁場發(fā)生畸變 。在定子上有勵磁繞組與輔助繞組,他們的軸線互成。 前一種稱為正余弦旋轉(zhuǎn)變壓器 , 適用于大角位移的絕對測量;后一種稱為線形旋轉(zhuǎn)變壓器 , 適用于小角位移的相對測量 。 第五節(jié) 旋轉(zhuǎn)變壓器測量角位移 旋轉(zhuǎn)變壓器是用來測量角位移的測量裝置 。光柵測量是精密測量中應用較多的一種檢測方法。 隨著細分的路數(shù)增加,光柵位移的分辨力就提高,但受調(diào)試難度及電路元件參數(shù)的限制細分路數(shù)不能無限增大,一般分辨力在 。 以電壓輸出而言: () 式中 u - 光電元件的電壓信號 uav- 輸出信號中的平均直流分量 um— 輸出信號的幅值 x—— 兩光柵瞬時相對唯一 )2c os ( ?? xuuu mav ?? 將此電壓信號放大 , 整形變?yōu)榉讲?, 經(jīng)微分電路轉(zhuǎn)換成脈沖信號 , 再經(jīng)辯向電路的可逆計數(shù)器 , 則可以顯示出位移量 , 位移量為脈沖與柵距的乘積 。能 在很大程度上消除刻線的不均勻誤差的影響。 莫爾條紋的間距與兩光柵線紋夾角 θ之間的關系為 ??????2s i n2HB式中, BH— 莫爾條紋間距; — 光柵柵距; θ— 兩光柵刻線間的夾角( rad)。 莫爾條紋有如下特點: 當光柵在橫向沿刻線的垂直方向移動時,莫爾條紋在刻線方向移動。 光柵用于測量的基本原理是利用莫爾條紋。 光柵用于測量的基本原理是利用莫爾條紋。指示光柵比標尺光柵短得多,但兩者刻有同樣密度的線紋。 光柵分標尺光柵和指示光柵。按結(jié)構(gòu)形式則有長光柵和圓光柵之分。 第四節(jié) 光柵測位移
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