研發(fā)流程中的產(chǎn)品測(cè)試-wenkub.com
2025-01-16 12:36 本頁(yè)面
【正文】 2023年 2月 上午 8時(shí) 54分 :54February 5, 2023 1業(yè)余生活要有意義，不要越軌。 08:54:2208:54:2208:54Sunday, February 5, 2023 1知人者智，自知者明。 上午 8時(shí) 54分 22秒 上午 8時(shí) 54分 08:54: 楊柳散和風(fēng)，青山澹吾慮。 2023年 2月 5日星期日 上午 8時(shí) 54分 22秒 08:54: 1楚塞三湘接，荊門九派通。 08:54:2208:54:2208:542/5/2023 8:54:22 AM 1成功就是日復(fù)一日那一點(diǎn)點(diǎn)小小努力的積累。 2023年 2月 上午 8時(shí) 54分 :54February 5, 2023 1行動(dòng)出成果，工作出財(cái)富。 08:54:2208:54:2208:54Sunday, February 5, 2023 1乍見翻疑夢(mèng)，相悲各問(wèn)年。 靜夜四無(wú)鄰，荒居舊業(yè)貧。 測(cè)試管理小組 ? 工作職責(zé)： 負(fù)責(zé)識(shí)別公司研發(fā)流程中產(chǎn)品測(cè)試相關(guān)問(wèn)題，確定問(wèn)題的優(yōu)先級(jí)和改進(jìn)計(jì)劃。一個(gè)好的可生產(chǎn)性產(chǎn)品應(yīng)該符合兩個(gè)條件： ? 元件 /部件 /加工精度的容差范圍最大； ? 產(chǎn)品性能指標(biāo)偏差最小； ? 一致性測(cè)試可以通過(guò)試產(chǎn)的方式進(jìn)行。 ? 功能測(cè)試的目的是模擬用戶操作驗(yàn)證產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)的功能，保證用戶應(yīng)用需求的實(shí)現(xiàn)。 硬件系統(tǒng)測(cè)試 ? 系統(tǒng)測(cè)試采用黑盒測(cè)試方法，測(cè)試項(xiàng)目涵蓋指標(biāo)測(cè)試、功能測(cè)試、可靠性測(cè)試、一致性測(cè)試。這樣的問(wèn)題在單元測(cè)試中是無(wú)法檢驗(yàn)的。 ? 多數(shù)情況下， EMC性能會(huì)在集成 /系統(tǒng)測(cè)試階段進(jìn)行，但是前期的信號(hào)完整性測(cè)試可以基本反映系統(tǒng)的 EMC性能。測(cè)試的過(guò)程： ? 一是驗(yàn)證單板 /功能模塊的輸入信號(hào)在需求定義的變化范圍內(nèi)，輸出信號(hào)是否達(dá)到設(shè)計(jì)要求。 ? 廣義方面信號(hào)完整性可理解為：在需要的時(shí)間內(nèi)信號(hào)達(dá)到所需要的形狀。 硬件單元測(cè)試－白盒測(cè)試 ? 根據(jù)詳細(xì)設(shè)計(jì)選取關(guān)鍵 /重要信號(hào)設(shè)計(jì)測(cè)試用例，注意用例必須包括對(duì)測(cè)試結(jié)果的預(yù)期。 ? 測(cè)試階段：?jiǎn)卧獪y(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試。后續(xù)僅對(duì)硬件測(cè)試談?wù)勔恍├斫夂腕w會(huì)。 ? 錯(cuò)誤推測(cè)法沒(méi)有確定的步驟，很大程度上是憑經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行的。 測(cè)試用例設(shè)計(jì)－黑盒法 ? 因果圖法 ：因果圖法則著重檢查輸入條件的各種組合情況，消除等價(jià)分類法和邊緣值分析法沒(méi)有檢查各種輸入條件的組合的缺點(diǎn)。 ? 等價(jià)分類法分為二步： 1. 根據(jù)功能說(shuō)明中的輸入條件劃分等價(jià)類； 2. 按等價(jià)類來(lái)選擇測(cè)試用例。 ? 對(duì)測(cè)試缺陷進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，白盒法發(fā)現(xiàn)的缺陷要達(dá)到總?cè)毕輸?shù)的 50％以上。 ? 判定 /條件覆蓋 ：選擇足夠的測(cè)試用例，使得判定中每個(gè)條件取到各種可能的值，并且每個(gè)判定取到各種可能的結(jié)果。 ? 受到進(jìn)度和資源的約束，不可能達(dá)到完全覆蓋率，折衷辦法就是選取關(guān)鍵重要的部分進(jìn)行測(cè)試用例的設(shè)計(jì)。 ? 正面測(cè)試： 用于驗(yàn)證被測(cè)單元能夠執(zhí)行應(yīng)該完成的工作。 ? 基本事件： 描述該測(cè)試用例的基本操作流程，指每個(gè)流程都“正?！边\(yùn)作時(shí)所發(fā)生的事情。 ? 重要級(jí)別： 定義測(cè)試用例的優(yōu)先級(jí)別。 ? 測(cè)試用例指對(duì)特定的功能單元 /模塊、系統(tǒng) /產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試任務(wù)的描述，體現(xiàn)測(cè)試方案、方法、技術(shù)和策略。 ? 測(cè)試完成和測(cè)試成功所采用的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。 ? 進(jìn)度約束下的人力資源角色和職責(zé)。 ? 實(shí)施測(cè)試工作的過(guò)程為： ? 執(zhí)行測(cè)試用例。 軟件測(cè)試與硬件測(cè)試 ? 當(dāng)我們只考慮驗(yàn)證設(shè)計(jì)正確性的話： ? 軟件測(cè)試： 發(fā)現(xiàn)軟件代碼語(yǔ)法錯(cuò)誤和邏輯錯(cuò)誤，衡量軟件設(shè)計(jì)正確性的標(biāo)準(zhǔn)是：軟件在某種輸入條件下是否按正確時(shí)序完成對(duì)硬件的操作（如寫入 /讀出寄存器數(shù)據(jù)）。 ? 壓力測(cè)試： 測(cè)試在大信息量處理情況下的系統(tǒng) /產(chǎn)品正常工作的能力。 測(cè)試覆蓋范圍 ? 正確性測(cè)試： 測(cè)試用例中的測(cè)試點(diǎn)應(yīng)首先保證要至少覆蓋需求規(guī)格說(shuō)明書中的各項(xiàng)功能。 測(cè)試的分類 ? 集成測(cè)試： 又稱聯(lián)合測(cè)試也稱組裝測(cè)試，它是對(duì)由各模塊組裝而成的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，主要檢查模塊間的接口和通信。 ? 單元測(cè)試： 也稱模塊測(cè)試。 ? 若我們對(duì)產(chǎn)品內(nèi)部有所了解，就可以讓石頭每次的飛行路線更直接并且更真實(shí)。 ? 灰盒法在用例設(shè)計(jì)時(shí)基于對(duì)模塊內(nèi)部處理的了解，測(cè)試設(shè)計(jì)可以有針對(duì)性的進(jìn)行，測(cè)試過(guò)程評(píng)估也是白盒法。 ?不能查出詳細(xì)設(shè)計(jì)本身所存在的問(wèn)題，即錯(cuò)誤的產(chǎn)品設(shè)計(jì)。 ? 缺點(diǎn)： 黑盒測(cè)試用例的設(shè)計(jì)不可能做到完全覆蓋，因此難以完全觸發(fā)產(chǎn)品內(nèi)部所有執(zhí)行流程 /路徑，也就難以完全發(fā)現(xiàn)深藏在產(chǎn)品內(nèi)部單元 /模塊及接口的設(shè)計(jì)缺限，需要有白盒測(cè)試進(jìn)行補(bǔ)充。 ? 白盒測(cè)試是從下到上、從微觀到宏觀的逐步驗(yàn)證過(guò)程，一般涉及單板 /功能模塊內(nèi)部性能功能及單元間接口的測(cè)試。 ? 白盒測(cè)試： 對(duì)模塊內(nèi)部是不透明的。 ? 動(dòng)態(tài)測(cè)試： 使被測(cè)試產(chǎn)品或模塊有控制地運(yùn)行，并從多種角度觀察運(yùn)行時(shí)的行為，以發(fā)現(xiàn)其中的錯(cuò)誤。 ? 開發(fā)人員、測(cè)試人員較少測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，不具備良好的測(cè)試技能和測(cè)試工具，使得測(cè)試進(jìn)度更加不可保證。 ? “盡早和不斷的測(cè)試 ”應(yīng)該成為一個(gè)合格的開發(fā)者的座右銘。因此當(dāng) A模塊找出錯(cuò)誤比 B模塊多得多時(shí)，很可能 A模塊遺留的錯(cuò)誤仍比 B模塊
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