02本科逆向工程-測量設(shè)備1r-wenkub.com
2025-01-01 06:57 本頁面
【正文】 2023/2/8 10:41:4610:41:4608 February 2023167。 08 二月 202310:41:46 上午 10:41:46二月 21167。 1知人者智，自知者明。 1越是沒有本領(lǐng)的就越加自命不凡。 楊柳散和風(fēng)，青山澹吾慮。 1少年十五二十時，步行奪得胡馬騎。 08 二月 202310:41:46 上午 10:41:46二月 21167。 10:41:4610:41:4610:41Monday, February 08, 2023167。 10:41:4610:41:4610:412/8/2023 10:41:46 AM167。 10:41:46 上午 10:41 上午 10:41:46二月 21167。 二月 2110:41 上午 二月 2110:41February 08, 2023167。 1他鄉(xiāng)生白發(fā)，舊國見青山。 1故人江海別，幾度隔山川。 雨中黃葉樹，燈下白頭人。 ICT可對各種復(fù)雜結(jié)構(gòu)的大、中、小型成形件實施反求建模及質(zhì)量控制，也可用于技術(shù)破譯和產(chǎn)品故障、可靠性無損診斷、裝配結(jié)構(gòu)分析等。市場上比較成熟的自動斷層掃描儀有美國 CGI公司的 RE1000。重復(fù)到銑床上切削一個片層、再分析截面圖像，直至得到模型各截面的坐標(biāo)數(shù)據(jù)。能夠同時測量物體外表面和內(nèi)部空腔幾何形狀的測量設(shè)備我們通稱為內(nèi)窺測量系統(tǒng)。使用單面測量策略不僅減少了測量和拼合次數(shù)，而且測得的數(shù)據(jù)比雙面測量的數(shù)據(jù)更容易實現(xiàn)分塊。（ Tritop照相拍攝系統(tǒng) ）n 整體到部分原則，按照從整體到部分的原則對同一個零件的不同部位合理采用適當(dāng)?shù)臉?biāo)定精度進(jìn)行測量。測量注意事項 n 實物表面噴涂由于部分深色零件表面對光的吸收能力較強(qiáng)，因此不利于采用光學(xué)三角定理進(jìn)行測量，為此要對這些零件進(jìn)行表面白色噴涂處理。n 單次測量精度可達(dá) ，多視角測量的拼合測量精度為 。該掃描系統(tǒng)可將特定光柵條紋于被測物體上，通過光柵間距的變化，借助兩個高分辨率 CCD數(shù)碼相機(jī)對光柵干涉條紋進(jìn)行拍照，經(jīng)過數(shù)碼影像分析和基于光學(xué)原理計算，求得實物表面三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)，可在極短時間內(nèi)獲得復(fù)雜工作表面的完整點云，實現(xiàn)三維掃描高速化。 結(jié)構(gòu)光測量法 n 結(jié)構(gòu)光投影法是將一定圖案的光投影到物體表面上，從而增強(qiáng)物體表面各點之間的可區(qū)分性，降低圖像點對匹配的難度，提高匹配算法的精度和可靠性。還用于快速雕塑系統(tǒng)。線光源測量法 激光三角面形測量法 n 激光三角法面形測量的基本原理是利用激光在被測樣件表面投影一光條，由于被測表面起伏極曲率變化，投影的光條隨此輪廓位置起伏而扭曲變形，由 CCD攝像機(jī)攝取激光束影像，這樣就可由激光束的發(fā)射角度和激光束在 CCD內(nèi)成像位置，通過三角幾何關(guān)系獲得被測點距離或坐標(biāo)等數(shù)據(jù)。接受透鏡接受來自入射點出的散射光，并將其成像在光敏位置探測器 5敏感面上，若光點在成像面上的位移為 ，按下式可求出被測面的位移 。n 數(shù)據(jù)采集速度很快，對大型表面可在 CMM或數(shù)控機(jī)床上迅速完成數(shù)據(jù)采集，無需測頭補(bǔ)償。結(jié)構(gòu)光法與圖象分析法的主要不同是該方法需要投射具有一定模式的人工光源，這種方法中最典型的是莫爾干涉條紋法。光學(xué)測量基理4. 干涉測量法的原理是由一個光源射出的一束光 (指定的入射光) 經(jīng)分光后產(chǎn)生的兩束光分別射向參考平面和目標(biāo)平面，反射后的兩束光相互干涉，呈現(xiàn)出相應(yīng)的干涉圖樣，通過分析指定的入射光的波長與干涉圖樣間的關(guān)系而測得目標(biāo)平面與參考平面間的距離 。光學(xué)測量設(shè)備 n 非接觸式測量主要運用光學(xué)原理進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，主要方法有 激光三角形法、激光測距法、結(jié)構(gòu)光法、圖形分析法、干涉測量法 等，光學(xué)測量設(shè)備具有測量速度快、自動化程度高等優(yōu)點，由于沒有接觸壓力和摩擦力，消除了樣件受力變形導(dǎo)致的測量誤差，非常適合對各種復(fù)雜模型快速地進(jìn)行大規(guī)模數(shù)據(jù)采集。這種測量機(jī)幾乎不受方向限制。n 三坐標(biāo)測量機(jī)的主要特點 不受物體表面顏色及光照的限制；對物體邊界也能產(chǎn)生較準(zhǔn)確的測量結(jié)果；測量精度高 （一般能達(dá)到 u級） ；由于測頭的限制，可能丟失某些測頭不可到達(dá)的細(xì)節(jié)數(shù)據(jù)；不能測量軟材料物體；測量速度受到機(jī)構(gòu)運動的限制；測量過程需要較多人工干預(yù)，對大型自由曲面產(chǎn)品的測量效率較低。在逐點式掃描測量時，通常是將測頭在橫向以等速或等間距逐點移動，再以等時間或等間距位置量取樣件在 Z軸的坐標(biāo)。三坐標(biāo)測量機(jī)可分為主機(jī)、測頭、電氣系統(tǒng)三大部分。在三坐標(biāo)測量機(jī)上裝置分度頭、回轉(zhuǎn)臺（或數(shù)控轉(zhuǎn)臺）后，系統(tǒng)具備了極坐標(biāo)（柱坐標(biāo)）系測量功能，
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1