光學(xué)類實(shí)驗(yàn)報(bào)告-wenkub.com
2025-07-17 12:40 本頁面
【正文】 軟件安裝后，開始測量。計(jì)算反射率由于薄膜在吸收很小的區(qū)域，n、k的變化不是很大，所以方程的極大和極小值出現(xiàn)在四、 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容 中性密度濾光片透過率測試將中性密度測量片裝卡在樣品位置，測量其在各光譜范圍內(nèi)的透過率曲線。探測口與積分球側(cè)面的接口相連，該接口內(nèi)部有一個(gè)擋板，探測器只能測量到光擋板上的光，這樣就不受從采樣口進(jìn)入的光的角度影響，從而避免了第一次反射光直接進(jìn)入金屬探測器。另一個(gè)重要參數(shù)是進(jìn)入到光譜儀的光束寬度，它基本取決于光譜儀上安裝的固定寬度的入射狹縫或光纖芯徑。由于光纖光譜儀使用了光纖傳導(dǎo)光信號，屏蔽了工作環(huán)境的雜散光，提高了光學(xué)
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