超聲檢測(cè)設(shè)備與器材-wenkub.com
2025-04-29 03:34 本頁(yè)面
【正文】 如圖 ? K值，用 IA試塊的 φ50反射體和 ， 用 Ⅲ A的φ1 6反射體均可測(cè)量 . ? 其余性能指標(biāo)，也很重要，大家能過自學(xué)，要學(xué)會(huì)測(cè)試，特別是聲軸偏移、雙峰、分辨力、靈敏度余量等指標(biāo)。 ? 4） 計(jì)算水平線性誤差 δ： δ=（ |amax|/ ? 式中： |amax|a a a4中的最大值； b示波屏水平滿刻度值。 ? 水平線性誤差 ? 水平線性誤差可用表面光滑、厚度適當(dāng)、并具有兩個(gè)相互平行的大平底試塊如 IA試塊，用縱波直探頭獲得多次反射回波，并將規(guī)定次數(shù)的兩個(gè)回波調(diào)整到與兩端的規(guī)定刻度線對(duì)齊，之后觀察其它反射回波位置與水平刻度線相重合的程度。 ? 4） 固定增益和其它旋鈕，調(diào)衰減器，每次衰減 2dB， 并記下相應(yīng)的波高 Hi， 直到底波消失。 JB/T47302022標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，垂直線性誤差不大于 5%。 ? 分辨力：分辨力是指能夠?qū)σ欢ù笮〉膬蓚€(gè)相鄰反射體提供可分離指示時(shí)兩者的最小距離。 ? 超聲波檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度常用靈敏度余量來表示。 ? 雙峰是指聲束軸線沿橫向移動(dòng)時(shí)，同一反射體產(chǎn)生兩個(gè)波峰的現(xiàn)象。探頭中折 射角的標(biāo)稱值是是指鋼中橫波 的折射角，由斜楔的角度決定。 ? 二、探頭的性能 ? 探頭的性能指標(biāo)很多，包括頻率響應(yīng)、相對(duì)靈敏度、時(shí)間域響應(yīng)、距離波幅特性、聲束擴(kuò)散性、入射點(diǎn)、折射角、 聲軸偏斜角 和 雙峰 。 ? 動(dòng)態(tài)范圍：動(dòng)態(tài)范圍是在增益不變的情況下，超聲檢測(cè)儀可運(yùn)用的一段信號(hào)幅度范圍，在此范圍內(nèi)信號(hào)不過載或畸變，也不至于過小而難以觀察。 ? 第五節(jié) 儀器和探頭的性能及其測(cè)試 ? 儀器和探頭的性能包括儀器的性能、探頭的性能、儀器與探頭的組合性能。 ? CSKⅢ A標(biāo)準(zhǔn)試塊 ? CSKⅢ A標(biāo)準(zhǔn)試塊的結(jié)構(gòu)和尺寸如圖。 8） 測(cè)定斜探頭聲束軸線的偏離。 5）測(cè)量斜探頭的 K值或折射角。 2） 校準(zhǔn)儀器的水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍。主要用于對(duì)焊接接頭的檢測(cè)，適用于各種 K值探頭。 常用的規(guī)則反射體主要有：長(zhǎng)橫孔、短橫孔、橫通孔、平底孔、 V型槽、矩形槽、線切割槽等 ? 橫通孔和長(zhǎng)橫孔具有軸對(duì)稱性，反射波幅比較穩(wěn)定，有線性缺陷的特征，適用于各種 K值探頭。如無縫鋼管橫波檢測(cè)對(duì)比試塊，水晶釜縱向缺陷超聲波檢測(cè)對(duì)比試塊等。 。 如 Ⅱ W試塊、 CBⅠ 、 CBⅡ 、 CSⅠ 、 CSⅡ 、 CSⅢ 、CSKⅠ A、 CSKⅡ A、 CSKⅢ A、 CSKⅣ A等。 對(duì)工件無腐蝕，對(duì)人體無害，不污染環(huán)境。此外，耦合劑還有潤(rùn)滑作用，減少探頭磨損 常用的耦合劑有水、甘油、水玻璃、機(jī)油、變壓機(jī)油、漿糊等。聲強(qiáng)透射率高，超聲耦合好。雙晶探頭鋼中聲束匯集區(qū)深度用阿拉伯?dāng)?shù)字表示，單位為mm， 水浸聚焦探頭水中焦距用阿拉伯?dāng)?shù)字表示，單位為mm， DJ表示點(diǎn)聚焦， XJ表示線聚焦。 壓電晶片材料 代號(hào) 壓電晶片材料 代號(hào) 鋯鈦酸鉛陶瓷 P 鈦酸鋇陶瓷 B 鈦酸鉛陶瓷 T 鈮酸鋰單晶 L 碘酸鋰單晶 I 石英單晶 Q 其它壓電材料 N ? 探頭種類：用漢語(yǔ)拼音字母表示，直探頭可以不標(biāo)。 聚焦探頭可分為接觸式聚焦探頭和水浸聚焦探頭。 ? 聚焦探頭：聚焦探頭是利用超聲波在介面上產(chǎn)生折射的原理，使探頭發(fā)現(xiàn)的超聲波束在工件的某處聚集的一種探頭。發(fā)射晶片用發(fā)射靈敏度高的壓電材料制成，接收晶片用接收靈敏度高的壓電晶片制成，這樣，探頭發(fā)射和接收靈敏度都高。用得最多的是橫波斜探頭（ aⅠ ＜ aL＜ aⅡ ）。其主要參數(shù)是頻率和晶片直徑。其作用一是保證晶片發(fā)射的超聲波按設(shè)定的傾斜角傾斜入射到斜楔與工件的界面上，從而產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換，以便在工件內(nèi)形成特定波型和角度的聲束。 如圖 。 ? 綜上所述，為了使超聲波探頭具有所要求的性能， 超聲波探頭對(duì)晶片的一般要求是： ? ⑴ 機(jī)電耦合系數(shù) K較大，以獲得較高的轉(zhuǎn)換效率； ? ⑵ 機(jī)械品質(zhì)因子 θm較小，以獲得較高的分辨力和較小盲區(qū)； ? ⑶ 壓電應(yīng)變常數(shù) d33和壓電電壓常數(shù) g33較大，以獲得較高的發(fā)射靈敏度和接收靈敏度。由上式可知，制作高頻探頭時(shí)，晶片厚度較小，制作低頻探頭時(shí)，晶片厚度較大。 ? 機(jī)械品質(zhì)因子 θm ? 機(jī)械品質(zhì)因子 θm表示壓電晶片在諧振時(shí)儲(chǔ)存的機(jī)械能 E儲(chǔ) 與一個(gè)周期內(nèi)損耗的能量 E損 之比。 ? 超聲波檢測(cè)用的壓電晶體（ t和 A一定），頻率一般要求比較高，此時(shí) ε應(yīng)小些，因?yàn)?ε小， C就小，電容器充放電時(shí)間短，頻率高。 ? 壓電電壓常數(shù) g33：表示作用在壓電晶體上單位應(yīng)力所產(chǎn)生的電壓梯度大小。 ? 二、壓電材料的主要性能參數(shù) ? 具有壓電效應(yīng)的材料稱為壓電材料，壓電材料分為單晶材料的多晶材料，常用的單晶材料有石英（ SiO2）硫酸鋰（ LiSO4）、鈮酸鋰（ LiNbO3）；常用多晶材料有鈦酸鋇 (BaTiO3)、鋯鈦酸鉛（ PbZrTiO3）鈦酸鉛（ PbTiO3）。正逆壓電效應(yīng)統(tǒng)稱為壓電效應(yīng) 。 ? 深度范圍旋鈕和深度細(xì)調(diào)旋鈕在數(shù)字機(jī)上對(duì)應(yīng)的是“范圍”鍵 ? 第二節(jié) 探頭 ? 探頭是超聲檢測(cè)系統(tǒng)的重要器件，其性能的好壞直接影響超聲檢測(cè)質(zhì)量，主要影響超聲檢測(cè)的靈敏度、分辨率、信噪比和定位定量精度。調(diào)節(jié)此旋鈕，可大幅度地改變掃描速度，從而使熒光屏上回波間距在幅度地壓縮或擴(kuò)展。 ? 衰減器旋鈕和增益旋鈕在數(shù)字機(jī)中對(duì)應(yīng)的都是增益按鍵 ? 模擬超聲檢測(cè)儀 ? 數(shù)字超聲儀
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