【正文】 消光角的測(cè)定方法： ?將切片中解理縫或雙晶縫平行目鏡豎十字絲，記下物臺(tái)讀數(shù)。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 ?雙折射率測(cè)定 當(dāng)切片的干涉色級(jí)序測(cè)定以后，就可從 色譜表上 查出光通過(guò)切片后所產(chǎn)生的光程差 R，一般薄片厚度為 ， 雙折射率值就可在色譜表上直接查出；或者根據(jù)光程差公式求出雙折射率 。 ? 因 試板上光率體橢圓半徑的名稱和方向已知 ，據(jù)此可確定切片上光率體橢圓半徑的名稱和方向。 2）云母試板在正交鏡間產(chǎn)生 一級(jí)灰干涉色 ，其光程差為 147nm，可使被測(cè)切片的干涉色升高或降低一個(gè)色序， 適用于干涉色較高的礦片 。 偏光顯微鏡中所附設(shè)的 補(bǔ)色器 ，就是巳知光率體橢圓半徑名稱和光程差的切片。 (2)當(dāng)兩切片重疊時(shí)，異名軸平行，光透過(guò)兩切片后，產(chǎn)生的總光程差 R＝ R1一 R2， R所反映的干涉色或比原來(lái)兩切片都低或比其中某一切片的干涉色低 。 總光程差 R是增大還是減小，取決于兩切片重疊的方式 ，有 2種情況。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 補(bǔ)色法則和補(bǔ)色器 (消色法則 )概念 在正交偏光鏡間放置 2個(gè)非均質(zhì)體任意方向的切片，在 45度位置時(shí) ， 光通過(guò)兩切片后 總的光程差的增減法則 ，稱為 補(bǔ)色 法則，又稱 消色 法則 。 因一般切片的厚度都在 ， 只有雙折射率很高的切片才會(huì)出現(xiàn)高級(jí)白干涉色 ，如方解石的切片即可出現(xiàn)。 45度位置時(shí)最大，在該位置干涉色最明顯。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 白光是由 7種不同波長(zhǎng)的單色光組成，任何光程差（除零外 )，都不可能同時(shí)使各種色光抵消，出現(xiàn)黑色條帶， 也即不可能使七色光同時(shí)消失。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 干涉色和干涉色色譜表 1 .單色光的干涉 由光程差計(jì)算公式，當(dāng)切片厚度發(fā)生變化時(shí)，光程差也隨之發(fā)生變化，光程差的大小直接影響干涉結(jié)果。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 注解：關(guān)于光波干涉 2種偏光的 振幅有關(guān) ， 振幅越大、亮度越強(qiáng) 。 ?KI‘、 K2‘的振動(dòng)方向平行上偏光鏡的振動(dòng)方向 AA，可以透過(guò)上偏光鏡。 K K2在透過(guò)礦片的過(guò)程中， 必然產(chǎn)生光程差 ，以符號(hào) R表示。 ?由于偏光顯微鏡中的上、下偏光鏡振動(dòng)方向都是已知的 (以目鏡十字方向代表其方位 ), 可以確定礦片上光率體橢圓半徑的方向 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 ?當(dāng)?shù)V片光率體橢圓長(zhǎng)短半徑與上、下偏光鏡振動(dòng)方向 (AA， PP)平行 時(shí) 由下偏光鏡透出的振動(dòng)方向?yàn)?PP的偏光，進(jìn)入礦片后，其振動(dòng)方向與礦片上光率體橢圓切面半徑之一平行，在礦片中沿與 PP平行的半徑方向振動(dòng)，不改變?cè)瓉?lái)的振動(dòng)方向透出礦片 ，到達(dá)上偏光鏡之后，仍與上偏光鏡允許通過(guò)的振動(dòng)方向 AA垂直，不能透過(guò)上偏光鏡， 故使礦片消光 。 光波垂直這兩種切面入射，不發(fā)生雙折射，也不改變?nèi)肷涔獾恼駝?dòng)方向 ，下偏光透過(guò)礦片后，振動(dòng)方向不改變，不能透出偏光鏡，使礦片呈現(xiàn)為 黑色 （消光）。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 透明礦物在正交偏光鏡下的光學(xué)性質(zhì) 正交偏光鏡， 就是除用下偏光鏡之外，再推入上偏光鏡，使上、下偏光鏡的振動(dòng)方向互相垂直。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 ?借助貝克線可以 判斷礦物突起的正負(fù) 。 ?原因分析 礦物的突起現(xiàn)象僅僅是 人們視力的一種感覺(jué) ，在同一薄片中，各個(gè)礦物表面實(shí)際上是在同一平面上。 ?糙面成因分析 礦物薄片表面呈現(xiàn) 顯微狀的凹凸不平 ， 覆蓋在礦片上樹(shù)膠的折射率又與礦片的折射率不同 。 （ 1)礦物的邊緣、貝克線概念 ?礦物的邊緣 在薄片中 2種折射率不同的物質(zhì)接觸 處，光線透過(guò)時(shí)可看到 比較黑暗 的邊緣，稱為 礦物的邊緣 ； ?貝克線 在礦物的 邊緣附近 可看到一條 比較明亮的細(xì)線 ， 升降鏡筒時(shí)亮線移動(dòng) ，該亮線稱為 貝克線或光帶 。 ?一軸晶礦物有 兩個(gè) 主要顏色，分別與主軸 Ne和 No相當(dāng)，稱為 二色性礦物 。 ?均質(zhì)體礦物 只有一種顏色，且顏色深淺無(wú)變化； ?非均質(zhì)體礦物的顏色及深淺隨 方向而改變 ， 在 單偏光下 旋轉(zhuǎn)物臺(tái)，非均質(zhì)體礦物的 顏色和深淺 都要發(fā)生變化 ，表現(xiàn)為 多色性和吸收性 。 (2)轉(zhuǎn)動(dòng)載物臺(tái)， 使一組解理縫平行十字絲的豎絲，記下載物臺(tái)讀數(shù)。 ?有解理的礦物，在薄片中不一定都能看到解理縫 ， 主要受切面方向的控制 。 ?當(dāng)切片方向與解理面斜交時(shí)，解理縫寬度大于真實(shí)寬度 ， 提升鏡筒，解理縫向兩邊移動(dòng)。 實(shí)例： 有些礦物雖有解理，但 由于折射率與樹(shù)膠相近 而在薄片中看不到解理或解理縫不明顯，如 長(zhǎng)石類礦物（ ） 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 2)完全解理 解理縫較 稀、粗，且不完全連貫 ， 如角閃石 (圖 2— 17a)。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 照片 4－ 1 磁鐵礦的自形晶結(jié)構(gòu) 反光 10 照片 4－ 2自形晶的磁鐵礦晶體 反光 10 25 項(xiàng)目成果簡(jiǎn)介 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 照片 4－ 4 磁鐵礦的他形晶 反光 單偏光 10 照片 4－ 3 磁鐵礦的半自形晶結(jié)構(gòu) 反光 單偏光 10 項(xiàng)目成果簡(jiǎn)介 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 許多礦物都具有解理，不同礦物 解 理的 組數(shù)、方向、完善程度及解理夾角 不同 ， 解 理是礦物鑒定的重要依據(jù) 。 （ 2)半自形晶 (b)： 晶形較完整，晶體 由 部分 發(fā)育完整的晶面和發(fā)育不完整的晶面包圍 ， 在薄片中呈不規(guī)則的多邊形 。 同一晶體不同方向的切面形狀和大小不同。 透反射偏光顯微鏡可在顯示屏上很方便地觀察 實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進(jìn)行編輯、保存和打印 。 b) 推入上偏光鏡，如果黑云母變黑暗 (消光 )說(shuō)明目鏡十字絲與上、下偏光鏡振動(dòng)方向一致； c) 如果黑云母不全黑， 則轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)使黑石母變黑暗 (消光 )。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 (2)下偏光鏡振動(dòng)方向的確定 采用 具有清晰解理的黑云母薄片 確定。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 5）偏光鏡的校正 在偏光顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng)中， 上下偏光鏡的振動(dòng)方向 應(yīng)當(dāng)互相垂直 ，而且在東西、南北方向上，分別平行于目鏡的十字絲 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 如果它們不在一條直線上，旋轉(zhuǎn)物臺(tái)時(shí)， 視域中心的物像繞某一中心旋轉(zhuǎn)，并把某些物像轉(zhuǎn)出視域之外。 注解： 物鏡與薄片之間的距離 稱 工作距離 ，常用。 a)將觀察的礦物薄片置于物臺(tái)中心，并用薄片夾子將薄片夾緊。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 轉(zhuǎn)盤(pán)型 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 2 ）調(diào)節(jié)照明 (對(duì)光 ) 裝上物鏡和目鏡后， 輕輕推出上偏光鏡和勃氏鏡，打開(kāi)鎖光圈，推出聚光鏡 。 在 觀察細(xì)小礦物的干涉圖 時(shí)，縮小光圈可擋去周圍礦物透出光的干擾，使干涉圖更清楚。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 上偏光鏡 ： 結(jié)構(gòu)與下偏光鏡相同，但其振動(dòng)面與下偏光鏡振動(dòng)面垂直 。 一般物鏡有低倍（ 4 ）、中倍（ 10 ，25 ）、高倍（ 40 ）及油浸鏡頭（ 100 ），使用時(shí)可以按需要選用不同放大倍率的物鏡。 光學(xué)筒長(zhǎng) ：物鏡后焦平面與目鏡前焦平面之間的距離稱 光學(xué)筒長(zhǎng) 。物臺(tái)外繞有 固定螺絲 ，用以固定物臺(tái)。其作用是把下偏光鏡透出的 平行光束聚斂成錐形偏光 ，不用時(shí)可以推向側(cè)面或下降。 從反光鏡反射來(lái)的自然光，通過(guò)下偏光鏡后，成為振動(dòng)面固定的偏光。 為使用方便，可以向后傾斜，但不宜傾斜過(guò)大，以防顯微鏡翻倒。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 偏光顯微鏡 偏光顯微鏡是研究 礦物晶體 光學(xué)性質(zhì)的重要儀器，與一般顯微鏡最主要區(qū)別是裝有 2個(gè)偏光鏡 。二軸晶光率體有 3個(gè)互相垂直的主軸面。 ?該類礦物有大、中、小 3個(gè)主折射率值，分別與互相垂直的 3個(gè)振動(dòng)方向相當(dāng)，以符號(hào) Ng、 Nm、 NP表示。 雙折射率大小介于零與最大雙折射率之間 。 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 ?平行光軸的切面 如圖 2— 4b 為 橢圓切面 ，其長(zhǎng)短半徑分別為 Ne和 No，光波垂直這種切面入射時(shí)，發(fā)生雙折射，分解形成 2個(gè)偏光，其振動(dòng)方向分別平行橢圓切面的長(zhǎng)短半徑，相應(yīng)的折射率分別等于橢圓切面的長(zhǎng)短半徑 Ne與 No。 No代表一軸晶礦物折射率的最大與最小值，稱 主折射率 。 如圖23b，該類光率體稱為 一軸晶負(fù)光性光率體 ，相應(yīng)的礦物稱 一軸晶負(fù)光性礦物 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 ?非均質(zhì)一軸晶光率體特征 中級(jí)晶族礦物晶體的 水平結(jié)晶軸單位相等 ，其水平方向上光學(xué)性質(zhì)相同，有 最大和最小 2個(gè)主折射率值 ， 以符號(hào) Ne和 No表示 。 注解 ： 光率體是 光波振動(dòng)方向與相應(yīng)折射率值 之間關(guān)系的一種 光性指示體 。 ?雙折射率 ： 2個(gè)方向偏光的折射率值之差稱為 雙折射率。 自然光射入均質(zhì)體后，仍為自然光；偏光射入均質(zhì)體后仍為偏光，其振動(dòng)方向基本不改變。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 光在均質(zhì)體與非均質(zhì)體中的傳播特點(diǎn) ?均質(zhì)體和非均質(zhì)體的概念 根據(jù)礦物的光學(xué)性質(zhì)，物質(zhì)可分為 均質(zhì)體和非均質(zhì)體 兩大類。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 只在垂直光傳播方向的 某一固定方向 上振動(dòng)的光波， 稱 平面偏振光 ，簡(jiǎn)稱偏振光或偏光 ，偏光振動(dòng)方向與傳播方向所構(gòu)成的平面稱 振動(dòng)面 。 在鑒定和研究透明礦物時(shí)，應(yīng)用最廣泛的方法就是 晶體光學(xué)法 ，也就是偏光顯微鏡研究方法。 目前鑒定和研究礦物的方法很多，從簡(jiǎn)單的肉眼鑒定到先進(jìn)的儀器分析。再以十字板分格為 4份，以對(duì)角二分作為縮分出的試樣。經(jīng)過(guò) 5— 6次的翻滾，就能使樣品充分混勻。 (2)環(huán)錐法： 用鐵鍬將圓錐形堆變成大圓環(huán)，然后再把圓環(huán)兩邊的試樣 堆成圓錐，反復(fù)數(shù)次，即可實(shí)現(xiàn)大量試樣的混勻。 tkdG ?工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 tkdG ?工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 ?工藝礦物學(xué)研究中常見(jiàn)的樣品處理方法 ?樣品混勻法 是縮分前重要的作業(yè)，常用的方法有 4種。當(dāng)樣品中的礦石顆粒附上礦泥后， 礦物的真實(shí)分布狀況將會(huì)部分或全部被掩蓋。 ?用于工藝礦物學(xué)研究的樣品 （ 鏡下觀察或儀器分析測(cè)試 ），根據(jù)工作需要從 塊狀樣中 抽取適當(dāng)數(shù)量的樣品，經(jīng)過(guò) 清洗 后，磨制成為可供鏡下觀察用的 光 (薄 )片 。 ?現(xiàn)場(chǎng)取樣時(shí)， 每種礦塊標(biāo)本 2— 3塊 ，規(guī)格 不小于100mm 70mm，對(duì)礦石物質(zhì)組成進(jìn)行比較全面系統(tǒng)的研究。 ?如果試樣為 G，則全礦區(qū)實(shí)際取樣重量不得小于 2G；一般試樣重 100－－ 200kg，個(gè)別可到 1t。（要與采礦人員密切配合） 工藝礦物學(xué)課件