【正文】 至正交 ： 推入上偏光鏡，視域黑暗，證明上、下偏光鏡振動方向正交。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 (2)下偏光鏡振動方向的確定 采用 具有清晰解理的黑云母薄片 確定。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 (3)調(diào)整目鏡十字絲，使其上、下偏光鏡振動方向一致（用黑云母薄片來調(diào)整）。 b) 推入上偏光鏡，如果黑云母變黑暗 (消光 )說明目鏡十字絲與上、下偏光鏡振動方向一致； c) 如果黑云母不全黑， 則轉(zhuǎn)動物臺使黑石母變黑暗 (消光 )。這時(shí)十字絲與上、下偏光鏡的振動方向一致。 透反射偏光顯微鏡可在顯示屏上很方便地觀察 實(shí)時(shí)動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進(jìn)行編輯、保存和打印 。 每一種礦物都有一定的結(jié)晶習(xí)性， 在不同條件下形成的礦物形態(tài)和結(jié)晶程度往往不同，研究礦物的形態(tài)可以研究礦物的成因 。 同一晶體不同方向的切面形狀和大小不同。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 根據(jù)晶體 晶面的發(fā)育程度 ,晶體的結(jié)晶程度分為： （ 1）自形晶（ a)： 晶形完好，晶體由發(fā)育完整的晶面包圍。 （ 2)半自形晶 (b)： 晶形較完整，晶體 由 部分 發(fā)育完整的晶面和發(fā)育不完整的晶面包圍 ， 在薄片中呈不規(guī)則的多邊形 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 （ 3） 他形晶 (c)： 晶形不完整，晶體由 發(fā)育不完整 的晶面組成，在薄片中 呈不規(guī)則圓粒狀 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 照片 4－ 1 磁鐵礦的自形晶結(jié)構(gòu) 反光 10 照片 4－ 2自形晶的磁鐵礦晶體 反光 10 25 項(xiàng)目成果簡介 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 照片 4－ 4 磁鐵礦的他形晶 反光 單偏光 10 照片 4－ 3 磁鐵礦的半自形晶結(jié)構(gòu) 反光 單偏光 10 項(xiàng)目成果簡介 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 許多礦物都具有解理，不同礦物 解 理的 組數(shù)、方向、完善程度及解理夾角 不同 ， 解 理是礦物鑒定的重要依據(jù) 。 由于 礦物折射率與樹膠折射率不同 ， 光通過時(shí)發(fā)生折射作用， 使這些細(xì)縫顯示出來 ， 礦物的解理在薄片中表現(xiàn)為一些平行的細(xì)縫，稱為 解理縫 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 2)完全解理 解理縫較 稀、粗，且不完全連貫 ， 如角閃石 (圖 2— 17a)。 注解：影響解理縫清晰度發(fā)育的因素 有關(guān) （內(nèi)因） 。 實(shí)例： 有些礦物雖有解理，但 由于折射率與樹膠相近 而在薄片中看不到解理或解理縫不明顯，如 長石類礦物（ ） 。 ?當(dāng)切片垂直解理面時(shí)，解理縫最窄，代表解理的真實(shí)寬度，提升鏡筒，解理縫不向兩邊移動 。 ?當(dāng)切片方向與解理面斜交時(shí)，解理縫寬度大于真實(shí)寬度 ， 提升鏡筒，解理縫向兩邊移動。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 ?當(dāng)切片夾角增大到一定程度 ,解理縫就看不見了，該夾角為 解理縫的可見臨界角。 ?有解理的礦物，在薄片中不一定都能看到解理縫 ， 主要受切面方向的控制 。 解理夾角在礦物晶體中是確定的，在切片中由于切片方向不同，其解理角大小有一定差別， 只有同時(shí)垂直于 2組解理面的切面才能反映出 2組解理的真正夾角 。 (2)轉(zhuǎn)動載物臺， 使一組解理縫平行十字絲的豎絲，記下載物臺讀數(shù)。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 、吸收性 礦物的顏色是由光波透過礦片時(shí)經(jīng)礦物的 選擇性吸收 后 產(chǎn)生的。 ?均質(zhì)體礦物 只有一種顏色，且顏色深淺無變化； ?非均質(zhì)體礦物的顏色及深淺隨 方向而改變 ， 在 單偏光下 旋轉(zhuǎn)物臺，非均質(zhì)體礦物的 顏色和深淺 都要發(fā)生變化 ，表現(xiàn)為 多色性和吸收性 。 ?吸收性 礦物的 顏色深淺 發(fā)生變化的現(xiàn)象。 ?一軸晶礦物有 兩個(gè) 主要顏色，分別與主軸 Ne和 No相當(dāng)，稱為 二色性礦物 。 實(shí)例 ：對于二軸晶礦物角閃石，多色性公式為： Ng＝深綠色、 Nm＝綠色、 Np＝淺黃綠色，吸收性公式為： Ng ＞ Nm ＞ Np，為 正吸收 ，反之為 反吸收 。 （ 1)礦物的邊緣、貝克線概念 ?礦物的邊緣 在薄片中 2種折射率不同的物質(zhì)接觸 處，光線透過時(shí)可看到 比較黑暗 的邊緣，稱為 礦物的邊緣 ； ?貝克線 在礦物的 邊緣附近 可看到一條 比較明亮的細(xì)線 ， 升降鏡筒時(shí)亮線移動 ，該亮線稱為 貝克線或光帶 。 據(jù)此規(guī)律可以 判斷相鄰兩物質(zhì)折射率的相對大小。 ?糙面成因分析 礦物薄片表面呈現(xiàn) 顯微狀的凹凸不平 ， 覆蓋在礦片上樹膠的折射率又與礦片的折射率不同 。 兩者折射率相差愈大，礦片表面的磨光程度愈差，其糙面愈明顯。 ?原因分析 礦物的突起現(xiàn)象僅僅是 人們視力的一種感覺 ，在同一薄片中，各個(gè)礦物表面實(shí)際上是在同一平面上。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 ?礦物與樹膠的折射率值相差愈大， 礦物的邊緣愈粗，糙面愈明顯，則礦物顯得突起很高，否則相反。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 ?借助貝克線可以 判斷礦物突起的正負(fù) 。 ?根據(jù)礦片邊緣、糙面的明顯程度及突起的高低，將 突起等級劃分為 6個(gè)級 ， 如圖 2－ 21和表 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 小結(jié)： 礦物的邊緣、糙面的明顯程度以及突起高低， 都是 反映礦物折射率與樹膠折射率的差值大小 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 透明礦物在正交偏光鏡下的光學(xué)性質(zhì) 正交偏光鏡， 就是除用下偏光鏡之外，再推入上偏光鏡，使上、下偏光鏡的振動方向互相垂直。 正交偏光鏡下礦片的消光現(xiàn)象及消光位 ?消光現(xiàn)象概念 礦片在 正交偏光鏡間變黑暗 的現(xiàn)象，稱為消光現(xiàn)象。 光波垂直這兩種切面入射，不發(fā)生雙折射，也不改變?nèi)肷涔獾恼駝臃较?，下偏光透過礦片后，振動方向不改變，不能透出偏光鏡，使礦片呈現(xiàn)為 黑色 （消光）。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 ?在正交偏光鏡間，放置非均質(zhì)體除垂直光軸切片以外的其他方向切片。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 ?當(dāng)?shù)V片光率體橢圓長短半徑與上、下偏光鏡振動方向 (AA， PP)平行 時(shí) 由下偏光鏡透出的振動方向?yàn)?PP的偏光，進(jìn)入礦片后，其振動方向與礦片上光率體橢圓切面半徑之一平行，在礦片中沿與 PP平行的半徑方向振動，不改變原來的振動方向透出礦片 ，到達(dá)上偏光鏡之后，仍與上偏光鏡允許通過的振動方向 AA垂直，不能透過上偏光鏡， 故使礦片消光 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 ?消光位概念： 非均質(zhì)體在正交偏光鏡間處于消光時(shí)的位置稱為 消光位 。 ?由于偏光顯微鏡中的上、下偏光鏡振動方向都是已知的 (以目鏡十字方向代表其方位 ), 可以確定礦片上光率體橢圓半徑的方向 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 均質(zhì)體或非均質(zhì)體 垂直光軸的切片 非均質(zhì)體光率體橢圓半徑與上、下偏光鏡振動方向 (AA、 PP)平行） 消光 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 當(dāng)非均質(zhì)體礦片上光率體橢圓半徑 KI、 K2與上、下偏光鏡振動方向 (AA、 PP)斜交時(shí) ， ?由下偏光鏡透出的振動方向平行 PP的偏光，進(jìn)入礦片后，發(fā)生雙折射 ,分解形成振動方向平行 K K2的 2種偏光。 K K2在透過礦片的過程中， 必然產(chǎn)生光程差 ，以符號 R表示。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 ?K K2兩種偏光的振動方向與上偏光鏡振動方向斜交， 當(dāng) Kl、 K2先后進(jìn)入上偏光鏡時(shí)，必然 再度發(fā)生分解 ，形成 KI‘、 K2‘、 K1‘‘、 K2‘’ 4種偏光。 ?KI‘、 K2‘的振動方向平行上偏光鏡的振動方向 AA，可以透過上偏光鏡。 干涉的結(jié)果取決于兩偏光之間的光程差 R。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 注解：關(guān)于光波干涉 2種偏光的 振幅有關(guān) ， 振幅越大、亮度越強(qiáng) 。 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 干涉色和干涉色色譜表 1 .單色光的干涉 由光程差計(jì)算公式，當(dāng)切片厚度發(fā)生變化時(shí)，光程差也隨之發(fā)生變化，光程差的大小直接影響干涉結(jié)果。 石英最大雙折射率 Ne－ No＝ ， 光程差只隨 石英楔厚度 的加大而增加 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 白光是由 7種不同波長的單色光組成，任何光程差（除零外 )，都不可能同時(shí)使各種色光抵消，出現(xiàn)黑色條帶， 也即不可能使七色光同時(shí)消失。 注解 ：關(guān)于干涉色 1. 在正交偏光鏡下，白色光通過非均質(zhì)體礦物的切片時(shí)，由光波干涉所形成的不同強(qiáng)度色光的混合色， 不是礦物的體色 。 45度位置時(shí)最大，在該位置干涉色最明顯。 這種 由低到高有規(guī)律的變化，就構(gòu)成了干涉色級序 。 因一般切片的厚度都在 ， 只有雙折射率很高的切片才會出現(xiàn)高級白干涉色 ，如方解石的切片即可出現(xiàn)。 色譜表 的水平方向表示光程差 R值的大小，用納米作單位；垂直方向表示薄片的厚度 d，用微米作單位，通過坐標(biāo)原點(diǎn)的斜線表示 雙折射率大小 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 補(bǔ)色法則和補(bǔ)色器 (消色法則 )概念 在正交偏光鏡間放置 2個(gè)非均質(zhì)體任意方向的切片，在 45度位置時(shí) ， 光通過兩切片后 總的光程差的增減法則 ，稱為 補(bǔ)色 法則，又稱 消色 法則 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 將 2個(gè)切片 分別放在正交偏光鏡間的物臺上和試板孔中 ，使之正好重疊。 總光程差 R是增大還是減小，取決于兩切片重疊的方式 ，有 2種情況。其 R反映的干涉色比原來兩切片各自的干涉色都高 。 (2)當(dāng)兩切片重疊時(shí)，異名軸平行，光透過兩切片后，產(chǎn)生的總光程差 R＝ R1一 R2， R所反映的干涉色或比原來兩切片都低或比其中某一切片的干涉色低 。 若 R1＝ R2．則 R＝ R1一 R2＝ 0，此時(shí)光程差互相抵消， 切片消色而出現(xiàn)補(bǔ)償黑帶 。 偏光顯微鏡中所附設(shè)的 補(bǔ)色器 ，就是巳知光率體橢圓半徑名稱和光程差的切片。常用的類型有 石膏試板、云母試板、石英楔 3種。 2）云母試板在正交鏡間產(chǎn)生 一級灰干涉色 ，其光程差為 147nm，可使被測切片的干涉色升高或降低一個(gè)色序， 適用于干涉色較高的礦片 。 將礦片放在載物臺上， 從試板孔中插入石英楔，若石英楔和切片同名軸平行，則切片的干涉色逐漸升高； 若異名軸平行，切片的干涉色不斷降低，當(dāng)插到兩者的光程差相等處，切片消色而出現(xiàn)補(bǔ)償黑帶，表示光程差相抵消。 ? 因 試板上光率體橢圓半徑的名稱和方向已知 ，據(jù)此可確定切片上光率體橢圓半徑的名稱和方向。 ?若升高則旋轉(zhuǎn) 90度，重新插入觀察，若降低，則繼續(xù)慢慢插入， 直到礦片出現(xiàn)補(bǔ)償黑帶時(shí)停止插入 。 工藝礦物學(xué)課件 適用專業(yè)：礦物加工工程 ?雙折射率測定 當(dāng)切片的干涉色級序測定以后，就可從 色譜表上 查出光通過切片后所產(chǎn)生的光程差 R，一般薄片厚度為 ， 雙折射率值就可在色譜表上直接查出；或者根據(jù)光程差公式求出雙折射率 。 因此 切片消光時(shí)，目鏡十字絲就代表礦片上光率體橢圓半徑方向。 消光角的測定方法： ?將切片中解理縫或雙晶縫平行目鏡豎十字絲，記下物臺讀數(shù)。記下物臺讀數(shù)；前