【正文】 注：如果某些子組的樣本容量與平均樣本容量的差超過正負 25%，按下式重新計算其準確的控制限： ◆ U/LSLu = u 177。3 C （同 P管制圖） 固定樣本容量為 n 的過程能力為其不合格數(shù)的平均值 C. ◆ （缺陷）數(shù)的 u圖 u圖用來測量具有不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組 內(nèi)每檢驗單位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量（可以用 不良率 表示） . ，盡量使它的容量在其平 均值的正負擔過重 25%以內(nèi)，可以簡化控制限的計算 . （ u） u=c / n 式中 : C為發(fā)現(xiàn)的不合格數(shù)量， n為子組中樣本的容量。 1324 過程控制解釋和過程能力解釋 同 p管制圖 ◆ （缺陷）數(shù)的 c 圖 C圖用來測量一個檢驗批內(nèi)的不合格（的缺陷）的數(shù)量， C圖 要求樣本的容量恒定或受檢驗材料的數(shù)量恒定，主要用于以 下兩類檢驗： （如：每條尼龍上的瑕疵， 玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點），以及可以用不合 格的平均比率表示的地方（如 100平方米上的缺陷） 。 。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除） 2/3以上的描點落在離均值很近之處（對于 25子組， 如果只有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域）則應對下列情況的一種 或更多進行調(diào)查： 控制限或描點計算錯描錯 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個不 同平均性能的過程流的測量 ◆ 當有任何變差時，應立即進行分析，以便識別條件并防止 再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的， 希望操作者和檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。 ◆ 13計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 （ 7點） ,通常表明存在下列情 況之一或兩者。 測量系統(tǒng)變化（如：不同的檢驗員或量具）。 3 p ( 1 – p ) / n 過程平均 （ P） 為水平實線 ， 控制限 （ USL； LSL） 為虛線 。 25%的樣本容量范圍。 “ 備注 ” 部分記錄過程的變化和可能影響過程的異 常情況 。 一般為 25組 。見下表： ◆ （ XMR） n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 注： 只有過程受控，才可直接用 δ 的估計值來評價過程能力。 （ MR） 的刻度間隔與 X 圖一致 。 ： 12 數(shù)據(jù)收集 （ 基本同 XR ） ， 從左到右記錄單值的讀數(shù) 。 :操作者與每個子組的最大標記點和最小標記 點進行比較，用窄垂直框圈上超出膠片控制限的子組。 （同 XR） 估計過程標準偏差： δ= R / d2 注：只有中位數(shù)和極差處于受控狀態(tài)，才可用 δ 的估計值來評價過程 能力。 ，圈上子組的中位數(shù)， 并連接起來。見下表： 當需要計算過程能力時；將 σ 帶入 XR圖 42的公式即可。 注： s 圖的刻度尺寸應與相應的 X圖的相同 。 ≤ Cpk≤ ,說明制程能力正常。 UCL –X 3 σ X – LCL 3 σ ? ?= = ◆ （ XR） ：（ PZ ） a 對于單邊容差，直接使用 Z值查標準正態(tài)分布表，換算成 百分比。 9921 對于單邊容差，計算： Z=(USLX) / σ? 或 Z=(XLSL) / σ? （ 選擇合適的確一個） 注：式中的 SL=規(guī)范界限， X=測量的過程均值， σ? = 估計的 過程標準偏差。方法如下： b –（用 σ ? 表示），用現(xiàn)有的子組容量計算： σ ? = R/d2 式中 R為子組極差的均值 (在極差受控期間 ), d2 為隨樣本容量變化的常數(shù)，如下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 _ ◆ （ XR） b –2. 按照新的子組容量查表得到系數(shù) d2 、 D D4 和 A2， 計算新的極 差和控制限： R新 = σ ? d2 UCLR = D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X– A2 R新 將這些控制限畫在控制圖上。 ◆ （ XR） UCL X LCL 均值失控的過程（點離過程均值太近） 均值失控的過程（點離控制限太近） = UCL X LCL = ◆ （ XR） （均值圖） 程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)， 防止再發(fā)生。 2/3以上的描點落在離 R很近之處 （ 對于 25子組 ， 如果超過90%的點落在控制限的 1/3區(qū)域 ） ， 則應對下列情況的一種或更多進行調(diào)查： ， 每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或個具有 完全不同的過程均值的過程流的測量值 （ 如：從幾組軸中 ， 每組 抽一根來測取數(shù)據(jù) 。 （例如：不同的量具或 QC） ◆ （ XR） 不受控制的過程的均值（有一點超過控制限） 受控制的過程的均值 UCL LCL X UCL LCL X ◆ （ XR） 952 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： 連續(xù) 7點在平均值一側(cè)或 7點連續(xù)上升或下降 。A2R. 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是 “ 丟棄壞數(shù)據(jù) ” 。 ，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開始分析過 程原因。 ,每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多個具有完全 不同的過程均值的過程流的測量值 (如：從幾組軸中，每組抽一根來測 取數(shù)據(jù)）。 注 2：標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸 到鏈的開始點，分析時應考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。 a2 測量系統(tǒng)的改變 （ 如新的檢驗人或新的量具 )。 注 1： R 圖和 X 圖應分別分析，但可進行比較，了解影響過程 的特殊原因。 ◆ （ XR） 平均極差和過程均值用畫成實線?？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。 X 和 R點在縱向是對應的。 n 表示子組樣本容量 91選擇控制圖的刻度 X 和 R 的測量值。對正在生產(chǎn)的產(chǎn) 品進行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時一 次等。 注：應制定一個收集數(shù)據(jù)的計劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。 c、 確定待控制的特性 應考慮到： 顧客的需求 當前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關(guān)系 ◆ d、 確定測量系統(tǒng) 、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設(shè)備或量具。 預測 目標直線 時間 范圍 預測 如果存在變差的特殊原因 , 隨著時間的推移 ,過程的輸 出不穩(wěn)定。只有過程變差的普通原因存在且不 改變時，過程的輸出才可以預測。 過程能力 (Process Capability) 是指按標準偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離，用 Z來表示。 變差（ Variation） 過程的單個輸出之間不可避免的差別；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。 ◆ 名稱 解釋 中心線（ Central Line） 控制圖上的一條線，代表所給數(shù)據(jù)平均值。 ◆ 名稱 解釋 平均值（ X） 一組測量值的均值 極差 (Range） 一個子組、樣本或總體中最大與最小值之差 σ （ Sigma） 用于代表標準差的希臘字母 標準差 (Standard Devia